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Analizzatore XRF portatile per la ricerca, il controllo della qualità di lega e il trattamento della laterite di nichel


Gli analizzatori a fluorescenza a raggi X portatile (pXRF) forniscono in odo altamente efficiente dei dati geochimici in tempo reale per una veloce caratterizzazione multielementare di suolo, rocce e minerali. I recenti progressi importanti nell'ambito della tecnologia pXRF ha permesso di migliorare considerevolmente i limiti di rilevamento e il numero di elementi misurati, oltre a ridurre significativamente i tempi di analisi. La tecnologia pXRF viene attualmente utilizzata come metodo efficiente per le operazioni esplorative e produttive relative ai minerali di laterite di nichel. Viene usata regolarmente per le perforazioni esplorative, gli scavi, i campionamenti del fronte, i controlli sui depositi e sui prodotti concentrati.

Geologia della laterite di nichel

Il nichel si trova in due tipi di depositi: quelli di laterite di nichel e quelli di solfuro magmatico (origine vulcanica) Sebbene la laterite di nichel contiene circa il 70% delle riserve di nichel, storicamente la produzione di nichel deriva principalmente dai depositi di solfuro di nichel. Questo sta cambiando in quanto le riserve di solfuro di nichel si stanno esaurendo e il consumo di nichel sta crescendo costantemente ogni anno a livello mondiale. Un altro utile prodotto secondario dei minerali di laterite di nichel, grazie alla sua concentrazione, è il cobalto. Risulta particolarmente importante a causa del rapido aumento della produzione di batterie a base di metalli.

La laterite di nichel è formata attraverso l'intensa meteorizzazione di rocce ultramefiche contenenti nichel, le metamerizzazione di rocce ultramefiche contenenti nichel, le quali sono formate a sua volta dai prolungati processi chimici e meccanici della meteorizzazione negli ambienti umidi, caldi e tropicali. La laterite di nichel è caratterizzata da una struttura tabulare con un'estensione di diverse centinaia di metri ma con solamente alcune decine di metri di profondità. Questi depositi si caratterizzano da un profilo di disgregazione da meteorizzazione costituita da cinque "zone" (di seguito): la roccia ultramefica non disgregata, la roccia disgregata o "saprolite", uno strato ricco in argilla, una zona di limonite e una di ossido di ferro o "cappellaccio di ferro".

Geologia di laterite di nichel
Olympus IMS

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Le serie di analizzatori XRF portatili Vanta™ rappresentano gli strumenti XRF portatili più recenti e potenti Olympus. Sono in grado di realizzare delle analisi elementari precise per i clienti che devono ottenere direttamente sul campo dei risultati di qualità di laboratorio. Gli analizzatori sono progettati per assicurare resistenza, un grado di protezione IP54 o IP55, e una conformità ai test di caduta, garantendo un maggiore tempo di operatività e un minore costo di proprietà.
Gli analizzatori XRF portatili Vanta per il settore minerario e geochimico forniscono un'immediata analisi elementare in campo nell'ambito dell'esplorazione geochimica, del controllo della composizione minerale, del trattamento dei minerali e della bonifica.
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