USPM-RU III
生産・販売終了製品
概览
曲面、微小エリアの分光反射率測定を実現！
これまでの分光測定機では測定できないレンズや微小な電子部品、薄肉試料も裏面反射光の影響を受けずに高速、高精度な分光反射率測定が可能です。
 測定イメージ | 曲面・微小領域の反射率測定が可能対物レンズで試料面に微小スポット（ø60μm）を結ぶため、微細部品のレンズ曲面及びコーティングむらも測定可能です。 |
 裏面反射光カットの原理 | 裏面からの反射光をカット
特殊光学系の採用により、裏面反射光をカット。
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高速測定
フラットフィールドグレーティング及びラインセンサを用いて、同時に全波長を分光することで高速測定を実現。
 XY色度図 | 物体色測定機能
分光反射率から分光測色法に基づき物体色測定ができます。
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ソフトウェア
 反射率グラフイメージ |  反射率テキストデータイメージ |
技术规格
反射率測定機 USPM-RU III：仕様
| 測定波長 | 380nm〜780nm |
|---|---|
| 測定方法 | リファレンス試料に対する比較測定 |
| 試料側N.A. |
0.12（10×対物レンズ使用時）
0.24（20×対物レンズ使用時） * 対物レンズのN.A.とは異なります。 |
| 試料側W.D. |
10.1mm（10×対物レンズ使用時）
3.1mm（20×対物レンズ使用時） |
| 試料の曲率半径 | -1R 〜-∞、+1R〜∞ |
| 試料の測定範囲 |
約ø60μm（10×対物レンズ使用時）
約ø30μm（20×対物レンズ使用時） |
| 測定再現性（2σ） |
±0.1%（380nm〜410nm測定時）
±0.01%（410nm〜700nm測定時） |
| 表示分解能 | 1nm |
| 測定時間 |
数秒〜十数秒
（サンプリング時間により異なります） |
| 光源仕様 | ハロゲンランプ 12V100W |
|
ステージZ方向
駆動範囲 | 85mm |
| PCとのインタフェース | USB方式 |
| 装置質量 |
本体：約20kg（PC、プリンタを除く）
光源用電源： 約3kg コントロールボックス： 約8kg |
| 装置寸法 |
本体：
300（W）×550（D）×570（H）mm 光源用電源： 150（W）×250（D）×140（H）mm コントロールボックス： 220（W）×250（D）×140（H）mm |
| 電源仕様 |
光源用電源：
100V（2.8A）/220V AC コントロールボックス： 100V（0.2A）/220V AC |
| 使用環境 |
水平で振動がない場所
温度： 23±5°C 湿度： 60%以下、結露無きこと |
* 本装置はトレーサビリティ体系に則った絶対精度を保証するものではありません。
* 特注扱いで測定波長440nm〜840nm仕様も対応できます。 *「弊社より提供する顕微鏡コントローラー（PC）はWindow10のOSライセンスが認証済みとなりますので、Microsoft社のライセンス条項が適用され、当該条項に同意頂くことになります。Microsoft社のライセンス条項は以下をご参照ください」
https://www.microsoft.com/en-us/Useterms/Retail/Windows/10/UseTerms_Retail_Windows_10_japanese.htm