Prima del lancio ufficiale del rilevatore di difetti phased array OmniScan™ X3, Olympus ha prestato uno strumento al Dipartimento specialistico IS dell'Institut de Soudure (un gruppo francese per l'ispezione delle saldature) per dare agli operatori l'opportunità di provarlo. Il Dipartimento specialistico IS supervisiona lo sviluppo di nuovi e innovativi metodi di controllo non distruttivo (NDT).
Uno specialista UT prova l'OmniScan X3 e fornisce una valutazione
Dopo aver realizzato alcune prove in laboratorio con lo strumento OmniScan X3, Manuel Tessier, ingegnere NDT e specialista nei controlli ultrasuoni oltre che nella diffrazione del tempo di volo (UT/TOFD), ha condiviso la sua visione sulle nuove funzionalità con il maggior potenziale per gli operatori. Ha infatti evidenziato i vantaggi offerti dalla funzionalità del metodo di focalizzazione totale multigruppo (TFM), il supporto potenziato della sonda Dual Linear Array e Dual Matrix Array, oltre allo strumento di modellazione della Mappatura di influenza acustica (AIM).
Il seguente è un estratto di un articolo apparso nel numero 69 della rivista Contrôles Essais Mesures (CEM) (tradotta dal francese).
Manuel Tessier, specialista NDT in UT/TOFD al laboratorio francese dell'Institut de Soudure mentre prova la funzionalità di imaging TFM del rilevatore di difetti OmniScan X3
 | “Siamo stati in grado di provare il TFM su diversi campioni di riferimento. I risultati sono probanti”.Manuel Tessier, specialista NDT in UT/TOFD all'Institut de Soudure, ha avuto l'opportunità di provare le nuove funzionalità dello strumento OmniScan X3 in un laboratorio, prima del lancio dello strumento. Di seguito proponiamo la sua intervista con la rivista CEM. |
CEM: Il vostro dipartimento all'Institut de Soudure utilizza quotidianamente degli strumenti OmniScan. Per cosa vengono utilizzati?
M. Tessier: Gli strumenti OmniScan sono delle apparecchiature che utilizziamo abitualmente. Gli apprezziamo per la loro compattezza, robustezza e affidabilità operativa. Tutti i nostri dipendenti sono formati sulle modalità d'uso di questa apparecchiatura e dei software dedicati. All'Institut de Soudure abbiamo circa 20 rilevatori di difetti di questo tipo. Nell'ambito dell'ispezione di saldature, di mappature, di misure di spessore, di caratterizzazione dei difetti e del rilevamento di diversi tipi di alterazioni, il Dipartimento specialistico IS, a cui appartengo, utilizza quotidianamente questi dispositivi nelle tecniche convenzionali (una sonda) o nei sistemi semi-automatici o automatici per l'ispezione di saldature, mediante una combinazione di TOFD e phased array.
“Lo strumento OmniScan X3 offre alcune opportunità interessanti in combinazione con queste sonde avanzate visto che possono essere usate per diverse applicazioni specifiche”.
CEM: utilizzate anche sonde specifiche?
M. Tessier: Usiamo anche questo strumento in combinazione con le sonde Dual Linear Array (DLA) o Dual Matrix Array (DMA). Uno dei vantaggi dell'OmniScan X3 è la facilità con la quale possiamo programmare questi tipi di sensori. Questo era meno fattibile con l'OmniScan MX2, in quanto, anche se supportava queste sonde, la loro programmazione non era semplice. L'unità OmniScan X3 offre alcune interessanti opportunità per queste sonde avanzate visto che possono essere usate per diverse applicazioni specifiche; le loro configurazioni delle leggi focali hanno un impatto rilevante. Questo significa che regolando le configurazioni è possibile modulare con precisione l'ispezione. L'integrazione di queste sonde con lo strumento rende possibile la configurazione dei parametri delle leggi focali direttamente dallo strumento. Nell'MX2 questa configurazione può essere realizzata solo in modo molto limitato. Per me questo rappresenta un ulteriore vantaggio.
CEM: Cosa pensi del TFM disponibile adesso nell'OmniScan X3?
M. Tessier: Anche il TFM è una funzionalità gradita. Fino ad adesso, abbiamo usato altri strumenti che avevano questa modalità di rilevamento dei difetti, specialmente per analisi più approfondite, visto che lo strumento OmniScan MX2 non può fornire i dati richiesti. Con il nuovo strumento OmniScan X3 non abbiamo più bisogno di altri rilevatori di difetti, in modo particolare nel rilevamento delle alterazioni di tipo HTHA. In questo modo possiamo evitare di trasportare diversi strumenti sul luogo di ispezione. Siamo stati in grado di provare il TFM su diversi campioni di riferimento. I risultati sono stati probanti. Sono impaziente di realizzare ulteriori prove con il TFM multigruppo, il quale offre la possibilità di usare fino a quattro gruppi simultanei. La funzionalità AIM (Mappatura dell'influenza acustica), la quale non esiste su altri strumenti, è un'altra funzionalità che trovo particolarmente interessante. Permette di simulare il fascio e di vedere l'interazione potenziale in una zona definita. Non è solamente utile ma rappresenta anche uno strumento formativo ottimale.
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Articolo tecnico: Mappatura dell'influenza acustica del TFM
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