Evident LogoOlympus Logo
洞见博客

Metoda TFM i inne zalety defektoskopu OmniScan X3 w pracy inspektorów zajmujących się badaniami z wykorzystaniem metod nieniszczących — recenzja klienta

作者  -

Przed oficjalną premierą defektoskopu typu Phased Array OmniScan™ X3 Olympus wypożyczył przyrząd specjalistycznemu wydziałowi Institut de Soudure (francuskiej organizacji zajmującej się badaniem spoin), by dać inspektorom możliwość wypróbowania go w trakcie prac. Specjalistyczny wydział Institut de Soudure nadzoruje rozwój najnowszych, innowacyjnych metod badań nieniszczących (NDT).

Ekspert z zakresu badań ultradźwiękowych ocenia defektoskop OmniScan X3

Po wykonaniu kilku testów laboratoryjnych z wykorzystaniem przyrządu OmniScan X3 Manuel Tessier, inżynier zajmujący się badaniami nieniszczącymi i ekspert w dziedzinie badań ultradźwiękowych oraz techniki time-of-flight diffraction (UT/TOFD), podzielił się swoimi spostrzeżeniami na temat nowych funkcji, o które wzbogacony został defektoskop, by usprawnić pracę inspektorów. Podkreślił zalety wykorzystania wielogrupowej metody Total Focusing Method (TFM), ulepszonej funkcji umożliwiającej korzystanie z sond Dual Linear Array i Dual Matrix Array oraz innowacyjnego narzędzia modelowania Acoustic Influence Map (AIM).

Poniższy tekst jest fragmentem artykułu opublikowanego w numerze 69 magazynu Contrôles Essais Mesures (CEM) (tłumaczenie z języka francuskiego).

Badanie rury metodą TFM z wykorzystaniem defektoskopu OmniScan X3 w laboratorium badań i rozwoju zajmującym się inspekcją spoin w Institut de Soudure

Manuel Tessier, inżynier zajmujący się badaniami nieniszczącymi i ekspert w dziedzinie badań ultradźwiękowych oraz techniki TOFD z Institut de Soudure we Francji, przetestował możliwości obrazowania metodą TFM z wykorzystaniem defektoskopu OmniScan X3


Manuel Tessier, inżynier zajmujący się badaniami nieniszczącymi i ekspert w dziedzinie badań ultradźwiękowych oraz techniki TOFD, Institut de Soudure we Francji (zdjęcie dzięki uprzejmości magazynu CEM)

„Przeprowadziliśmy badania metodą TFM na różnych wzorcach odniesienia. Wyniki są rozstrzygające”.

Manuel Tessier, inżynier zajmujący się badaniami nieniszczącymi i ekspert w dziedzinie badań ultradźwiękowych oraz techniki TOFD z Institut de Soudure, miał możliwość przetestowania nowych funkcji przyrządu OmniScan X3 w trakcie badań laboratoryjnych jeszcze przed jego oficjalną premierą. Podzielił się swoimi spostrzeżeniami z magazynem CEM.

CEM: Pański wydział w Institut de Soudure na co dzień pracuje na przyrządach OmniScan. Do czego są one wykorzystywane?

M. Tessier: Przyrządy OmniScan stanowią nasze standardowe wyposażenie. Cenimy je za niewielkie rozmiary, wytrzymałość i wiarygodność pomiarów. Nasz personel jest przeszkolony w użytkowaniu tych urządzeń oraz towarzyszącego im oprogramowania. Obecnie mamy około 20 defektoskopów tego typu. Mój wydział zajmuje się różnego rodzaju zadaniami, od badania spoin, mapowania, pomiarów grubości i charakteryzacji defektów po wykrywanie różnego rodzaju uszkodzeń. Korzystamy z tego sprzętu codziennie, czy to do badań konwencjonalnych (z użyciem jednej sondy), czy na wpół lub w pełni zautomatyzowanych, służących do inspekcji spoin przy użyciu techniki TOFD w połączeniu metodą Phased Array.

„Dzięki zaawansowanym sondom OmniScan X3 oferuje szerokie możliwości zastosowania w wysoce specjalistycznych badaniach”.

CEM: Jak wygląda wykorzystanie poszczególnych sond?

M. Tessier: Używamy tego przyrządu również z sondami Dual Linear Array (DLA) i Dual Matrix Array (DMA). Jedną z zalet defektoskopu OmniScan X3 jest łatwość, z jaką można zaprogramować ten typ czujników. Proces ten był mniej wygodny w przypadku defektoskopu OmniScan MX2 — nawet jeśli urządzenie umożliwiało operowanie tymi sondami, nie ułatwiało ich programowania. Dzięki zaawansowanym sondom OmniScan X3 oferuje szerokie możliwości zastosowania w wysoce specjalistycznych badaniach. Ustawienia parametrów ogniskowania mają tu znaczący wpływ. Oznacza to, że odpowiednie ustawienie parametrów pozwala zwiększyć dokładność inspekcji. Fakt, że sondy te zostały zintegrowane z urządzeniem, umożliwia ustawienie parametrów ogniskowania bezpośrednio w defektoskopie, co w przypadku modelu MX2 było możliwe w bardzo ograniczonym stopniu. Według mnie jest to ogromna zaleta.

CEM: Co Pan myśli o trybach TFM, które są od teraz dostępne w defektoskopie OmniScan X3?

M. Tessier: Są niezwykle przydatne. Do tej pory korzystaliśmy z innych defektoskopów wyposażonych w tę funkcję, głównie do precyzyjnej analizy, ponieważ nie byliśmy w stanie uzyskać potrzebnych danych, używając urządzenia OmniScan MX2. Pracując na defektoskopie OmniScan X3, nie potrzebujemy już innych urządzeń — nawet do wykrywania uszkodzeń spowodowanych przez wysokotemperaturowy atak wodorowy (HTHA). Dzięki temu ograniczyliśmy ilość sprzętu w laboratorium. Przeprowadziliśmy badania metodą TFM na różnych wzorcach odniesienia. Wyniki są rozstrzygające. Wielogrupowa metoda TFM oferuje możliwość inspekcji do czterech grup jednocześnie. Z chęcią przeprowadziłbym więcej testów z jej wykorzystaniem. Kolejną atrakcyjną funkcją, niedostępną na innych urządzeniach, jest Acoustic Influence Map (AIM) do opracowywania mapy wpływu akustycznego. Symuluje ona przebieg wiązki i pozwala na sprawdzenie możliwych interakcji w zdefiniowanej strefie, co jest przydatne nie tylko w badaniach, ale i do celów edukacyjnych.

Powiązane treści

3 sposoby, w jakie narzędzie do planowania skanów w defektoskopie OmniScan X3 ułatwia organizację pracy

A jak Ty wykorzystujesz nasze urządzenia? Podziel się swoją historią!

Opracowanie: TFM Acoustic Influence Map


Warto nawiązać kontakt
撰稿人

Sarah Williams曾在广播媒体行业担任过近十年的研究员和文案撰稿人。现在,Sarah运用其写作和编辑技能,就与Evident各种无损检测(NDT)解决方案相关的主题,创作了令人信服的高质量资料。她撰写的文章涉及最新的远程视觉、显微镜、超声波、涡流和相控阵技术。她还探讨了这些技术在改善我们周围世界的质量和安全方面的应用和贡献。Sarah在魁北克市的办公室工作,她与伴侣大卫和三个孩子Sophie、Anouk和Éloi居住在魁北克市。

三月 19, 2020
Sorry, this page is not available in your country
InSight Blog Sign-up
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country