Światło odbite lub światło odbite/światło przechodzące
Światło odbite lub światło odbite/światło przechodzące
Światło odbite
Światło przechodzące
Standardowy
Opcja
-
-
Prosty oświetlacz
-
-
-
-
Legenda apertury
-
-
Kodowany sprzęt
-
-
Indeks skali ostrości
Moduł zarządzania natężeniem światła
-
-
Obsługa za pomocą przełącznika ręcznego
-
-
Obserwacja MIX
-
-
Obiektywy
Do wyboru 3 obiektywy odpowiednio do zastosowania
Do wyboru 3 obiektywy odpowiednio do zastosowania
Obiektywy do obserwacji w podczerwieni
Obiektywy do obserwacji w świetle spolaryzowanym
Stolik
Do wyboru 5 stolików odpowiednio do rozmiaru próbek
Do wyboru 5 stolików odpowiednio do rozmiaru próbek
Stolik do obserwacji w świetle spolaryzowanym
METODA OBSERWACJI
R-BF: jasne pole (światło odbite)
T-BF: jasne pole (światło odbite/światło przechodzące)
DF: ciemne pole
DIC: kontrast różnicowo-interferencyjny/polaryzacja prosta
MIX: MIX
FL: fluorescencja
IR: podczerwień
POL: polaryzacja
*Metody T-BF można używać po wybraniu ramy mikroskopu do obserwacji w świetle odbitym/świetle przechodzącym.
: Standard : Opcja
Przykładowe konfiguracje dla materiałoznawstwa
Modułowa konstrukcja umożliwia wybór konfiguracji dostosowanej do konkretnych wymagań użytkownika.
Poniżej przedstawiono przykładowe konfiguracje dla materiałoznawstwa.
Konfiguracja mikroskopu BX53M — obserwacja w świetle odbitym i w świetle odbitym/świetle przechodzącym
W serii BX3M dostępne są dwa typy ram mikroskopu — jedna przeznaczona wyłącznie do obserwacji w świetle odbitym, a druga do obserwacji w świetle odbitym i przechodzącym. Obie ramy można skonfigurować w taki sposób, aby zawierały podzespoły ręczne, kodowane lub zmotoryzowane. Ramy są wyposażone w możliwość blokowania wyładowań elektrostatycznych, aby chronić próbki elektroniczne.
BX53MRF-S — przykładowa konfiguracja
BX53MTRF-S — przykładowa konfiguracja
Konfiguracja mikroskopu BX53M — obserwacja w podczerwieni
Obiektywy IR mogą być używane do zastosowań takich jak kontrola, wykonywanie pomiarów i obróbka półprzewodników, podczas których wymagane jest prowadzenie obrazowania przez warstwy krzemowe w celu obserwacji matrycy. Obiektywy do obserwacji w podczerwieni (IR) dostępne są w wariantach o powiększeniu od 5X do 100X, z korekcją aberracji chromatycznej od długości światła widzialnego do bliskiej podczerwieni. Podczas pracy przy dużych powiększeniach aberracje wywołane grubością próbki koryguje się, obracając kołnierz korekcyjny obiektywów z serii LCPLNIR. Wyraźny obraz można uzyskać za pomocą jednego obiektywu.
Konfiguracja mikroskopu BX53M — obserwacja w świetle spolaryzowanym
Układ optyczny dostępny w konfiguracji mikroskopu BX53M przeznaczonej do obserwacji w świetle spolaryzowanym udostępnia geologom narzędzia odpowiednie do prowadzenia wysokokontrastowego obrazowania w świetle spolaryzowanym. Stabilność systemu i precyzyjne wyrównywanie elementów układu optycznego są wysoce korzystne w przypadku zastosowań takich jak identyfikacja minerałów, badanie właściwości optycznych kryształów i obserwacja części skał litych.
