Misurazione della rugosità superficiale precisa e senza contatto

Foglio di rame per circuiti stampati

I circuiti stampati utilizzati nelle applicazioni 5G sono progettati per impedire attenuazioni di trasmissione. A tale scopo, la rugosità superficiale del foglio di rame del circuito deve essere ridotta al minimo.

Tradizionalmente, per il controllo della qualità di adesione del foglio di rame e del materiale organico si utilizzava la bagnabilità del lato del foglio di rame. Tuttavia, visti i miglioramenti dei circuiti stampati flessibili (FPC), è in costante crescita la richiesta di valutazione della rugosità superficiale del foglio di rame.

Wafer per dispositivi di onda acustica di superficie

I dispositivi di onda acustica di superficie utilizzano le vibrazioni trasmette tramite una superficie solida per estrarre determinati segnali dalle onde radio di fondo. Nelle applicazioni 5G ad alta frequenza, il retro del wafer viene irruvidito per disperdere le frequenze indesiderate.

Misurazione della rugosità con microscopio laser

Il microscopio di misura laser 3D OLS5100 3D consente misurazioni altamente accurate e senza contatto della rugosità superficiale di fogli di rame e wafer. per acquisire misurazioni della rugosità superficiale ad alta risoluzione in aree molto ridotte senza danneggiare la superficie del campione.

Misurazione 3D del foglio di rame

Misurazione della rugosità della superficie posteriore di un wafer di litio tantalato dopo l'irruvidimento del rame

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