4.1 探头选择的一般概念

探触子の選択

多くの場合、特定の検査で使用する探触子のタイプは、検査員が従う必要がある確立された検査規格または手順要件によって決まります。 AWS D1.1やASTM E-164などの規格には、推奨される探触子とウェッジが詳述されています。また、場合によっては過去に行われた同じ検査から探触子の選択が決まることがあります。 規格や手順がない場合、検査員は固有の検査要件に基づき、一般的な検査実践や超音波理論を活用して適切な探触子を選択する必要があります。 場合によっては、検査対象の部位と同等である標準試験片に対して複数のタイプの探触子を試して、最もよい応答が得られるものを判別することもあります。

超音波探傷で使用する探触子は、一般的に以下の5つのカテゴリーに分類されます。

探触子タイプを選択すると、パフォーマンスを左右するその他の重要な要素は、周波数、直径、帯域幅です。 詳細はセクション3を参照してください。 所定の検査でこれらの要素を最適化するには、多くの場合メリットとデメリットのバランスをとる必要があります。

周波数：探触子の周波数が高いほど、波長が短いため小さな欠陥を解像できる一方で、探触子の周波数が低いほど、周波数とともに減衰性が低くなるため、材料内に深く浸透します。

直径：探触子の直径が大きいほど所定の領域を速くスキャンできる一方で、探触子の直径が小さいほど小さな反射源への応答がよくなり、曲面に効率的に沿わせられます。

帯域幅：狭帯域探触子は浸透性は高いものの表面近傍分解能が低い一方で、広帯域探触子は表面近傍分解能は良好なものの浸透性は低くなります。

標準的な直接接触型垂直探触子の設定手順