BX53-P — konfiguracja ortoskopowa
BX53-P — konfiguracja konoskopowa/ortoskopowa
Soczewka Bertranda do obserwacji konoskopowych i ortoskopowych
Przystawka do obserwacji konoskopowych U-CPA ułatwia i przyspiesza przełączanie widoku między obserwacją ortoskopową a obserwacją konoskopową. Regulacja ogniskowej zapewnia uzyskiwanie wyraźnych wzorów interferencji tylnej płaszczyzny ogniskowania. Przysłona polowa Bertranda umożliwia generowanie jednolicie ostrych i wyraźnych obrazów konoskopowych.
Szeroka gama kompensatorów i płytek falowych
Dostępnych jest sześć różnych kompensatorów przeznaczonych do pomiarów dwójłomności w cienkich warstwach skał i minerałów. Zakres poziomu opóźnienia pomiaru wynosi od 0 do 20 λ. Aby ułatwić wykonywanie pomiarów i zwiększyć kontrast obrazu, można używać kompensatorów Bereka i Senarmonta, które zmieniają poziom opóźnienia w całym polu widzenia.
Zakres pomiarowy kompensatorów
Kompensator
Zakres pomiarowy
Główne zastosowanie
Gruby Bereka (U-CTB)
od 0 do 11 000 nm
(20 λ)
Pomiar wysokiego poziomu opóźnienia (R*>3 λ)
(kryształy, makrocząsteczki, włókna itd.)
Bereka (U-CBE)
od 0 do 1640 nm
(3 λ)
Pomiar poziomu opóźnienia
(kryształy, makrocząsteczki, żywe organizmy itd.)
Kompensator Senarmonta (U-CSE)
od 0 do 546 nm
(1 λ)
Pomiar poziomu opóźnienia (kryształy, żywe organizmy itd.)
Wzmocnienie kontrastu obrazu (żywe organizmy itd.)
Kompensator Brace'a-Koehlera
1/10 λ (U-CBR1)
od 0 do 55 nm
(1/10 λ)
Pomiar niskiego poziomu opóźnienia (żywe organizmy itd.)
Wzmocnienie kontrastu obrazu (żywe organizmy itd.)
Kompensator Brace'a-Koehlera
1/30 λ (U-CBE2)
od 0 do 20 nm
(1/30 λ)
Pomiar kontrastu obrazu (żywe organizmy itd.)
Klin kwarcowy (U-CWE2)
od 500 do 2200 nm
(4 λ)
Szacunkowy pomiar poziomu opóźnienia
(kryształy, makrocząsteczki itd.)
*R = poziom opóźnienia
W celu uzyskania dokładniejszych pomiarów zalecane jest korzystanie z kompensatorów (z wyjątkiem U-CWE2) w połączeniu z filtrem interferencyjnym 45-IF546.
Układ optyczny wolny od naprężeń
Dzięki zaawansowanej konstrukcji i technologii produkcyjnej firmy Olympus stosowanej w obiektywach UPLFLN-P maksymalnie zmniejszono naprężenia wewnętrzne. Oznacza to wyższą wartość EF, co przekłada się na doskonały kontrast obrazu.
System BXFM można zaadaptować do specjalnych zastosowań lub zintegrować z innymi przyrządami. Dzięki modułowej konstrukcji systemu można go łatwo zaadaptować do unikalnych środowisk i wybrać konfigurację z różnorodnymi małymi oświetlaczami i mocowaniami odpowiednimi do specjalnych zastosowań.
Dzięki modułowej konstrukcji stworzysz dokładnie taki system, jakiego potrzebujesz
Ramy mikroskopu
Oferowane są dwie ramy mikroskopu przeznaczone do obserwacji w świetle odbitym; jedna z nich jest również przystosowana do obserwacji w świetle przechodzącym. Dostępny jest adapter, który umożliwia uniesienie oświetlacza w celu obserwacji wyższych próbek.
