Evident LogoOlympus Logo
洞见博客

Akronimy i skróty związane z techniką XRF: krótki przewodnik

作者  -
Akronimy związane z techniką XRF

W materiałach poświęconych fluorescencji rentgenowskiej (XRF), między innymi w naszym serwisie internetowym — a także w swojej pracy — możesz natknąć się na liczne akronimy i skróty. Ten krótki przewodnik pomoże Ci zorientować się w ich znaczeniu.

XRF

XRF = X-ray fluorescence = fluorescencja rentgenowska. Jest to szybka, nieniszcząca metoda badania składu pierwiastkowego materiałów. Tutaj możesz dowiedzieć się więcej o technice XRF.

Podobne akronimy:

  • EDXRF = energy dispersive X-ray fluorescence = fluorescencja rentgenowska z dyspersją energii. Szybka, ekonomiczna technika XRF używana w ręcznych analizatorach XRF.
  • WDXRF = wavelength dispersive X-ray fluorescence = fluorescencja rentgenowska z dyspersją długości fali. Laboratoryjna technika XRF charakteryzująca się wyższym kosztem niż EDXRF.
  • HHXRF = handheld XRF = ręczny analizator XRF
  • pXRF = portable XRF = przenośny analizator XRF

Detektory

W ręcznych analizatorach XRF stosowane są dwa typy detektorów:

  • PIN = silicon pin diode detector = detektor krzemowy z diodą PIN. Technika starsza, mniej kosztowna i działająca wolniej niż SDD.
  • SDD = silicon drift detector = dryftowy detektor krzemowy. Nowsza technika, która pozwala zliczyć około 10-krotnie więcej zdarzeń wywoływanych przez promieniowanie rentgenowskie niż metoda PIN.

Dowiedz się, jak wybrać typ detektora najlepszy do Twojego zastosowania.

Pierwiastki

LE = light elements = pierwiastki lekkie. Pierwiastki lekkie charakteryzują się niższymi energiami promieniowania rentgenowskiego, które trudniej jest wykryć za pomocą detektora analizatora XRF.

To, które pierwiastki uznawane są za lekkie, zależy od kontekstu. Następujące pierwiastki, które można mierzyć za pomocą ręcznych analizatorów XRF, nazywamy często lekkimi:

  • Magnez (Mg)
  • Glin (Al)
  • Krzem (Si)
  • Fosfor (P)
  • Siarka (S)
  • Chlor (Cl)
  • Potas (K)
  • Wapń (Ca)

Te pierwiastki lekkie są mierzalne tylko za pomocą detektorów SDD.

W innych kontekstach przez pierwiastki lekkie rozumiemy pierwiastki o niskiej liczbie atomowej, których nie można mierzyć za pomocą ręcznych analizatorów XRF. Należą do nich sód (Na), węgiel (C), wodór (H) i tlen (O).

analiza pierwiastkowa za pomocą ręcznych analizatorów XRF

Od wodoru (H) do sodu (Na): te pierwiastki lekkie (oznaczone na niebiesko) są zbyt lekkie, by można je było mierzyć za pomocą ręcznych analizatorów XRF. Od magnezu (Mg) do skandu (Sc): te pierwiastki (oznaczone na żółto) są za lekkie do pomiarów detektorem PIN — ręczny analizator XRF musi być wyposażony w detektor SDD.

Metody kalibracji

FP = fundamental parameters = parametry fundamentalne. Metoda obliczeń/kalibracji stosowana w detektorze XRF, która uwzględnia oddziaływania między pierwiastkami wynikające z fundamentalnych cech fizycznych atomów. FP to ważne narzędzie do badania próbek o dużej gęstości (np. większości metali).

CN = Compton normalization = normalizacja efektu Comptona. Prostsza metoda obliczeń/kalibracji odpowiednia do próbek o mniejszej gęstości.

Identyfikacja materiałów

PMI = positive material identification = pozytywna identyfikacja materiałów. Identyfikację PMI stosuje się, gdy newralgiczne znaczenie ma gatunek materiału użytego do wytworzenia elementu, takiego jak rura, zawór, spoina czy zbiornik ciśnieniowy. Polega ona na wysoce selektywnym badaniu składu chemicznego materiału w celu szybkiego i dokładnego określenia gatunku stopu. Dowiedz się więcej o zastosowaniu ręcznych analizatorów XRF do identyfikacji PMI.

Analiza

LOD = limit of detection = granica wykrywalności. LOD to najmniejsza zawartość danego pierwiastka w materiale, jaką możemy wykryć. Gdy pierwiastek jest obecny w tak niewielkiej ilości, jej liczbowe określenie (kwantyfikacja) może być utrudnione.

LOQ = limit of quantification = granica kwantyfikacji. Granica LOQ jest około 3-krotnie wyższa niż LOD. Począwszy od wartości LOQ liczbowe wyniki pomiaru ilości stają się bardziej wiarygodne.

Modele analizatorów Vanta

Nasze analizatory Vanta™ XRF są oznaczone unikalnymi 3-literowymi akronimami, które opisują różne kombinacje cech odpowiednie do różnych zastosowań i potrzeb analitycznych.

3-literowy skrót opisuje trzy ważne komponenty: nazwę rodziny Vanta, serię i typ lampy rentgenowskiej. Przykłady: VMR, VCR, VCA i VLW. W pierwszym przykładzie V= Vanta, M = seria M, R = lampa rentgenowska z anodą rodową.

Pełną listę serii i typów lamp w rodzinie Vanta zamieszczono poniżej:

Seria Vanta

M, C, L: stosujemy cyfry rzymskie oznaczające poziom kosztu/wydajności. Im wyższa cyfra rzymska, tym wyższa wydajność. M to seria najwyższa, po niej następuje C, a następnie L.

Podział lamp rentgenowskich ze względu na rodzaj anody

R = lampa rentgenowska z anodą rodową (Rh). Najlepsza do pomiaru pierwiastków lekkich. Szczególnie szybko mierzy zawartość magnezu (Mg), pierwiastka o zasadniczym znaczeniu dla określenia klasy aluminium — dlatego jest najlepszym wyborem w większości zastosowań związanych z badaniem stopów.

W = lampa rentgenowska z anodą wolframową (W). Wolfram (W) i podobne materiały ciężkie najlepiej nadają się do pomiaru pierwiastków wysokoenergetycznych, takich jak kadm, które są istotne w badaniach pod kątem dyrektywy RoHS (w sprawie ograniczenia stosowania niebezpiecznych substancji).

A = lampa rentgenowska z anodą srebrną (Ag). Najbardziej uniwersalna. Srebro nie jest tak dobre do pomiaru magnezu, jak rod, ani tak dobre do pomiaru kadmu, jak wolfram, ale stanowi ekonomiczny kompromis.

Mamy nadzieję, że nasza lista okazała się pomocna. Zachęcamy do utworzenia zakładki do listy, by później łatwo do niej wracać. Czekamy także na propozycje akronimów, które powinniśmy dodać!

Powiązane treści

Który analizator XRF jest odpowiedni dla mnie?

Detektor SDD czy PIN: którego potrzebuję w ręcznym analizatorze XRF?

E-book o fluorescencji rentgenowskiej: Cutting Out the Noise

Portable Products Manager, Analytical Instruments

Ted has worked at Olympus for more than 11 years and has overseen the introduction of numerous innovations to the XRF product lines with a focus on bringing laboratory-quality data to the portable market. Ted has a Master's degree in Applied Physics and holds four patents.

十二月 8, 2020
Sorry, this page is not available in your country
InSight Blog Sign-up
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country