Evident LogoOlympus Logo
资源库
应用说明
返回到资源库

Analizzatore a fluorescenza a raggi X (XRF) portatile per rivestimenti non cromatizzati


Analizzatore a fluorescenza a raggi X (XRF) portatile per rivestimenti non cromatizzati

Gli analizzatori XRF portatili Olympus forniscono un metodo rapido e non distruttivo per la determinazione precisa dello spessore di rivestimenti non cromatizzati. Queste misure devono rientrare in un intervallo di spessore per assicurare che strati successivi di vernice aderiscano in modo ottimale e che la componente sia protetta dalla corrosione.

Rivestimenti non cromatizzati

Le leghe in alluminio sono impiegate per i materiali da costruzione in ambito commerciale e residenziale. In seguito all'estrusione della lega, viene applicato un rivestimento per proteggerlo dalla corrosione e assicurare un'aderenza ottimale di strati successivi di vernice.

I rivestimenti cromatizzati erano molto diffusi in passato tuttavia il cromo esavalente comporta dei rischi per la salute e l'ambiente. Di conseguenza, l'Unione Europea ha vietato il commercio di questo tipo di rivestimento, inducendo la diffusione di rivestimenti alternativi come quelli non cromatizzati. Anche nei paesi dove è autorizzata la commercializzazione del cromo esavalente, numerosi architetti acquistano solamente materiale non cromatizzato visto che risultano più sicuri e più compatibili con l'ambiente.

I rivestimenti in titanio-zirconio (Ti-Zr) rappresentano delle alternative di rivestimenti non cromatizzati molto diffusi. Sebbene risultino più sicuri, sono anche incolori. Questo rende impossibile per l'operatore determinare visivamente se il rivestimento è stato applicato uniformemente e se lo spessore è corretto. Se lo spessore del rivestimento risulta elevato, l'aderenza potrebbe non essere ottimale, mentre se il rivestimento risulta eccessivamente ridotto, la lega in alluminio è maggiormente sensibile alla corrosione.

Analizzatori XRF portatili Vanta

Gli analizzatori XRF portatili Vanta forniscono un metodo rapido e non distruttivo per assicurare che il rivestimento è stato applicato uniformemente e che rientra nell'intervallo di spessore corretto. I dati riportati nella Figura 1 illustrano la precisione di analisi dei rivestimenti degli analizzatori XRF portatili Vanta.

Eccellente correlazione tra i risultati ottenuti mediante un analizzatore XRF Vanta Olympus e i materiali di riferimento rivestiti.
Figura 1 Eccellente correlazione tra i risultati ottenuti mediante un analizzatore XRF Vanta Olympus e i materiali di riferimento rivestiti.

Vantaggi degli analizzatori XRF Vanta

L'analizzatore XRF Vanta Olympus permette agli operatori di analizzare diversi materiali rivestiti, nei magazzini o nelle aree di deposito, in modo veloce e non distruttivo. Le caratteristiche includono:

  • Operatività continua a una temperatura di 50 °C
  • Grado di protezione IP55/IP54 per una resistenza allo sporco, ala polvere e alla pioggia
  • Resistente e costruito per passare il test di caduta da 1,2 m (MIL‑STD-810G) per contribuire a evitare guasti
  • Collegamento al Cloud per accedere e condividere i dati su piattaforme multiple da ogni posizione*


 

*Richiede una chiave wireless opzionale.

Analizzatore XRF Vanta

Olympus IMS

应用所使用的产品
Le serie di analizzatori XRF portatili Vanta™ rappresentano gli strumenti XRF portatili più recenti e potenti Olympus. Sono in grado di realizzare delle analisi elementari precise per i clienti che devono ottenere direttamente sul campo dei risultati di qualità di laboratorio. Gli analizzatori sono progettati per assicurare resistenza, un grado di protezione IP54 o IP55, e una conformità ai test di caduta, garantendo un maggiore tempo di operatività e un minore costo di proprietà.
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country