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洞见博客

使用双晶线性阵列探头进行腐蚀检测的5大优势特性

作者  -

在石油、天然气以及电力生产等行业中,老化的基础生产设施可能会导致出现一些计划外维护及安全的问题。使用超声检测(UT)方式绘制腐蚀区域的图像,是实施基础设施完整性计划的一个必不可少的环节。

在常规超声检测中,超声波被传送到管道或其它部件中,以探测到肉眼看不到的内部缺陷。可以手动方式控制双晶UT探头,对被检部件的某些区域进行逐点抽检;也可以将双晶UT探头与电动双轴扫查器一起使用,完成C扫描成像操作。以手动方式进行的扫查不仅较为缓慢,而且容易漏掉一些缺陷,而目前常用的自动扫查系统又比较笨拙,需要配备一些不太安全且不甚可靠的快速光栅扫查器。

为了帮助我们的客户公司更有效地检测带有光滑表面的部件,以发现部件内部的损伤或内壁腐蚀缺陷,我们研制开发了一款采用一发一收技术的双晶线性阵列(DLA)探头。这款探头与OmniScan SXOmniScan MX系列探伤仪一起使用时,可以同时享有双晶常规超声探头的优势特性和相控阵技术成像功能。

使用DLA探头进行腐蚀检测的5大优势特性如下:

1. 更大的声束覆盖范围

DLA探头更大的声束覆盖范围有助于提高生产力和检出率。一般UT探头的检测声束的宽度为4.7毫米,非常适用于手动抽检应用,而DLA探头的声束宽度为30毫米,因此可以快速检测较大的区域。而且这种探头生成的C扫描还可使用户更容易探测到细小的缺陷。

常规UT探头的有效声束宽度为4.8毫米(左图),DLA探头的有效声束宽度为30毫米(右图)

2. 定位较小的缺陷

使用普通的常规UT方式对腐蚀情况进行监控时,需要在管道上以手动方式选择要进行厚度测量的区域(抽检)。检测人员一般会采用1平方英寸的栅格作为检测步距,但是这样一来,就有可能漏掉位于两个测量点之间的缺陷。

与常规双晶UT探头相比,DLA探头所使用的晶片更小,因此可以更快地完成数据点密度较高的检测。使用较高的点密度,可以降低漏掉细小缺陷的几率。


常规UT探头的数据点密度(左图)对比DLA探头的数据点密度(右图)

3. 更好的近表面分辨率

DLA探头采用了一发一收技术,与相控阵脉冲回波技术相比,提高了近表面分辨率。DLA探头可以生成非常小的界面回波,可使检测人员探测到距表面仅有1毫米区域中的缺陷。在需要定位壁厚减薄和点蚀等关键性缺陷时,这个特性必不可少。



发射阵列(左侧)与接收阵列(右侧)被分隔开来,从而可以降低界面回波的波幅,更好地完成近表面区域的检测。

4. 腐蚀扫查轻松完成

DLA探头与Mini-Wheel编码器或我们的任何一种扫查器一起使用时,都可以进行编码数据采集,此外,我们还为购买探头的用户提供OmniScan设置文件,因此用户只需花费很少的时间进行设置,并可以很快开始进行检测。

得益于一些加强的特性,例如:内置注水孔,以及可使探头更好地贴附于管道曲面的可更换式弧面延迟块,双晶线性阵列(DLA)腐蚀探头在与MapSCANNER扫查器一起使用时还可以用于完成半自动检测;如果与MapROVER扫查器一起使用,则可以完成自动检测,这种自动检测不仅可以提高声束的传播性能,而且还无需用户费心处理耦合剂。

5. 性能可靠,用途广泛

双晶线性阵列(DLA)腐蚀探头的可更换延迟块的上面装有一个硬质合金防磨板,可以为探头提供附加的保护作用。探头还带有一个集成的平衡系统。在检测从外径为4英寸的曲面一直到平面的材料时,这个平衡系统可以快速根据被检样件的半径进行调整,以加强探头贴附在被测表面的稳定性。

奥林巴斯的DLA(双晶线性阵列)腐蚀探头

Product Manager, Scanners and Inspection Solutions

Simon has a Bachelor's degree in science and is the product manager for Inspection Solutions at Olympus. For more than 14 years, Simon has overseen the introduction of numerous innovative portable scanning devices and inspection solutions, bringing improved ultrasound data acquisition to the market.

七月 15, 2016
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