Forte de son expérience en matière de développement de systèmes optiques et d’imagerie numérique de pointe, Olympus est capable de proposer des microscopes à la qualité optique et à la précision de mesure inégalées.
Les objectifs jouent un rôle essentiel dans la performance d’un microscope. Les nouveaux objectifs MXPLFLN ajoutent de la profondeur à la série MPLFLN pour l’imagerie par épi-éclairage en maximisant simultanément l’ouverture numérique et la distance de travail. Des résolutions élevées à des agrandissements de 20X et 50X sont généralement synonymes de distances de travail plus courtes, ce qui oblige à rétracter l’échantillon ou l’objectif pendant l’échange d’objectifs. Dans de nombreux cas, la distance de travail de 3 mm de la série MXPLFLN élimine ce problème, ce qui permet des inspections plus rapides avec moins de risque de toucher l’échantillon.
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Les performances optiques des lentilles d’objectif ont un impact direct sur la qualité des images d’observation et les résultats d’analyse. Les objectifs à fort grossissement UIS2 d’Olympus sont conçus pour réduire au minimum les aberrations de front d’onde, offrant ainsi des performances optiques fiables.
Mauvais front d’onde | Chromatisme correct (objectif UIS2) |
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La série MX63 utilise une source lumineuse à DEL blanche de haute intensité pour la réflexion et la transmission de l’éclairage. La DEL maintient une température constante des couleurs, quelle que soit l’intensité, pour garantir la fiabilité de la qualité des images et de la reproduction des couleurs. Le système d’éclairage par DEL fournit un éclairage efficace et durable, qui est idéal pour les applications de sciences des matériaux.
La couleur varie avec l’intensité lumineuse.
La couleur est cohérente avec l’intensité lumineuse et est plus claire qu’avec une lumière halogène.
* Toutes les images sont saisies avec une exposition automatique.
Tout comme avec les microscopes numériques, l’étalonnage automatique est possible lors de l’utilisation du logiciel PRECiV. Il aide à éliminer la variabilité attribuable au facteur humain dans les processus d’étalonnage, ce qui se traduit par une fiabilité accrue des mesures. Cette fonction utilise un algorithme qui calcule automatiquement l’étalonnage adéquat à partir d’une moyenne de multiples points de mesure. Cela permet de réduire au minimum la variance induite par les différents opérateurs et de maintenir une précision homogène. Résultat : les vérifications régulières sont plus fiables.
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Le logiciel PRECiV comprend une fonction de correction d’ombrage pour traiter les ombres présentes dans les coins d’une image. Utilisée avec des réglages de seuil d’intensité, la correction d’ombrage permet d’obtenir une analyse plus précise.
Wafer semi-conducteur (image binarisée)
Image de droite : Correction de l’ombrage assurant un éclairage homogène de l’ensemble du champ d’observation.