概述
Semplificazione della microscopia avanzataProgettata per agevolare la modularità, la Serie BX3M offre la giusta versatilità in numerosi ambiti delle scienze dei materiali e delle applicazioni industriali. Grazie alla migliore integrazione con il software PRECiV, il BX53M offre un flusso di lavoro continuo per operatori di microscopia standard e imaging digitale, dall'osservazione alla creazione di report. Prova il BX53M |
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Scegli il modello miglioreLe sei configurazioni suggerite DEL BX53M offrono tutta a flessibilità di scelta delle caratteristiche in base alle proprie esigenze.
Maggior informazioni |
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Pratico e facile da usareIl BX53M semplifica le operazioni complesse dei microscopi attraverso i comandi progettati in modo ottimale e di facile uso. Gli utenti possono ottenere il massimo dal proprio microscopio senza il bisogno di partecipare a cicli formativi impegnativi. Inoltre la facilità e praticità operativa del BX53M permette di migliorare la riproducibilità minimizzando l'errore umano.
Maggior informazioni |
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FunzionaleIl BX53M applica i convenzionali metodi di contrasto della microscopia come il campo chiaro, il campo scuro, la luce polarizzata e il contrasto interferenziale. Con lo sviluppo dei nuovi materiali, numerose problematiche, associate al rilevamento dei difetti utilizzando i normali metodi di contrasto, possono essere risolte mediante le tecniche di microscopia avanzate in modo da garantire ispezioni più precise e affidabili. Con il software di analisi delle immagini PRECiV, le nuove tecniche e opzioni di illuminazione per l'acquisizione delle immagini forniscono agli utenti diverse modalità su come analizzare i campioni e presentare i risultati.
Maggior informazioni |
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Ottiche all'avanguardiaLa nostra storia nello sviluppo di ottiche avanzate ha permesso di produrre microscopi con un'eccellente precisione di misura e numerose ottiche di comprovata qualità.
Maggior informazioni | Controllo dell'aberrazione del fronte d'onda
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配置
Sistema modulare altamente affidabileLe sei configurazioni suggerite per il BX53M offrono la flessibilità di scegliere le caratteristiche in base alle proprie esigenze. |
Uso generale | Uso specifico | |||||||||
Di baseFacilità di configurazione con funzioni di base | Standard
Semplicità di utilizzo con
| AvanzatoSupporto di numerose funzionalità avanzate | Fluorescenza
Ideale per
| InfrarossiProgettato per l'osservazione infrarossa per ispezionare circuiti integrati | PolarizzazioneProgettato per l'osservazione di caratteristiche di birifrangenza | |||||
Filtro a colori LCD | Microstruttura con grani | Filo di rame di bobina | Resistenza su schema IC | Schema IC con strato di silicio | Amianto | |||||
Vedi le Specifiche tecniche
Di base | Standard | Avanzato | Fluorescenza | Infrarossi | Polarizzazione | |
Stativo | Riflessa o Riflessa/Trasmessa | Riflessa o Riflessa/Trasmessa | Riflessa | Trasmessa | ||
Standard | R-BF o T-BF | R-BF o T-BF o DF | R-BF o T-BF o DF o MIX | R-BF o T-BF o DF o FL | R-BF o IR | T-BF o POL |
Opzione | DIC | DIC MIX | DIC | DIC MIX | - | - |
Illuminatore semplice | - | - | - | - | ||
Legenda apertura | - | - | ||||
Hardware codificato | - | - | ||||
Indice della scala di messa a fuoco | ||||||
Light Intensity Manager | - | - | ||||
Funzionamento sistema di regolazione | - | - | ||||
Osservazione MIX | - | - | ||||
Obiettivi | Scegliere tra 3 tipi di obiettivi in base all'ambito di applicazione | Scegliere tra 3 tipi di obiettivi in base all'ambito di applicazione | Obiettivi per IR | Obiettivi per POL | ||
Tavolino | Scegliere tra 5 tipi di tavolini in base alla dimensione dei propri campioni | Scegliere tra 5 tipi di tavolini in base alla dimensione dei propri campioni | Tavolino per POL |
METODO DI OSSERVAZIONE
R-BF: Campo chiaro (Riflessa)
*T-BF può essere usato quando si sceglie uno stativo per microscopio a luce Riflessa/Trasmessa. : Standard
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Esempi di configurazione per le scienze dei materiali
La struttura modulare permette di adottare diverse configurazioni in base alle esigenze degli utenti.