Światło odbite
Światło przechodzące
Wysokość próbki
1
BX53MRF-S
■
-
od 0 do 65 mm
2
BX53MTRF-S
■
■
od 0 do 35 mm
1, 3
BX53MRF-S + BX3M-ARMAD
■
-
od 40 do 105 mm
2, 3
BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD
■
■
od 40 do 75 mm
Akcesoria ułatwiające pracę z mikroskopem
-
HP-2
Ręczny docisk
-
COVER-018
Osłona przeciwpyłowa
Stojaki
W przypadku zastosowań w mikroskopii, podczas których próbka nie mieści się na stoliku, oświetlacz i elementy optyczne można przymocować do większego stojaka lub innego elementu wyposażenia.
Konfiguracja z oświetlaczem BXFM + BX53M
1
BXFM-F
Do ramy przyłączony jest słupek o rozmiarze 32 mm mocowany do ściany
2
BX3M-ILH
Uchwyt na oświetlacz
3
BXFM-ILHSPU
Sprężyna dla BXFM
6
SZ-STL
Duży stojak
Konfiguracja z oświetlaczem BXFM + U-KMAS
1
BXFM-F
Do ramy przyłączony jest słupek o rozmiarze 32 mm mocowany do ściany
4
BXFM-ILHS
Uchwyt na U-KMAS
5
U-ST
Stojak
6
SZ-STL
Duży stojak
Nasadki obserwacyjne
W przypadku obrazowania mikroskopowego przy użyciu okularów lub w przypadku obserwacji przez kamerę należy dobrać nasadki obserwacyjne odpowiednio do typu obrazowania oraz postawy operatora podczas obserwacji.
FN
Typ
Typ regulacji kąta
Obraz
Liczba mechanizmów
regulacji dioptrii
1
U-TR30-2
22
Trinokular
Ust. w stałej pozycji
Odwrócony
1
2
U-TR30IR
22
Trinokular do podczerwieni
Ust. w stałej pozycji
Odwrócony
1
3
U-ETR-4
22
Trinokular
Ust. w stałej pozycji
Prosty
-
4
U-TTR-2
22
Trinokular
Przechylanie
Odwrócony
-
5
U-SWTR-3
26,5
Trinokular
Ust. w stałej pozycji
Odwrócony
-
6
U-SWETTR-5
26,5
Trinokular
Przechylanie
Prosty
-
7
U-TLU
22
Jeden port
-
-
-
Oświetlacze
Oświetlacz emituje światło na próbkę w sposób odpowiedni do wybranej metody obserwacji. Oprogramowanie łączy się z kodowanymi oświetlaczami w celu odczytu pozycji kostki filtrowej i automatycznego rozpoznania metody obserwacji.
Funkcja kodowana
Źródło światła
BF
DF
DIC
POL
IR
FL
MIX
AS/FS
1
BX3M-RLAS-S
Pozycja – 3 kostki, montaż na stałe
LED — wbudowane
■
■
■
■
-
-
■
■
2
BX3M-URAS-S
Pozycja — 4 kostki, mocowane
LED
■
■
■
■
-
-
■
■
Halogen
■
■
■
■
■
-
■
■
Lampa rtęciowa/światłowód
■
■
■
■
-
■
■
■
3
BX3M-RLA-S
LED
■
■
■
■
-
-
■
■
Halogen
■
■
■
■
■
-
■
■
4
BX3M-KMA-S
LED — wbudowane
■
-
■
■
-
-
■
-
5
BX3-ARM
Ramię mechaniczne do obserwacji w świetle przechodzącym
6
U-KMAS
LED
■
-
■
■
-
-
■
-
Halogen
■
-
■
■
■
-
■
-
Źródła światła
Źródła światła i urządzenia zasilające do oświetlania próbki. Należy dobrać odpowiednie źródło światła do metody obserwacji.
