Valutazione delle irregolarità delle superfici di schede di memoria

Misure a livello di micron mediante un microscopio laser

Scheda di memoria

(1) Applicazione

Le schede di memoria variano come dimensioni e sono ampiamente usate per archiviare contenuti di fotocamere digitali, telefoni cellulari, registratori, ecc. Le schede sono inserite negli slot di questi dispositivi e le irregolarità della superficie della scheda influisce sulla fluidità dell'operazione di inserimento. Visto che l'irregolarità della superficie delle schede influiscono sul loro valore commerciale, rappresenta un importante fattore di misura nell'ambito del controllo qualità. La realizzazione del controllo qualità, mediante i convenzionali misuratori di irregolarità, potrebbe evidenziare dei limiti di misura in quanto questi strumenti richiedono il contatto con la superficie da misurare e in genere misurano solamente l'altezza (irregolarità) lungo la sola linea di movimento.

(2) Soluzione

Il microscopio a scansione laser 3D LEXT OLS5000 Olympus permette una misura del profilo a alta risoluzione e a alta precisione senza entrare in contatto con la superficie da ispezionare. Questo strumento permette agli utenti di ottenere delle immagini chiare a alta risoluzione mediante un sistema ottico confocale. Il sistema utilizza dei parametri di irregolarità conformi alla norma ISO 25178 permettendo una valutazione della superficie senza contatto. La valutazione di un'ampia superficie è più adatta per irregolarità apparentemente aleatorie e fornisce maggiori informazioni di misura rispetto ai convenzionali misuratori di irregolarità che effettuano la misura lungo la sola linea di movimento. Il microscopio OLS5000 include la funzione standard automatica del tavolino che facilita l'acquisizione dei dati di punti multipli sulla superficie registrando le coordinate di misura e usando la funzione di unione (stitching) delle immagini.

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