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Combinazione della luce Riflessa e Riflessa/Trasmessa del BX53MEsistono due tipi di stativi nella serie BX3M, uno esclusivamente per la luce riflessa e uno per la luce riflessa in combinazione con la luce trasmessa. Entrambi gli stativi possono essere configurati con componenti in modalità manuale, codificata e motorizzata. Gli stativi sono dotati di funzionalità ESD per proteggere i campioni dati da componenti elettroniche. | Esempio di configurazione BX53MRF-S | Esempio di configurazione BX53MTRF-S |
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Combinazione IR del BX53MGli obiettivi IR possono essere usati per l'ispezione, la misura e l'elaborazione di semiconduttori dove immagini del silicio sono necessarie per analizzare lo schema. Gli obiettivi per infrarossi (IR) da 5X a 100X sono disponibili con la correzione dell'aberrazione cromatica dalle lunghezze d'onda della luce visibile all'infrarosso vicino. Per analisi che richiedono un elevato ingrandimento, ruotare il collare di correzione della serie di obiettivi LCPLNIR per le aberrazioni causate dallo spessore dei campioni. Un'immagine chiara si ottiene con un solo obiettivo. Fare clic qui per dettagli sugli obiettivi IR |
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Combinazione della luce polarizzata BX53MLe ottiche della luce polarizzata BX53M forniscono ai geologi gli strumenti ottimali per ottenere immagini a luce polarizzata ad alto contrasto. Le applicazioni come l'identificazione minerale, l'analisi delle caratteristiche ottiche di cristalli e l'osservazione di sezioni rocciose traggono vantaggio dalla stabilità del sistema e dall'allineamento ottico preciso. | Configurazione ortoscopica del BX53-P | Configurazione ortoscopica/conoscopica del BX53-P |
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Obiettivi Bertrand per osservazioni conoscopiche e ortoscopicheCon un accessorio di osservazione conoscopica U-CPA risulta semplice e veloce passare tra osservazione conoscopica e ortoscopica. È focheggiabile in modo da eliminare le interferenze del piano retrofocale. Lo stop di campo Bertrand permette di ottenere in modo affidabile delle immagini conoscopiche nitide e chiare. |
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Ampia gamma di compensatori e lamine d'ondaPer le misure di birifrangenza di sezioni sottili di rocce e minerali sono disponibili cinque diversi tipi di compensatori. Il livello del ritardo di misura varia da 0 a 20 λ. Per facilitare le misure e ottenere un elevato contrasto delle immagini, possono essere usati i compensatori Berek e Senarmont in modo da cambiare il livello di ritardo nell'intero campo visivo. |
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Campo di misura dei compensatori
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*R = livello di ritardo |
Ottiche strain-freeGrazie alla sofisticata struttura e alla tecnologia di produzione, gli obiettivi strain-free (liberi da tensioni) UPLFLN-P riducono le tensioni interne al minimo. Questo significa che un maggior valore EF produce un eccellente contrasto delle immagini. | Fare clic qui per dettagli sugli obiettivi UPLFLN-PFare clic qui per dettagli sugli obiettivi PLN-P / ACHN-P |
Sistema BXFMIl BXFM può essere adattato a applicazioni speciali o integrati in altri strumenti. La costruzione modulare fornisce un facile adattamento a ambienti specifici e permette di realizzare configurazioni con diversi illuminatori speciali di ridotte dimensioni e supporti di fissaggio. |
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Struttura modulare, personalizzazione del sistema |
StativiSono disponibili due stativi per luce riflessa; uno è inoltre per luce trasmessa. Un adattatore è disponibile per alzare l'illuminatore in modo da poter analizzare campioni più alti.
Pratici accessori da usare nell'ambito della microscopia
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SupportiPer le applicazioni di microscopia dove il campione non può essere sistemato sul tavolino, l'illuminatore e le ottiche possono essere installate su un supporto più ampio o su un'altra componente dell'apparecchiatura. Configurazione dell'illuminatore BX53M + BXFM
Configurazione dell'illuminatore U-KMAS + BXFM
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TubiPer l'osservazione di immagini in microscopi attraverso oculari o l'osservazione con fotocamere, scegliere tubi in base al tipo di immagini e la postura dell'operatore durante l'osservazione.
