奥林巴斯的X射线荧光（XRF）分析仪具有很高的分析性能，可以实时提供地球化学数据，从而有助于用户快速确定土壤、岩石和矿石的多元素特性。XRF技术的最新发展，增加了可测元素的数量，改进了检出限，并降低了检测时间。
Vanta XRF分析仪在金矿上和金矿实验室中，可以快速方便地测量与黄金勘探相关的很多种类的样本，而且还可以对精炼黄金产品进行快速准确的分析。
优势特性
- 通过对土壤、钻屑和钻芯中的探途元素进行XRF分析，可以快速发现潜在的金元素矿化的情况。
- 使用XRF分析仪对样本进行预先筛选，可以获得优选样本，合理使用分析经费，以及更准确地确定钻井的区域。
- 通过XRF技术绘制结构特性的映射图，并识别矿化蚀变区域，可以使用户更好地了解矿床，并有助于成功完成建模和定向工作。由于减少了稀释方式的使用，因此可以获得更好的金采收量。
- 在岩石地球化学应用中使用XRF技术，可以迅速、经济地为岩石进行分类。
| 矿床类型 | 地球化学特征 |
| 造山金矿 | S、As、CO2、K+/– Sb、Te、Mo、W、Cu、Pb、Zn、Hg |
| 高硫化浅成热液 | Ag、Cu、Te、Mo、Bi、Sn |
| 低硫化浅成热液 | Zn、Hg、Se、K、As、Sb、Ag/Au |
| 卡林型 | As、Sb、Hg、Tl |
| 斑岩型铜-金矿 | Cu、Pb、Zn、Ag |
| 含金矽卡岩 | Bi、Te、As、Co |
| 侵入型相关金矿 | Bi、W、As、Sb、Mo、Te |
| 火山成因块状硫化物矿床（VHMS） | Cu、Pb、Zn、Ag、Ba、K、Mg +/–CO2 |
| 铁氧化物铜-金矿（U） | F、P、Co、Ni、As、Mo、Ag、Ba、U、LREE |
| 表生金矿 | 高成色金矿 +/– 以上任何元素 |
金矿床的相关地球化学特征
资料来源：Reflex Geochemistry
探途元素和蚀变地球化学
大多数金矿床都有其特定的地球化学特征（如上表所示）。XRF分析仪可以探测到这些地球化学特征，从而可使地质学家更清楚地了解他们正在勘查的地质系统。典型的金探途元素包含As、Cu、Pb、Zn、Sb、Bi、Ag和W。
常见金探途元素的典型XRF检出限（Vanta VMR型号地球化学模式）
| 元素 | 检出限（ppm）* | 元素 | 检出限（ppm）* |
| As | 1 | W | １ |
| Cu | ２ | Bi | 2 |
| Pb | ２ | Sb | 2 |
| Zn | 1 | Ag | ２ |
*每个光束120秒的检测时间，无干扰的二氧化硅基质；请参阅奥林巴斯有关检出限的文件，了解有关更低检出限的详细探讨说明。
用于探测金元素的XRF分析仪
众所周知，手持式XRF分析仪不能对地质样本中低含量的金元素进行直接检测（如：低ppm和ppb值）。基于实验室的火试金法被普遍认为是分析金元素的首选方法。金元素的L线处于X射线荧光能量频谱的非常拥挤的区域。在频谱的这个区域中，来自其它元素（如：As, Zn, W和Se）的干扰，会使分析仪得出错误的金元素存在的判断。
不过，在某些特定的情况下，如：高品位的（> 5 ppm）石英脉环境（相对来说没有干扰）或在精炼的金产品中（金元素有很高的含量），可以使用XRF分析仪对金元素进行直接检测。
金矿上越来越多的实验室正在使用XRF技术替代或补充火试金法，对矿石进行分析。请参阅奥林巴斯应用注释“在金矿实验室中使用手持式XRF分析仪”。在矿山上，工作人员也会使用奥林巴斯手持式XRF分析仪检测活性炭中的金元素。请参阅奥林巴斯应用注释“检测活性炭中的金元素”。
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图像由Arne等提供（2014） – 在金元素勘探中对来自手持式XRF分析仪的资产规模数据的使用 – 优势和局限性，地球化学：勘探，环境，分析。
来自加拿大的金元素勘探项目，XRF分析仪在野外绘制的表面土壤中As、Cu和Pb元素等值线图对比ICP分析。
