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洞见博客

Gli analizzatori XRF portatili Vanta beneficiano del grafene

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Il rilevatore a raggi X del proprio analizzatore possiede un'apertura di ridotte dimensioni con una pellicola che permette l'ingresso dei raggi X e il raggiungimento del rilevatore. Senza questo elemento l'analizzatore non può funzionare. Il materiale della pellicola è importante e influisce sull'efficacia del dispositivo. Elementi leggeri, come magnesio, alluminio e silicio, attenuano i raggi X. Pertanto più la pellicola è leggera e sottile, più è facile il passaggio dei raggi X. Quindi più facile è il passaggio dei raggi X, migliore è la sensibilità dell'analizzatore XRF.

Per molto tempo la pellicola era fatta di berillio. Il berillio è molto leggero ma risulta fragile, tossico e difficile da produrre. Anche impatti leggeri possono danneggiare la pellicola e, nel caso si verifichi un danno, ha bisogno di essere sostituita. La maggior parte delle pellicole in berillio sono spesse almeno 8 micron.

I modelli VMRVanta sono adesso dotati di pellicole in grafene spesse solamente 0,9 micron, migliorando il rilevamento di elementi leggeri rispetto alle normali pellicole in berillio.

Pellicola in grafene Vanta

Vantaggi del grafene

Il grafene è costituito da carbonio e, anche se la pellicola è molto sottile, risulta estremamente forte. Le pellicole in grafene permettono ai raggi X di passare più velocemente, aumentando la sensibilità dell'analizzatore per i principali elementi di leghe leggere come magnesio (Mg), alluminio (Al), silicio (Si), e anche fosforo (P) e zolfo (S). Inoltre, contrariamente al berillio, il grafene non è tossico.

Di seguito gli eccezionali vantaggi del grafene dell'analizzatore XRF portatile modello VMR Vanta:

  • Rilevamento del magnesio (Mg) più veloce nelle leghe di alluminio (0,53% Mg in un'analisi di 3 secondi del fascio 2)
  • Raggiungimento di inferiori limiti di rilevamento per l'alluminio (Al) nelle leghe di nichel
  • Misura più veloce e con una maggiore precisione del silicio al di sotto di 1000 ppm in acciai basso legati
  • Misura del contenuto di fosforo (P) e zolfo (S) in acciai basso legati al di sotto di 0,035%

Contenuto relativo

Catalogo Vanta per il rilevamento degli elementi leggeri

Video:Progressi nell'ambito degli analizzatori Vanta e delle pellicole al grafene

Come i recenti progressi sugli analizzatori XRF portatili influenzano i controlli PMI di leghe

VANTA per PMI

Portable Products Manager, Analytical Instruments

Ted has worked at Olympus for more than 11 years and has overseen the introduction of numerous innovations to the XRF product lines with a focus on bringing laboratory-quality data to the portable market. Ted has a Master's degree in Applied Physics and holds four patents.

四月 3, 2018
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