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IlluminatoriL'illuminatore proietta la luce sul campione in base al metodo di osservazione scelto. Il software si interfaccia con gli illuminatori codificati per acquisire la posizione del cubo e per riconoscere automaticamente il metodo di osservazione. |
Funzione codificata | Generatore di luce | BF | DF | DIC | POL | IR | FL | MIX | AS/FS | ||
1 | BX3M-RLAS-S | Posizione cubo 3 fissa | LED - integrato | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ |
2 | BX3M-URAS-S | Posizione cubo 4 fissabile | LED | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ |
Alogena | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | |||
Mercurio/Guida luce | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | ■ | |||
3 | BX3M-RLA-S | LED | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ | |
Alogena | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | |||
4 | BX3M-KMA-S | LED - integrato | ■ | - | ■ | ■ | - | - | ■ | - | |
5 | BX3-ARM | Braccio meccanico per luce trasmessa | |||||||||
6 | U-KMAS | LED | ■ | - | ■ | ■ | - | - | ■ | - | |
Alogena | ■ | - | ■ | ■ | ■ | - | ■ | - |
Generatori di luceGeneratori di luce e alimentatori per l'illuminazione dei campioni; scegliere il generatore di luce appropriato al metodo di osservazione. |
Configurazione standard del generatore di luce a LED
Configurazione del generatore di luce a fluorescenza
| Configurazione del generatore di luce alogeno e alogeno IR
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RevolverFissaggi per obiettivi e slitte. Scegliere il numero e il tipo di obiettivo in base alle necessità; inoltre con/senza fissaggio della slitta. |
Tipo | Fori | BF | DF | DIC | MIX | ESD |
Numero di
fori di centratura | ||
1 | U-P4RE | Manuale | 4 | ■ | ■ | 4 | |||
2 | U-5RE-2 | Manuale | 5 | ■ | |||||
3 | U-5RES-ESD | Codificato | 5 | ■ | ■ | ||||
4 | U-D6RE | Manuale | 6 | ■ | ■ | ||||
5 | U-D6RES | Codificato | 6 | ■ | ■ | ||||
6 | U-D5BDREMC | Motorizzato | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
7 | U-D6BDRE | Manuale | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
8 | U-D5BDRES-ESD | Codificato | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
9 | U-D6BDRES-S | Codificato | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
10 | U-D6REMC | Motorizzato | 6 | ■ | ■ | ||||
11 | U-D6BDREMC | Motorizzato | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
12 | U-D5BDREMC-VA | Motorizzato | 5 | ■ | ■ |
SlitteScegliere la slitta a completamento della convenzionale osservazione del campo chiaro. La slitta DIC fornisce delle informazioni topografiche sul campione con opzioni per massimizzare il contrasto o la risoluzione. La slitta MIX fornisce la flessibilità dell'illuminazione con un generatore di luce LED segmentato nel percorso del campo scuro. |
Slitta DIC
*1 1,25X e 2,5X non supporta l'osservazione DIC.
Slitta MIX
| Cavo
*Solamente MIXR |
Unità di controllo e sistemi di regolazioneUnità di controllo per interfacciare l'hardware del microscopio con un PC e i sistemi di regolazione per il controllo e la visualizzazione hardware. Configurazione BX3M-CB (CBFM)
Cavo
|
TavoliniTavolini e piattelli per tavolini per il posizionamento di campioni. Scelta in base alla dimensione e alla forma dei campioni. |
Configurazione del tavolino 150 mm × 100 mm
Configurazione del tavolino 76 mm × 52 mm
| Configurazione del tavolino 100 mm × 100 mm
Altri
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Adattatori per fotocameraAdattatori per l'osservazione con fotocamera. Scelta in base al campo visivo e all'ingrandimento necessari. L'attuale intervallo di osservazione può essere calcolato mediante la formula: attuale campo visivo (diagonale in mm) = campo visivo (numero visualizzato) ÷ ingrandimento dell'obiettivo. |
Ingrandimento | Regolazione della centratura | Area immagine CCD (Indice di campo) mm | ||||
2/3 pollici | 1/1,8 pollici | 1/2 pollici | ||||
1 | U-TV1X-2 con U-CMAD3 | 1 | - | 10,7 | 8,8 | 8 |
2 | U-TV1xC | 1 | ø2 mm | 10,7 | 8,8 | 8 |
3 | U-TV0.63xC | 0,63 | - | 17 | 14 | 12,7 |
4 | U-TV0.5xC-3 | 0,5 | - | 21,4 | 17,6 | 16 |
5 | U-TV0.35xC-2 | 0,35 | - | - | - | 22 |
OculariOculare per la visualizzazione diretta nel microscopio. Scelto in base al campo visivo desiderato.
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Filtri otticiI filtri ottici convertono la luce di esposizione del campione in diversi tipi di illuminazione. Scegliere il filtro appropriato in base alle esigenze di osservazione. |
BF, DF e FL
POL, DIC
| IR
Luce trasmessa
Altri
*AN e PO non sono necessari quando si usa il BX3M-RLAS-S e l'U-FDICR |
CondensatoriI condensatori acquisiscono e concentrano luce trasmessa. Uso per l'osservazione di luce trasmessa.
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Cubi per fluorescenzaCubi per fluorescenza per BX3M-URAS-S. Scegliere il cubo in rapporto alle esigenze di osservazione.
*Solamente per l'illuminazione episcopica coassiale |
Tubi intermediDiversi tipi di accessori per scopi multipli. Per l'uso tra tubo e illuminatore.
