显微镜解决方案

信息丰富

所有颗粒和分类表、整体清洁度代码、颗粒位置和使用的标准均显示在一个视图中。

CIX100系统配备了各种强大、易于使用的工具，可在提供指导的快速颗粒复核过程中修改检测数据。一键式重新分类功能具有很大的灵活性，并支持国际标准。系统探测到的每个污染物的缩略图都与相应的维度测量值相链接，方便了对数据的复核。检索污染物的信息非常简单。在复核过程中，结果会自动更新并显示在所有视图和按大小分类的分类栏中。这样既可以清晰显示所有相关的检测结果，又节省了时间。

不同颗粒视图的可视化，例如：最大的反光颗粒或非反光颗粒。

图像、数据和结果排列清晰，以便立即做出再处理决策。 在可选择的各种视图中，完整的检测数据一目了然。查看从大到小排列的所有种类（反光或非反光）颗粒的图像。

根据存储的颗粒位置信息，载物台直接在选定的颗粒位置上重新定位，以进行进一步的研究和修改，例如使用景深扩展成像（全焦图像，EFI）或为高度测量定制的解决方案。

可以随时间推移进行数据统计分析，并以图形方式显示。

可以为污染物拍摄单张图像，并进行处理，以进行手动测量确认并改进文档。

查看从大到小排列的所有种类（反光或非反光）颗粒的图像。

污染物的缩略图像可以方便地与其位置和尺寸关联。选择某个缩略图会使系统自动转到相关的污染物。

分类和颗粒表根据所选标准列出结果。

分类和颗粒表分别根据所选标准和颗粒数据显示结果。

根据所选标准计算并显示总体分类结果。

根据所选的标准，软件即时计算并显示总体分类污染等级代码（CCC）。如果需要，您可以将其设为选择颗粒类型的限值。

不同的清洁度代码

只需单击一下，即可根据所有标准重新计算结果。

修改检测数据很容易。在技术清洁度检测中，通常建议对结果进行手动检查和复核。软件使颗粒数据的交互式校正变得快速而简单。

CIX100系统的景深扩展成像（EFI）功能可为高度超出物镜焦深的样品采集图像，并将这些图像堆叠在一起，创建全焦图像。由1个20X物镜和特殊软件组成的高度测量解决方案，进一步增强了系统的性能，可满足VDA 19对高度测量的要求。对于选定的颗粒，可通过自动或手动方式进行高度测量。在结果表中，计算出的高度值作为附加数据项列出。