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Analisi rapida dei difetti

Analisi dei wafer per semiconduttori utilizzati nei dispositivi ad alta frequenza

I semiconduttori compositi possono eseguire elaborazioni ad alta velocità e alta tensione, condizioni perfette per le applicazioni 5G. Poiché si tratta di componenti per dispositivi elettronici importanti, l'ispezione dei difetti è fondamentale.

Analisi dei wafer per semiconduttori utilizzati nei dispositivi ad alta frequenza

Complessità di misurazione dei semiconduttori di wafer

L'ispezione dei wafer in genere è eseguita con i microscopi metallografici. Una delle comuni problematiche è la perdita di inquadratura di un difetto al cambio dell'obiettivo di ingrandimento.

Imaging flessibile per una rapida misurazione del wafer

Il microscopio digitale DSX1000 consente il passaggio da un tipo di osservazione a un altro, come il contrasto d'interferenza differenziale, semplicemente premendo un tasto. Inoltre, lo zoom ottico del microscopio consente il passaggio continuo da imaging macro a micro per non perdere l'inquadratura del difetto.

Osservazione DIC di difetto del wafer

Osservazione DIC di difetto del wafer

Osservazione DIC di difetto del wafer:
metodo di osservazione adeguato alla visualizzazione di irregolarità nanometriche, corpi estranei e graffi.

Microscopio digitale DSX1000

Microscopio digitale DSX1000

Osservazione di residui fotoresistenti nei materiali dei semiconduttori

I materiali fotoresistenti hanno un ruolo importante nell'incisione per la formazione
del circuito.Il processo litografico di formazione del circuito si compone di applicazione, mascheratura, esposizione e rimozione del materiale fotoresistente. I residui di materiale fotoresistente possono essere un problema.

Osservazione di residui fotoresistenti nei materiali dei semiconduttori

Complessità nell'ispezione con microscopia ottica

Anche con un microscopio ottico è possibile la mancata individuazione di residui fotoresistenti. È importante scegliere un microscopio con caratteristiche adeguate a tale scopo.

Rilevamento semplificato dei residui fotoresistenti

Il microscopio metallografico verticale BX53M supporta l'osservazione in fluorescenza e rappresenta una semplice soluzione per il rilevamento dei residui organici fotoresistenti con proprietà di emissione luminosa. Per distinguere i residui fotoresistenti da altre contaminazioni si osservano le differenze delle caratteristiche di emissione.


Osservazione MIX (campo chiaro e campo scuro):

Rilevamento semplificato dei residui fotoresistenti

Materiale fotoresistente in un pattern di circuito integrato (IC)

Rilevamento semplificato dei residui fotoresistenti

Residui fotoresistenti su un campione di wafer

Microscopio metallografico verticale BX53M

BX53M
Microscopio metallografico verticale

Osservazione della condizione della stampa di guide d'onda ottiche di comunicazione

I produttori devono convalidare la condizione dello stampaggio delle guide d'onda ottiche, componenti utilizzati nelle comunicazioni ottiche. Poiché la guida d'onda ottica è circondata da vetro, non è possibile l'osservazione tramite illuminazione epi (luce riflessa) del microscopio. Per questa applicazione è indispensabile l'illuminazione trasmessa.

Osservazione della condizione della stampa di guide d'onda ottiche di comunicazione

Complessità dell'ispezione tramite microscopio digitale o di misura

È possibile osservare le guide d'onda ottica utilizzando un microscopio di misura a luce trasmessa o un microscopio digitale tradizionale, ma l'immagine osservata in genere risulta sfocata o poco chiara.

Osservazione nitida della condizione dello stampato

Se utilizzato con la fotocamera per microscopio digitale DP74, la funzione di interferenza differenziale e le elevate prestazioni ottiche del microscopio metallografico verticale BX53M consentono la chiara osservazione e acquisizione di immagini in alta risoluzione della condizione dello stampato di una guida d'onda ottica.

Osservazione nitida della condizione dello stampato

Microscopio metallografico verticale BX53M

BX53M
Microscopio metallografico verticale

Fotocamera per microscopio digitale DP74

DP74
Fotocamera per microscopio digitale

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