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Obiettivi UIS2Obiettivi che ingrandiscono il campione. Scegliere l'obiettivo che corrisponda alla distanza di lavoro, alla capacità di risoluzione e al metodo di osservazione per l'applicazione. |
简单易用
Semplicità nelle tecniche tradizionali:
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Comandi intuitivi del microscopio:
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Ottenere la messa a fuoco rapidamenteL'indice della scala di messa a fuoco sullo stativo permette un veloce raggiungimento del punto focale. Gli operatori possono regolare approssimativamente il punto focale senza vedere il campione attraverso un oculare, risparmiando tempo quando si ispezionano campioni con altezze diverse. |
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Funzionamento semplice e praticoLa struttura di un sistema influenza l'efficienza operativa dell'utente. Sia gli utenti che utilizzano unicamente i microscopi, sia quelli che utilizzano i microscopi in combinazione con il software di analisi delle immagini PRECiV beneficiano dell'uso di pratici comandi che mostrano chiaramente la posizione hardware. I semplici comandi permettono all'utente di concentrarsi sul campione e sull'ispezione che deve essere realizzata. |
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Per un'illuminazione invariata:
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Per il ripristino delle configurazioni del microscopio:
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功能
L'invisibile reso visibile:
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Creazione di immagini completamente a fuoco: EFILa funzione Extended Focus Imaging (EFI) del software PRECiV permette di acquisire immagini di campioni con altezze che superano la profondità di campo dell'obiettivo e di unirle insieme per creare un'immagine completamente a fuoco. La funzione EFI può essere eseguita mediante un asse Z manuale o motorizzato, inoltre crea una mappatura delle altezze facilitando la visualizzazione strutturale. In aggiunta è possibile costruire un'immagine EFI mentre si è offline con PRECiV Desktop. |
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Acquisizione delle aree chiare e scure: HDRMediante operazioni di elaborazione di immagini avanzata, la funzione HDR (High Dynamic Range - elevato campo dinamico), regola le differenze di luminosità di un'immagine per ridurre i riflessi. La funzione HDR migliora la qualità delle immagini digitali, facilitando la generazione di report dall'aspetto professionale. | Esposizione chiara per componenti scure e chiare mediante l'HDR (campione: iniettore di carburante) | Miglioramento del contrasto mediante HDR |
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Immagine MIA istantanea di una moneta | Semplice spostamento del tavolino per panorama: Instant MIAAdesso è possibile unire immagini velocemente e facilmente muovendo solamente le manopole XY sul tavolino manuale; non è necessario un tavolino motorizzato. Il software PRECiV utilizza la funzione di riconoscimento dello schema per generare un'immagine panoramica fornendo agli utenti un campo visivo più ampio rispetto a una singola immagine. |
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Versatilità di misurazione |
Funzioni di misurazione di routine o di basePRECiV offre diverse funzioni di misura in modo che l'utente possa facilmente ottenere dati utili dalle immagini. A fini di controllo qualità e ispezioni sono spesso necessarie le funzioni di misura sulle immagini. Tutti i tipi di licenze PRECiV includono le funzioni di misura interattive come: distanze, angoli, rettangoli, cerchi, ellissi e poligoni. Tutti i risultati di misura vengono salvati con i file di immagine per successive operazioni di documentazione. |
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Conteggio e misuraNell'ambito dell'imaging digitale le applicazioni più importanti sono il rilevamento degli oggetti e la misura della distribuzione dimensionale. PRECiV integra un sistema di rilevamento che utilizza i metodi delle soglie per separare in modo affidabile gli oggetti (es. particelle e graffi) dallo sfondo. |
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Soluzioni per le scienze dei materialiPRECiV integra un'interfaccia intuitiva e orientata sul flusso di lavoro per l'analisi di immagini complessi. Cliccando su un pulsante è possibile eseguire le più complesse operazioni di analisi delle immagini, in modo veloce, preciso e in conformità alla maggior parte delle norme industriali. Con una significativa riduzione dei tempi di esecuzione di operazioni ripetitive, i ricercatori specializzati nei materiali possono concentrarsi sull'analisi e la ricerca. Componenti aggiuntivi modulari da utilizzare in qualsiasi momento per inclusioni e grafici delle intercette. |
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Vista della superficie 3D (campione di analisi della rugosità) | Vista singola e misura del profilo 3D | Misure di campioni in 3DQuando si usa un sistema di controllo della messa a fuoco motorizzato esterno, un'immagine EFI può essere velocemente acquisita e visualizzata in 3D. I dati acquisiti delle altezze possono essere usate per misure 3D nel profilo o partendo dalla singola immagine della vista. |
