概述
厚度测量和缺陷检测解决方案用于高级腐蚀检测的脉冲/接收（PR）双阵列探头我们的脉冲接收（PR）REX1双线阵（DLA）探头支持新型相控阵（PA）检测技术的先进功能，其复杂的布线优化了声束发射能力。 这种PR型DLA探头可使您进行更先进的PA检测，即使在使用不带脉冲发生器/接收器模块的相控阵采集仪器时也是如此。除了标准的PA成像之外，REX1 DLA PR探头还可用于执行高效、高质量的全聚焦方式（TFM）和相位相干成像（PCI）扫查。 |  |
优势和特点
*PCI仅在OmniScan X3 64探伤仪中提供。 |
典型应用
DLA REX1
PR探头可助力您完成快速高效的手动、自动或半自动检测，实现高质量成像，获得准确的缺陷测量结果。它是腐蚀监测以及评估点蚀、蠕变损伤和氢致裂纹（HIC）等关键缺陷的理想工具。
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双晶阵列一发一技术与双晶UT探头一样，DLA（双晶线性阵列）探头包含一组发射晶片和一组接收晶片，这两组晶片被分别安装在以一定角度切割的延迟块的两部分上。这种配置生成在被测工件表面以下聚焦的声束，从而可大幅降低表面反射的波幅。这种技术还提高了近表面分辨率，获得点蚀、蠕变损伤和HIC（氢致裂纹）等关键性缺陷的更高的检出率（POD）。 |
一发一收
| 脉冲回波
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与相控阵脉冲回波相比，一发一收技术仅生成非常小的界面回波，可提供更好的近表面分辨率。 | |
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新特性，新潜能全聚焦方式（TFM）和相位相干成像（PCI）等较新的先进超声技术涉及复杂的发射序列，超出了标准双晶线性探头的发射能力1。 我们的REX1 DLA PR型号探头经过优化，可支持在带TFM功能的OmniScan X3设备和带PCI和TFM的OmniScan X3 64探伤仪中设置复杂聚焦法则的需求。 除了高质量的PA成像之外，REX1 DLA PR探头还能进行高效的TFM和PCI扫描，如这些钢中氢致腐蚀（HIC）的数据示例所示。 |
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1我们仍可以根据要求提供传统的非PR REX1和ULT1版本的DLA探头。这些传统DLA探头采用奇数/偶数布线方式（1-2、3-4等），而且与不带脉冲发生器/接收器模块或没有集成脉冲发生器/接收器功能的仪器（例如OmniScan MX2）相兼容。 虽然目前OmniScan X3扫查计划的探头库中提供这些探头，但非PR版本不能用于TFM或PCI等高级扫查计划。 为了实现更大的兼容性，OmniScan X3系列仪器预先根据我们DLA探头的规格进行了配置，可使检测设置变得快速而简单。创建TFM或PCI扫查计划时，只需从探头列表中选择您的DLA型号探头，然后直接在仪器上进行聚焦法则配置即可。 请进一步了解DLA探头、OmniScan X3系列仪器、TFM功能和PCI功能。 |
技术规格
探头的技术规格和尺寸
| 7.5DL32-32X5-REX1-P-2.5-OM-IHC-PR-RW | 7.5DL32-32X5-REX1-P-5-OM-IHC-PR-RW | ||
|---|---|---|---|
| 订购编号 | Q3301867 | Q3302172 | |
| 频率（MHz） | 7.5 | 7.5 | |
| 晶片数量 | 双晶32 | 双晶32 | |
| 晶片间距（毫米） | 1 | 1 | |
| 激活孔径（毫米） | 32 | 32 | |
| 晶片高度（毫米） | 5 | 5 | |
| 电缆长度（米） | 2.5 | 5 | |
| 外型尺寸（毫米，英寸） | 长 | 66 (2.57) | 66 (2.57) |
| 宽 | 40 (1.58) | 40 (1.58) | |
| 高 | 44 (1.73) | 44 (1.73) | |
资源库
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