9.6 相控阵
Ce tutoriel a traité de la recherche de défauts par ultrasons conventionnels avec des sondes monoélément et à émission-réception séparées. Mais au fur et à mesure que la technologie CND avance, des systèmes à ultrasons multiéléments utilisant des sondes multiéléments sophistiquées de 256 éléments, voire plus, sont de plus en plus utilisés dans les contextes industriels. Ce systèmes offrent des niveaux d’information et de visualisation sans précédent dans les inspections par ultrasons courantes, notamment l’inspection des soudures, des composites, des mesures d’épaisseur et la recherche de défauts en service.
Les avantages de la technologie des multiéléments comparativement à la technologie des ultrasons conventionnels viennent de la possibilité d’utiliser plusieurs éléments assemblés dans une seule et même sonde pour orienter, focaliser et balayer les faisceaux. La déflexion des faisceaux, communément appelée balayage sectoriel, peut servir à cartographier les composants selon les bons angles. L’inspection de composants de formes complexes peut ainsi être nettement simplifiée. La petite surface de contact de la sonde et la possibilité de balayer le faisceau sans avoir à déplacer la sonde facilitent l’inspection de ces pièces lorsque l’accès limité à la pièce rend difficile le balayage mécanique. Le balayage sectoriel est aussi souvent utilisé pour l’inspection des soudures. La possibilité d’inspecter les soudures sous plusieurs angles avec une seule sonde augmente considérablement les probabilités de détection des anomalies. La focalisation électronique permet d’optimiser la forme et la taille du faisceau à l’emplacement où l’on s’attend à trouver une indication, et améliore encore davantage la probabilité de détection. Les possibilités de focalisation à différentes profondeurs améliorent également la capacité d’évaluer la taille des indications critiques lors des inspections volumétrique. La focalisation peut nettement améliorer le ratio signal sur bruit dans les applications difficiles et le balayage électronique d’un grand nombre de groupes d’éléments permet de produire très rapidement des C-scans.
Pour plus de renseignements sur l’inspection par ultrasons multiéléments, veuillez consulter la petite section Introduction aux ultrasons multiéléments et la section plus approfondie Tutoriel sur les ultrasons multiéléments.