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Maggior informazioni su PRECiV |
Vedi altri tipi e dimensioni di campioniIl nuovo tavolino 150 × 100 mm assicura una maggiore distanza nella direzione X rispetto ai precedenti modelli. Grazie a questa caratteristica, e al fatto di avere una struttura piana nella parte superiore, possono essere facilmente posizionati su tavolino diversi campioni o campioni di grandi dimensioni. Il piattello del tavolino integra dei fori filettati per fissare un supporto per campioni. Un tavolino di maggiori dimensioni permette agli utenti di ispezionare più campioni con un microscopio con un risparmio in termini di spazio in laboratorio. La regolazione della coppia del tavolino facilita il posizionamento preciso con un elevato ingrandimento e un campo visivo stretto. |
Flessibilità per l'altezza e il peso dei campioniI campioni con una dimensione massima di 105 mm possono essere posizionati sul tavolino con l'unità modulare opzionale. Grazie al migliore meccanismo di messa a fuoco, sul microscopio può gravare un peso totale (campione + tavolino) massimo di 6 kg. Questo significa che con il BX53M possono essere ispezionati campioni più grandi e pesanti, in modo da ridurre il numero di microscopi nel laboratorio. Posizionando in modo ottimale un supporto rotante per un decentramento di 15,24 cm (6 in.) dei wafer, gli utenti possono osservare l'intera superficie del wafer ruotando il supporto quando ci si sposta nell'ambito della corsa di traslazione di 100 mm. La regolazione della coppia del tavolino è semplice e la presa risulta ottimale in modo da facilitare l'inquadratura dell'area di interesse sul campione. | BX53MRF-S |
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BXFM | Flessibilità nella dimensione dei campioniQuando i campioni sono troppo grandi per posizionarli su un convenzionale tavolino da microscopio, le componenti ottiche dei microscopi a luce riflessa possono essere sistemate in base a una configurazione modulare. Grazie a questo sistema modulare, il BXFM, può essere installato su un supporto di maggiori dimensioni attraverso un'asta o installato su un altro strumento a scelta mediante una staffa di montaggio. Questo permette agli utenti di poter utilizzare le ottiche di qualità riconosciuta, anche quando i campioni hanno dimensioni e forme eccezionali. |
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Protezione dei dispositivi elettronici da scariche elettrostatiche: compatibilità ESDIl BX53M ha una capacità di dissipazione ESD in grado di proteggere i dispositivi elettronici da elettricità statica causata da fattori ambientali e umani. |
图像清晰
Una storia di ottiche all'avanguardia |
Combinazione di alta apertura numerica e lunga distanza di lavoro
Le lenti degli obiettivi sono fondamentali per le prestazioni di un microscopio.
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Maggior informazioni sugli obiettivi MXPLFLN |
Prestazioni ottiche di qualità superiore:
| Fronte d'onda non ottimizzato | Fronte d'onda ottimizzato (obiettivo UIS2) |
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Lampada alogena: Il colore varia con l'intensità luminosa | LED: il colore rimane invariato con l'intensità luminosa e appare più chiaro rispetto all'illuminazione con luce alogena. |
Temperatura del colore costante:
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Qualità superiore per prestazioni avanzate |
Supporto per la misura di precisione:
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Wafer semiconduttore (immagine binarizzata): |
Stitching uniforme:
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Maggior informazioni su PRECiV |
应用
Schema IC su un wafer semiconduttoreIl campo chiaro è utilizzato per rilevare graffi o difetti di lieve entità nei campioni o per eseguire un controllo dei campioni su superfici a specchio, ad esempio i wafer. Grazie all'illuminazione MIX, gli utenti possono visualizzare sia gli schemi che i colori. | MIX (campo chiaro + campo scuro) | Campo scuro |
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Fluorescenza | MIX (fluorescenza + campo scuro) | Residuo di fotoresist su un wafer semiconduttoreLa fluorescenza è impiegata per i campioni che emettono luce se illuminati con un filtro appositamente progettato. per il rilevamento di contaminazioni e residui fotoresistenti. L'illuminazione MIX permette l'osservazione dei residui fotoresistenti e dello schema IC. |
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Filtro a colori LCDQuesta tecnica di osservazione è adatta per campioni trasparenti come LCD, plastiche e materiali vetrosi. L'illuminazione MIX permette l'osservazione sia del colore del filtro sia del pattern del circuito. | Luce trasmessa | MIX (Luce trasmessa + Campo chiaro) |
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Campo chiaro | Contrasto interferenziale (DIC) | Ghisa a grafite sferoidaleIl DIC è una tecnica di osservazione dove l'altezza del campione è visibile in rilievo, in modo simile alle immagini 3D con contrasto migliorato; è ideale per le ispezioni di campioni che hanno differenze minime di altezze come i minerali e le strutture metallurgiche. |
