Evident LogoOlympus Logo
资源库
应用说明
返回到资源库

Ocena profilu powierzchni w natryskiwaniu termicznym / Pomiar chropowatości powierzchni z użyciem mikroskopu laserowego


Zastosowanie

Technika natryskiwania termicznego jest wykorzystywana do modyfikacji powierzchni. Materiał, który ma zostać nałożony w formie natrysku, jest uprzednio nagrzewany niemalże do temperatury topnienia. Następnie rozpyla się go na dany obiekt z dużą prędkością, tworząc powłokę. W tak powstałej warstwie powstają pęcherzyki powietrza, dzięki czemu powłoka jest odporna na szok termiczny i impregnację. Natryskowi termicznemu można poddać powierzchnie różnego rodzaju, w tym metale, ceramikę i plastik. Jako materiał powłokowy stosuje się również metale, ich stopy lub materiały ceramiczne. Temperatura nie ma negatywnego wpływu na podłoże poddawane natryskowi termicznemu. Nie istnieją także ograniczenia co do rozmiarów obiektu, który poddawany jest natryskowi.
Aby zwiększyć chropowatość poddawanej natryskowi powierzchni, a co za tym idzie wzmocnić siły adhezyjne oddziałujące między powierzchnią a materiałem powłokowym, stosuje się piaskowanie. Istotne jest, by ocenić chropowatość powierzchni po piaskowaniu oraz po zakończeniu natrysku termicznego. W przypadku drobnych nieregularności powierzchni dokładny pomiar ich wklęsłości z wykorzystaniem konwencjonalnych, stykowych metod pomiaru chropowatości może być trudny.

Rozwiązanie firmy Olympus

Skaningowy mikroskop laserowy 3D Olympus LEXT umożliwia inspekcję powierzchni przed natryskiem termicznym i po jego zastosowaniu z zapewnieniem wysokiej rozdzielczości i ostrości obrazu. System LEXT pozwala na łatwe uzyskanie ilościowych pomiarów 3D chropowatości bez kontaktu z powierzchnią.

Natryskiwanie termiczne tlenku glinu

Natryskiwanie termiczne węglika wolframu

Powierzchnia podłoża

powierzchnia podłoża_z tlenku glinu

powierzchnia podłoża_z węglików

Powierzchnia po natryskiwaniu termicznym

powierzchnia podłoża_z tlenku glinu po natryskiwaniu termicznym
Obiektyw 20X; zoom 1X

powierzchnia podłoża_z węglików po natryskiwaniu termicznym
Obiektyw 20X; zoom 1X

Olympus IMS

应用所使用的产品

具有出色精度和光学性能的LEXT™OLS5100激光扫描显微镜配备了让系统更加易于使用的智能工具。其能够快速高效完成亚微米级形貌和表面粗糙度的精确测量任务,既简化了工作流程又能让您获得可信赖的高质量数据。

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country