I nostri specialisti delle applicazioni a fluorescenza a raggi X (XRF) erano presenti all'ECNDT 2018 a Göteborg in Svezia per trattare diversi argomenti come l'analisi del vetro e la misura dello spessore dei rivestimenti.
Potete consultare di seguito gli articoli e le presentazioni per recuperare cosa vi siete persi.
Misura dei rivestimenti mediante gli analizzatori a fluorescenza a raggi X portatili
Relatori: Karen Paklin, Peter Faulkner e Dillon McDowell
Sintesi
Gli analizzatori a fluorescenza a raggi X portatili (HHXRF) possono essere usati per misurare gli spessori dei rivestimenti con vantaggi in termini di precisione e portabilità in confronto a altre tecnologie. L'analisi dei rivestimenti applicata su ampie superfici richiedono delle procedure distruttive per le analisi da banco. L'HHXRF permette di superare questo limite e fornisce una funzionalità non distruttiva di misura di spessore.
Una taratura integrata nell'analizzatore attraverso l'interfaccia utente facilita l'impiego di uno standard certificato e la determinazione precisa e accurata di fino a tre spessori di rivestimento. Le misure di spessore con gli HHXRF, le quali sono indipendenti dal materiale del substrato, permettono all'utente di analizzare liberamente qualunque rivestimento depositato di elementi dal titanio (Ti) al plutonio (Pu). Vista l'ampia capacità di analisi elementare, le procedure di determinazione della corrosione, adesione e usura dei rivestimenti da parte dei laboratori in prossimità dei siti di analisi possono trarre vantaggio dai risultati precisi ottenuti mediante gli HHXRF.
Gli aspetti di fisica legati all'analisi dei rivestimenti sono caratterizzati dalla legge di assorbimento di Lambert-Beer, dove l'intensità dei raggi X penetrati in un campione risulta maggiore all'inizio del primo strato ma diminuisce di intensità attraverso lo strato. Appena penetrato in
Monitoraggio di contaminanti da piombo e ceramica nei processi di riciclaggio del vetro mediante gli analizzatori a fluorescenza a raggi X portatili (HHXRF)
Relatori: Dillon McDowell e Alex Thurston
Sintesi
Gli impianti di recupero dei materiali (MRF - Material recovery facilities) in genere si avvalgono di sistemi di cernita ottici e magnetici per separare il vetro di scarto da il vetro riciclato. Tuttavia questi sistemi non sono efficaci per monitorare i costituenti in ceramica e piombo nei flussi di vetro di scarto. Questi contaminanti riducono il valore degli scarti per i produttori di vetro, in quanto implicano delle problematiche in termini di produzione e sicurezza. Gli analizzatori HHXRF sono largamente usati in diverse configurazioni di riciclaggio e produzione per fornire velocemente la composizione chimica per diversi elementi, anche in un intervallo compreso tra 1–10 ppm. Abbiamo confrontato le analisi di HHXRF di campioni preparati in vetro con gli standard di vetro analizzati in laboratorio utilizzati nell'ambito degli impianti produttivi di vetro e di recupero dei materiali. I nostri risultati mostrano che gli HHXRF possono rilevare perfino ridotte quantità (<100 ppm) di elementi in ceramica nei flussi di vetro e di scarti di vetro direttamente sul posto. I nostri risultati mostrano inoltre il rilevamento HHXRF di contaminanti in piombo e di agenti coloranti (Fe, Cu, ecc.) nei flussi di scarti di vetro. Abbiamo inoltre dimostrato che la stessa tecnica può essere applicata in sistemi di monitoraggio in linea di produzione per analizzare i flussi di materiale in relazione alle stesse costituenti.
Scarica l'articolo
Contenuto relativo
Questo vetro è idoneo? Uso degli analizzatori XRF per monitorare i contaminanti di ceramica e piombo
Modalità di aggiunta di modelli di rivestimento al proprio analizzatore Vanta