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SericiteIl contrasto interferenziale (DIC) è una tecnica di osservazione dove l'altezza del campione, in genere non rilevabile nel campo chiaro, è visibile in rilievo, in modo simile alle immagini 3D con contrasto migliorato. È ideale per le ispezioni di campioni che hanno differenze minime di altezze come i minerali e le strutture metallurgiche. | Campo chiaro | Luce polarizzata |
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Infrarossi (IR) | Piazzole di unione su uno schema ICGli IR vengono utilizzati per la ricerca di difetti all'interno dei chip IC e di altri dispositivi con strato di silicio. |
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规格
SPECIFICHE TECNICHE DI CONFIGURAZIONE DEL BX53M PER USO GENERALE |
Di base | Standard | Avanzato | |||||||
Sistema ottico | Sistema ottico UIS2 (infinito corretto) | ||||||||
Unità principale | Stativo | BX53MRF-S (Riflessa) | BX53MTRF-S (Riflessa/Trasmessa) | BX53MRF-S (Riflessa) | BX53MTRF-S (Riflessa/Trasmessa) | BX53MRF-S (Riflessa) | BX53MTRF-S (Riflessa/Trasmessa) | ||
Messa a fuoco |
Corsa: 25 mm
Corsa precisa per rotazione: 100 μm Graduazione minima: 1 μm Con finecorsa superiore, regolazione della coppia per il sistema di regolazione macrometrico | ||||||||
Altezza massima del campione |
Riflessa: 65 mm (senza distanziale) e 105 mm (con BX3M-ARMAD)
Riflessa/trasmessa: 35 mm (senza distanziale) e 75 mm (con BX3M-ARMAD) | ||||||||
Tubo di osservazione | Campo ampio (FN 22) | U-TR30-2-2 Rovesciato: Trioculare | |||||||
Illuminazione |
Luce riflessa
Luce trasmessa | BX3M-KMA-S LED bianco, BF/DIC/POL/MIX FS, AS (con meccanismo di centratura), interlocking BF/DF | BX3M-RLAS-S Codificato, LED bianco, BF/DF/DIC/POL/MIX FS, AS (con meccanismo di centratura), interlocking BF/DF | ||||||
- | BX3M-LEDT LED bianco Condensatori di Abbe e ad ampia distanza di lavoro | - | BX3M-LEDT LED bianco Condensatori di Abbe e ad ampia distanza di lavoro | - | BX3M-LEDT LED bianco Condensatori di Abbe e ad ampia distanza di lavoro | ||||
Revolver | U-5RE-2 Per BF: Quintuplo | U-D6BDRE Per BF/DF: Sestuplo | U-D6BDRES-S Per BF/DF: Sestuplo, Codificato | ||||||
Oculare (FN 22) | WHN10
WHN10X-H | ||||||||
Osservazione MIX | - | BX3M-CB Unità di controllo BX3M-HS Sistema di regolazione U-MIXR-2 Slitta MIX per l'osservazione della luce riflessa U-MIXRCBL Cavo per MIXR | |||||||
Condensatore (Ampia distanza di lavoro) | - | U-LWCD | - | U-LWCD | - | U-LWCD | |||
Cavo di alimentazione | UYCP (x1) | UYCP (x2) | |||||||
Peso |
Riflessa: circa 15,8 kg (stativo 7,4 kg)
Riflessa/Trasmessa: circa 18,3 kg (stativo 7,6 kg) | ||||||||
Obiettivi | Serie MPLFLN | MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X e 100X Osservazione BF/POL/FL | - | ||||||
Serie MPLFLN BD | - | MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD e 100XBD Osservazione BF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
Serie MPLFLN-BD e LMPLFLN-BD | - | MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD e 100XBD Osservazione BF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
Serie MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD e LMPLFLN-BD | - | MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Osservazione BF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
Tavolino (X x Y) | Serie 76 mm x 52 mm | U-SVRM, U-MSSP Tavolino coassiale con sistema di regolazione a destra: 76 (X) × 52 (Y) mm, con regolazione della coppia | |||||||
Serie 100 mm x 100 mm | U-SIC4R2 e U-MSSP4 Tavolino coassiale di grandi dimensioni con sistema di regolazione a destra / 100 (X) × 100 (Y) mm, con regolazione della coppia e meccanismo di blocco dell'asse Y | ||||||||
Serie 100 mm x 100 (G) mm | U-SIC4R2 e U-MSSPG Tavolino coassiale di grandi dimensioni con sistema di regolazione a destra / 100 (X) × 100 (Y) mm, con meccanismo di blocco dell'asse Y (piattello in vetro) | ||||||||
Serie 150 mm x 100 mm | U-SIC64, U-SHG e U-SP64 Tavolino coassiale di grandi dimensioni con sistema di regolazione a destra / 150 (X) × 100 (Y) mm, con regolazione della coppia e meccanismo di blocco dell'asse Y | ||||||||
Serie 150 mm x 100 (G) mm | U-SIC64, U-SHG e U-SPG64 Tavolino coassiale di grandi dimensioni con sistema di regolazione a destra / 150 (X) × 100 (Y) mm, con regolazione della coppia e meccanismo di blocco dell'asse Y (piattello in vetro) | ||||||||
Opzione | Serie osservazione MIX* | BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2 e U-MIXRCBL | - | ||||||
DIC* | U-DICR | ||||||||
Tubi intermedi | U-CA, U-EPA2 e U-TRU | ||||||||
Filtri | U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-25IF550, U-25L42, U-25 e U-25FR | ||||||||
Filtro per condensatore | 43IF550-W45 e U-POT | ||||||||
Piattello per tavolino | U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65 e U-WHP2 | ||||||||
Fermavetrino | U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4 e U-HLDT-4 | ||||||||
Impugnatura in gomma | U-SHG e U-SHGT |
*Non può essere usato con l'U-5RE-2.