Konfiguracja ze standardowym źródłem światła LED
1
BX3M-LEDR
Oprawa źródła LED dla światła odbitego
2
U-RCV
Konwerter DF dla BX3M-URAS-S, w określonych przypadkach wymagany do przeprowadzenia obserwacji DF i BF
3
BX3M-PSLED
Zasilacz do oprawy źródła LED, wymaga systemu BXFM
4
BX3M-LEDT
Oprawa źródła LED dla światła przechodzącego
Konfiguracja ze źródłem światła fluorescencyjnego
5
U-LLGAD
Adapter światłowodu
2
U-RCV
Konwerter DF dla BX3M-URAS-S, w określonych przypadkach wymagany do przeprowadzenia obserwacji DF
6
U-LLG150
Światłowód, długość: 1,5 m
7
U-LGPS
Źródło światła fluorescencyjnego
8, 9
U-LH100HG (HGAPO)
Oprawa lampy rtęciowej dla światła fluorescencyjnego
2
U-RCV
Konwerter DF dla BX3M-URAS-S, w określonych przypadkach wymagany do przeprowadzenia obserwacji DF
10
U-RFL-T
Zasilacz do lampy rtęciowej 100 W
Konfiguracja ze źródłem halogenowym i źródłem halogenowym światła podczerwonego
11
U-LH100IR
Oprawa lampy halogenowej dla podczerwieni
12
U-RMT
Przedłużacz do oprawy lampy halogenowej, długość przewodu 1,7 m{(w określonych przypadkach wymaga dodatkowego przedłużacza)
13, 14
TH4-100 (200)
Zasilacz o napięciu znamionowym 100 V (200 V) do lampy halogenowej 100 W/50 W
15
TH4-HS
Przełącznik ręczny do zmiany natężenia oświetlenia halogenowego (ściemniacz TH4-100 (200) bez przełącznika ręcznego)
Końcówki obiektywów
Przystawka do obiektywów i suwaków. Dobierana z uwzględnieniem potrzebnej liczby obiektywów i ich typów oraz tego, czy wymagana jest przystawka z suwakiem.
Typ
Otwory
BF
DF
DIC
MIX
ESD
Liczba otworów
centrujących
1
U-P4RE
Ręczny
4
■
■
4
2
U-5RE-2
Ręczny
5
■
3
U-5RES-ESD
Kodowany
5
■
■
4
U-D6RE
Ręczny
6
■
■
5
U-D6RES
Kodowany
6
■
■
6
U-D5BDREMC
Zmotoryzowany
5
■
■
■
■
7
U-D6BDRE
Ręczny
6
■
■
■
■
8
U-D5BDRES-ESD
Kodowany
5
■
■
■
■
■
9
U-D6BDRES-S
Kodowany
6
■
■
■
■
■
10
U-D6REMC
Zmotoryzowany
6
■
■
11
U-D6BDREMC
Zmotoryzowany
6
■
■
■
■
■
Suwaki
Można wybrać suwak pozwalający na uzupełnienie tradycyjnej obserwacji w jasnym polu o dodatkowe techniki. Suwak DIC umożliwia uzyskanie informacji o topografii próbki; dostępne są opcje maksymalizacji kontrastu albo rozdzielczości. Suwak MIX zapewnia swobodę regulacji oświetlenia przy użyciu segmentowego źródła LED w drodze pola ciemnego.
Suwak DIC
Typ
Opór
Dostępne obiektywy
1
U-DICR
Standardowy
Średni
MPLFLN, MPLAPON, LMPLFLN i LCPLFLN-LCD
Suwak MIX
Dostępne obiektywy
2
U-MIXR
MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD
Przewód
U-MIXRCBL*
Przewód U-MIXR, długość przewodu: 0,5 m
*Wyłącznie MIXR
Moduły sterowania i przełączniki ręczne
Moduły sterowania przeznaczone do łączenia elementów sprzętowych mikroskopu z komputerem oraz przełączniki ręczne umożliwiające sterowanie mechanizmami i wyświetlanie związanych z nimi informacji.
