Evident LogoOlympus Logo
资源库
应用说明
返回到资源库

Zastosowanie laserowego mikroskopu konfokalnego Olympus OLS5000 do pomiaru chropowatości metalowych części implantów zębowych


Wprowadzenie

Chropowatość powierzchni części korzeniowej implantów zębowych jest istotna, ponieważ zwiększa efektywne pole powierzchni implantu, co z kolei korzystnie wpływa na jego stabilność. Metalowe części implantów zębowych poddawane są często wieloetapowej obróbce zwiększającej chropowatość, w tym piaskowaniu, wytrawianiu kwasem, anodowaniu i polerowaniu. Optymalna chropowatość powierzchni implantów zębowych wynosi od 1 do 10 μm. W Japonii producenci implantów zębowych mają obowiązek weryfikowania pomiarów chropowatości powierzchni za pomocą laserowego mikroskopu konfokalnego. Niezapewnienie odpowiedniej chropowatości może być przyczyną niewłaściwego zrastania się implantu z tkankami jamy ustnej pacjenta.

Rozwiązania firmy Olympus

Laserowy mikroskop konfokalny Olympus LEXT oferuje wyjątkową dokładność i precyzję pomiaru chropowatości powierzchni implantów zębowych. Wysoka rozdzielczość mikroskopu LEXT w połączeniu z jego zdolnością do pomiaru stromych uskoków sprawia, że możliwe jest dokładne i precyzyjne mierzenie różnych kształtów geometrycznych (rysunek 1). Mikroskop ma obiektywy o dużej odległości roboczej, pozwalające na badanie większych przedmiotów, takich jak implanty zębowe.

Charakterystyka produktu

Mikroskop Olympus LEXT umożliwia poprowadzenie obserwacji 3D i wykonywanie pomiarów o bardzo wysokiej rozdzielczości i gęstości pikseli. Różne dostępne obiektywy pozwalają na dopasowanie długości roboczej do wielkości próbki i badanie większych przedmiotów, takich jak implanty zębowe. LEXT charakteryzuje się wysoką czułością wykrywania zboczy, pozwalając na dokładne pomiary nierówności o skomplikowanym kształcie i ostrych uskokach.

Obraz

Pomiary powierzchni implantów zębowych za pomocą mikroskopu ols5000Pomiary powierzchni implantów zębowych za pomocą mikroskopu ols5000

Rysunek 1: Pomiary powierzchni implantów zębowych za pomocą mikroskopu LEXT

Olympus IMS

应用所使用的产品

具有出色精度和光学性能的LEXT™OLS5100激光扫描显微镜配备了让系统更加易于使用的智能工具。其能够快速高效完成亚微米级形貌和表面粗糙度的精确测量任务,既简化了工作流程又能让您获得可信赖的高质量数据。

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country