UNITÀ ESD BX53M / BXFM
Elementi | Stativo | BX53MRF-S, BX53MTRF-S |
Illuminatore | BX3M-KMA-S, BX3M-RLA-S, BX3M-URAS-S, BX3M-RLAS-S | |
Revolver | U-D6BDREMC, U-D6BDRES-S, U-D5BDREMC-ESD e U-5RES-ESD | |
Tavolino | U-SIC4R2 e U-MSSP4 |
SPECIFICHE TECNICHE DI CONFIGURAZIONE SUGGERITE DEL BX53M PER USO SPECIFICO |
Fluorescenza | Infrarossi | Polarizzata | |||||
Sistema ottico | Sistema ottico UIS2 (infinito corretto) | ||||||
Unità principale | Stativo | BX53MRF-S (Riflessa) | BX53MTRF-S (Riflessa/Trasmessa) | BX53MRF-S (Riflessa) | BX53MTRF-S (Riflessa/Trasmessa) | ||
Messa a fuoco |
Corsa: 25 mm
Corsa precisa per rotazione: 100 μm Graduazione minima: 1 μm Con finecorsa superiore, regolazione della coppia per il sistema di regolazione macrometrico | ||||||
Altezza massima del campione |
Riflessa: 65 mm (senza distanziale) e 105 mm (con BX3M-ARMAD)
Riflessa/trasmessa: 35 mm (senza distanziale) e 75 mm (con BX3M-ARMAD) | ||||||
Tubo di osservazione | Campo ampio (FN 22) | U-TR30-2 Rovesciato: Trioculare | U-TR30IR Rovesciato: Grandangolare per IR | U-TR30-2 Rovesciato: Trioculare | |||
Fissaggio intermedio per luce polarizzata (U-CPA) | Obiettivo Bertrand | - | - | Focheggiabile | |||
Stop di campo Bertrand | - | - | Diametro ø 3,4 mm (fisso) | ||||
Fissaggio o rimozione di obiettivi Bertrand per passaggio tra osservazione ortoscopica e conoscopica | - | - |
Posizione del cursore ● in
Posizione del cursore ○ out | ||||
Slot dell'analizzatore | - | - | Analizzatore rotante con slot (U-AN360P-2) | ||||
Illuminazione | Luce riflessa | Osservazione FL | BX3M-URAS-S Luce riflessa universale codificata, torretta portacubi a 4 posizioni, (standard: U-FWUS, U-FWBS, U-FWGS, U-FBF, ecc.) con FS, AS (con meccanismo di centramento) e con meccanismo dell'otturatore | - | - | ||
Osservazione IR | - | BX3M-RLA-S Lampada alogena da 100W per IR, BF/IR, AS (con meccanismo di centratura) U-LH100IR (inclusa HAL-L da 12 V 10 W) Generatore di luce alogeno da 100 W per IR TH4-100 Alimentazione a 100 W TH4-HS Sistema di regolazione U-RMT Prolunga | - | ||||
Luce trasmessa | Osservazione POL | - | - | BX3M-LEDT LED bianco Condensatori di Abbe e ad ampia distanza di lavoro | |||
Revolver | U-D6BDRES-S Per BF/DF: Sestuplo, Codificato | U-5RE-2 Per BF: Quintuplo | U-P4RE Quadruplo, componenti fissabili e centrabili Piattello di ritardo della lunghezza d'onda 1/4 (U-TAD), piattello colorato (U-TP530) e diversi compensatori che possono essere fissati mediante un adattatore del piattello (U-TAD) | ||||
Oculare (FN 22) | WHN10X | ||||||
WHN10X-H | CROSS-WHN10X | ||||||
Cubi per fluorescenza | U-FDF Per DF U-FBFL Per BF, filtro integrato U-FBF Per BF, filtro ND rimovibile U-FWUS Per ultravioletto-FL U-FWBS Per blu-FL U-FWGS Per Verde-FL | - | |||||
Filtro / Polarizzatore / Analizzatore | U-25FR Filtro diffusore | U-BP1100IR/U-BP1200IR Filtri passa-banda per IR | 43IF550-W45 Filtro verde | ||||
U-POIR Slitta del polarizzatore riflesso per IR | U-AN360IR Slitta dell'analizzatore rotante per IR | U-AN360P-2 Rotante per 360° Angolo minimo di rotazione 0,1° | |||||
Condensatore | U-LWCD Ampia distanza di lavoro | - | U-POC-2 Condensatore strain free acromatico. Polarizzatore rotante a 360° con lente superiore acromatica e con swing out. Clic-stop regolabile nella posizione “0°”. NA 0,9 (lente superiore in) / NA 0,18 (lente superiore out) Diaframma di apertura: regolabile da 2 mm a 21 mm di diametro | ||||