Przewód do zmotoryzowanej końcówki obiektywu, długość przewodu: 0,2 m
Stoliki
Stoliki i płytki na stolik do umieszczania próbki. Dobierane do kształtu i rozmiaru próbki.
Konfiguracja ze stolikiem 150 mm x 100 mm
1
U-SIC64
Stolik 150 mm × 100 mm z płaską górną częścią i rękojeścią
2
U-SHG (T)
Gumka na rękojeść wykonana z gumy silikonowej (grubego typu)
3
U-SP64
Płytka na stolik dla U-SIC64
4
U-WHP64
Płytka na wafel dla U-SIC64
5
BH2-WHR43
Uchwyt na wafel, rozmiar 4-3″
6
BH2-WHR54
Uchwyt na wafel, rozmiar 5-4″
7
BH2-WHR65
Uchwyt na wafel, rozmiar 6-5″
8
U-SPG64
Płytka szklana dla U-SIC64
Konfiguracja ze stolikiem 76 mm x 52 mm
13
U-SVRM
Stolik 76 mm × 52 mm z rękojeścią po prawej stronie
2
U-SHG (T)
Gumka na rękojeść wykonana z gumy silikonowej (grubego typu)
14
U-MSSP
Płytka na stolik dla U-SVR (/L) M
15, 16
U-HR (L) D-4
Uchwyt na cienkie szkiełka przeznaczony dla otworu po prawej (lewej) stronie
17, 18
U-HR (L) DT-4
Uchwyt na grube szkiełka przeznaczony dla otworu po prawej (lewej) stronie; do dociskania szkiełka do górnej powierzchni stolika; uniesienie próbki sprawia trudności
Konfiguracja ze stolikiem 100 mm x 100 mm
9
U-SIC4R2
Stolik 105 mm × 100 mm z rękojeścią po prawej stronie
10
U-MSSP4
Płytka na stolik dla U-SIC4R (L) 2
11
U-WHP2
Płytka na wafel dla U-SIC4R (L) 2
6
BH2-WHR43
Uchwyt na wafel, rozmiar 4-3″
12
U-MSSPG
Płytka szklana dla U-SIC4R
Inne
19
U-SRG2
Obrotowy stolik
20
U-SRP
Obrotowy stolik do obserwacji POL, możliwość blokady pod kątem 45° z dowolnej pozycji
21
U-FMP
Mechaniczny stolik dla U-SRP/U-SRG2
Adaptery do kamer
Adapter do obserwacji przez kamerę. Dobierany odpowiednio do żądanego pola widzenia i powiększenia. Rzeczywisty zakres obserwacji można obliczyć ze wzoru: rzeczywiste pole widzenia (przekątna w mm) = pole obserwacji (numer) ÷ powiększenie obiektywu.
Powiększenie
Regulacja wycentrowania
Pole obrazu matrycy CCD (numer pola) mm
2/3 cala
1/1,8 cala
1/2 cala
1
U-TV1x-2 z U-CMAD3
1
-
10,7
8,8
8
2
U-TV1xC
1
ø2 mm
10,7
8,8
8
3
U-TV0.63xC
0,63
-
17
14
12,7
4
U-TV0.5xC-3
0,5
-
21,4
17,6
16
5
U-TV0.35xC-2
0,35
-
-
-
22
6
U-TV0.25xC
0,25
-
-
-
-
Okulary
Okular przeznaczony do patrzenia bezpośrednio przez mikroskop. Dobierany odpowiednio do żądanego pola widzenia.
FN (mm)
Mechanizm regulacji dioptrii
Wbudowana siatka krzyżowa
1
WHN10x
22
2
WHN10x-H
22
■
3
CROSS WHN10x
22
■
■
4
SWH10x-H
26,5
■
5
CROSS SWH10x
26,5
■
■
Filtry optyczne
Filtry optyczne przekształcają światło ekspozycji próbki na różne typy oświetlenia. Filtr należy dobrać tak, aby uzyskać wymagane warunki obserwacji.
