自1978年以来,Mistras集团一直在建立和巩固其作为领先的无损检测(NDT)服务和解决方案提供商的声誉。Mistras专注于声发射(AE)和超声检测(UT)技术,并开发了用于检测公共和工业基础设施的完整解决方案。Mistras的总部设在法国,为多种行业提供服务,包括航空、铁路、可再生能源,以及石油和天然气。
在最近接受Contrôles Essais Mesures(CEM)杂志的采访时,Mistras的超声专家工程师Jérôme Lethuillier谈到了其公司用于检测管道的UT解决方案。为了说明此解决方案的高效性,Jerome举出了一个应用实例。那天,他带领他的Mistras团队在一家炼油厂使用了该解决方案,他们的任务是对火炬系统中数百米的管道进行检测和成像,目的是进行腐蚀监测。Mistras管道检测设备的一个组成部分是我们的FlexoFORM扫查器。
以下内容节选自第77期Contrôles Essais Mesures(CEM)(《控制、测试、测量》,译自法语名称)杂志对Jérôme的采访。采访中,Jérôme解释了他和他的Mistras团队对FlexoFORM扫查器的欣赏之处,以及扫查器如何增强了他们为客户提供的管道检测服务。
Mistras的工程师Jérôme Lethuillier正在使用FlexoFORM扫查器和OmniScan X3相控阵探伤仪对管道弯头样品进行检测(图片承蒙CEM杂志提供)
自动步进,操作简单
Jérôme说道:“我们使用FlexoFORM扫查器对我们客户的超长管道进行快速和精确的成像。”“我们在管道靠下的母线上使用FlexoFORM扫查器进行控制,特别是由局部腐蚀引起的厚度损失。系统安装好后,我们使用扫查器对管道进行扫查,每次扫查覆盖的宽度为60毫米。通过多次扫查,借助自动步进系统逐行进行采集。周向检测通过序列扫查重建。在采集过程中,操作人员只需确保按照预先绘制的线条进行扫查即可。”稍后他补充道,“轮子是磁化的 — 小编码器轮子也有磁性”,操作人员无需太费劲就可以将扫查器固定在铁磁性表面上。
100%覆盖弯头并在整个周向上成像
“我们也会使用FlexoFORM检测弯头部位。这款扫查器为我们提供了之前没有的解决方案。我们以前使用非常小的传统探头进行点厚度测量。这种网格采样不能使我们进行100%的验证。此外,我们没有图像可以呈现。有了FlexoFORM扫查器,我们就可以检测整个表面并生成图像了。”
为多种直径的管道获取高分辨率数据(1 × 1 mm)
“此外,该设备可以探测到面积较小的损坏,这是我们通过抽样测量无法做到的。FlexoFORM扫查器为我们提供了前所未有的技术解决方案,满足了我们的需求。我们还可使用迷你型FlexoFORM扫查器检测小直径管道。迷你型扫查器占地面积很小,更适合检测直径小至1.3英寸的管道。使用传统的FlexoFORM设备,可以检测很大直径的管道,不过可检测管道的直径至少要达到4英寸。”
“FlexoFORM扫查器为我们提供了前所未有的技术解决方案,满足了我们的需求。”— Jérôme Lethuillier,Mistras UT专家工程师
灵活变通、适应性强的相控阵探头和弧形水楔系统
“相控阵探头非常灵活。它可以检测大于1.3英寸直径的管道,也可以检测平面。 我们根据曲率半径将水楔安装到探头上。一套含不同尺寸的水楔系统可以覆盖各种直径的管道。能够在不使用工具的情况下拆除探头,在检测现场非常有价值,因为管道的直径经常变化。在直管部位上,能够记录管道纵向上的数据改变了一切。以前,刚性探头要在管道周向上移动,然后步进到旁边的区域,再绕管道周向完成另一圈移动。能够控制整个长距离直管,节省了我们大量的时间。
“在直管部位上,能够记录管道纵向上的数据改变了一切。”
更高效的采集和直观的C扫描成像
“在图像呈现方面,所生成的厚度图与我们之前的系统相同。不过,我们现在可以为大面积区域成像,从而节省了大量的采集时间和在现场花费的时间。此外,在成像方面,我们现在可以为弯头部位的表面成像,这可是一个真正的优势。尽管柔性探头的背面没有减震层,但信号质量非常好,所生成的图像也非常好。FlexoFORM扫查器还可使我们对已识别的损坏进行持续监测,以控制复杂几何形状(拱腹和拱背)的任何退化,”Jérôme解释道。
“现在我们可以为弯头部位的表面进行成像了,这可是一个真正的优势。”
优化了Mistras服务的专业管道弯头扫查解决方案
“寻找新的解决方案是我们使命的一部分,因为这个目标使我们拓展了服务范围,并为我们的客户提供更高效的服务。这也是为什么我们拥有市场上堪称丰富的高级NDT解决方案系列的原因,因为我们希望为客户的具体问题提供尽可能完善的答案。”
要了解有关FlexoFORM扫查器和我们其他工业扫查解决方案的更多信息,请访问www.olympus-ims.com/scanners。
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