Slitta / Compensatori | - | U-TAD Slitta (adattatore di piastra) | |||||
U-TP530 Lamina tinta U-TP137 Lamina di ritardo con lunghezza d'onda 1/4 | |||||||
Cavo di alimentazione | UYCP (x1) | UYCP (x2) | UYCP (x1) | ||||
Peso | Riflessa: circa 15,8 kg (stativo 7,4 kg) | Riflessa/Trasmessa: circa 18,3 kg (stativo 7,6 kg) | Circa 18,9 kg (stativo 7,4 kg) | Circa 16,2 kg (stativo 7,6 kg) | |||
Generatore di luce FL riflessa | Guida luce | Serie di guida luce U-LGPS, U-LLGAD, U-LLG150 | - | - | |||
Lampada al mercurio | Serie di lampade al mercurio U-LH100HGAPO1-7, USH-103OL (x2), U-RFL-T, U-RCV | - | - | ||||
Obiettivi | Serie MPLFLN | MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X e 100X Osservazione BF/DIC/POL/FL | - | - | |||
Serie MPLFLN BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD e 100XBD Osservazione BF/DF/DIC/POL/FL | - | - | ||||
Serie MPLFLN-BD e LMPLFLN-BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD e 100XBD Osservazione BF/DF/DIC/POL/FL | - | - | ||||
Serie MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD e LMPLFLN-BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Osservazione BF/DF/DIC/POL/FL | - | - | ||||
Serie IR | - | LMPLN5XIR,10XIR,LCPLN20XIR,50XIR,100XIR Osservazione IR | - | ||||
Serie POL | - | - | UPLFLN4XP, 10XP, 20XP, 40XP Osservazione POL | ||||
Tavolino (X x Y) | Serie 76 mm x 52 mm | U-SVRM, U-MSSP Tavolino coassiale con sistema di regolazione a destra: 76 (X) × 52 (Y) mm, con regolazione della coppia | |||||
Serie 100 mm x 100 mm | U-SIC4R2 e U-MSSP4 Tavolino coassiale di grandi dimensioni con sistema di regolazione a destra / 100 (X) × 100 (Y) mm, con regolazione della coppia e meccanismo di blocco dell'asse Y | ||||||
Serie 100 mm x 100 (G) mm | U-SIC4R2 e U-MSSPG Tavolino coassiale di grandi dimensioni con sistema di regolazione a destra / 150 (X) × 100 (Y) mm, con meccanismo di blocco dell'asse Y (piattello in vetro) | ||||||
Serie 150 mm x 100 mm | U-SIC64, U-SHG e U-SP64 Tavolino coassiale di grandi dimensioni con sistema di regolazione a destra / 150 (X) × 100 (Y) mm, con regolazione della coppia e meccanismo di blocco dell'asse Y | ||||||
Serie 150 mm x 100 (G) mm | U-SIC64, U-SHG e U-SPG64 Tavolino coassiale di grandi dimensioni con sistema di regolazione a destra / 150 (X) × 100 (Y) mm, con regolazione della coppia e meccanismo di blocco dell'asse Y (piattello in vetro) | ||||||
Serie POL | - | U-SRP+U-FMP Tavolino rotante per polarizzazione + tavolino meccanico | |||||
Opzione | Serie osservazione MIX* | BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2 e U-MIXRCBL | |||||
DIC* | U-DICR | ||||||
Tubi intermedi | U-CA, U-EPA2 e U-TRU | ||||||
Filtri | U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-25IF550, U-25L42, U-25 e U-25FR | ||||||
Filtro per condensatore | 43IF550-W45 e U-POT | ||||||
Piattello per tavolino | U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65 e U-WHP2 | ||||||
Fermavetrino | U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4 e U-HLDT-4 | ||||||
Impugnatura in gomma | U-SHG e U-SHGT |
*Non può essere usato con l'U-5RE-2
资源
Note delle applicazioniVideoManuali |