BF, DF, FL
1, 2
U-25ND25,6
Filtr o gęstości obojętnej, transmitancja 25%, 6%
3
U-25LBD
Filtr barwny do światła dziennego
4
U-25LBA
Filtr barwny do oświetlenia halogenowego
5
U-25IF550
Filtr zielony
6
U-25L42
Filtr wycinający promieniowanie ultrafioletowe
7
U-25Y48
Filtr żółty
8
U-25FR
Filtr frost (wymagany dla BX3M-URAS-S)
POL, DIC
9
U-AN-2
Stały kierunek polaryzacji
10
U-AN360-3
Możliwość obrotu kierunku polaryzacji
11
U-AN360P-2
Możliwość obrotu kierunku polaryzacji o wysokiej jakości
12
U-PO3
Stały kierunek polaryzacji
13
U-POTP3
Stały kierunek polaryzacji, do użytku z U-DICRH
14
45-IF546
Zielony filtr ø45 mm do obserwacji w świetle spolaryzowanym
IR
15
U-AN360IR
Możliwość obrotu kierunku polaryzacji IR (ograniczenie halacji przy obserwacji IR w przypadku stosowania w połączeniu z produktami U-AN360IR i U-POIR)
16
U-POIR
Stały kierunek polaryzacji IR
17
U-BP1100IR
Filtr pasmowoprzepustowy: 1100 nm
18
U-BP1200IR
Filtr pasmowoprzepustowy: 1200 nm
Światło przechodzące
19
43IF550-W45
Zielony filtr ø45 mm
20
U-POT
Filtr polaryzatora
Inne
22
U-25
Pusty filtr, do użytku z filtrami ø25 mm użytkownika
*W przypadku stosowania produktów BX3M-RLAS-S i U-FDICR filtry AN i PO nie są wymagane
Kondensory
Kondensory zbierają i skupiają światło przechodzące. Są używane do obserwacji w świetle przechodzącym.
1
U-AC2
Kondensor Abbego (dostępny dla obiektywów o powiększeniu od 5x)
2
U-SC3
Kondensor wychylny (dostępny dla obiektywów o powiększeniu od 1,25x)
3
U-LWCD
Kondensor o dużej odległości roboczej dla płytki szklanej
(U-MSSPG, U-SPG64)
4
U-POC-2
Kondensor wychylny do obserwacji w świetle spolaryzowanym
Zespoły zwierciadeł
Zespół zwierciadeł dla systemu BX3M-URAS-S. Należy dobrać zespół do specyfiki obserwacji.
1
U-FBF
Do BF, odłączany filtr ND
2
U-FDF
Do DF
3
U-FDICR
Do POL, stałe warunki przejścia przez nikol
4
U-FBFL
Do BF, wbudowany filtr ND (konieczne jest stosowanie zarówno BF*, jak i FL)
5
U-FWUS
Do fluorescencji w świetle UV: BP330-385 BA420 DM400
6
U-FWBS
Do fluorescencji niebieskiej: BP460-490 BA520IF DM500
7
U-FWGS
Do fluorescencji zielonej: BP510-550 BA590 DM570
8
U-FF
Pusty zespół zwierciadeł
*Wyłącznie do współosiowego episkopowego oświetlenia
Nasadki pośrednie
Różne typy akcesoriów przeznaczone do różnych zastosowań. Do użytku między nasadką obserwacyjną a oświetlaczem.
1
U-CA
Zmieniacz powiększenia (1X, 1,25X, 1,6X, 2X)
2
U-TRU
Trinokularowa jednostka pośrednia
Obiektywy UIS2
Obiektywy powiększają próbkę. Należy wybrać obiektyw dopasowany do odległości roboczej, zdolności rozdzielczej i metody obserwacji właściwej dla danego zastosowania.