Gama 17 obiektywów, w tym obiektywów o wyjątkowo dużej odległości roboczej i dużej aperturze numerycznej, zapewnia elastyczność w uzyskiwaniu różnorodnych obrazów.
Obiektyw o wyjątkowo dużej odległości roboczej
Zapewnia dużą odległość roboczą między obiektywem a próbką.
Szybko wymienialne, kodowane przystawki obiektywu automatycznie aktualizują informacje o powiększeniu i polu obserwacji
Maksymalne powiększenie całkowite
(na monitorze)
7000X
Odległość robocza (W.D.)
66,1 mm – 0,35 mm
Dokładność (płaszczyzna X-Y)
Dokładność*1
±3%
Powtarzalność 3σ n-1
2%
Dokładność(oś Z)*2
Powtarzalność σ n-1
1 μm
Kamera
Matryca obrazująca
1/1,2 cala, 2,35 miliona pikseli, kolorowa CMOS
Chłodzenie
Za pomocą ogniwa Peltiera
Częstość klatek
60 kl./s (maksymalnie)
Standard
1200 × 1200 (1:1) / 1600 × 1200 (4:3)
Tryb 3CMOS
Niedostępny
1200 × 1200 (1:1) / 1600 × 1200 (4:3)
Tryb 3CMOS x funkcja pixel shift
Niedostępny
3600 × 3600 (1:1) / 4800 × 3600 (4:3)
Oświetlenie
Źródło światła kolorowego
LED
Trwałość użytkowa
60 000 h (wartość projektowa)
Obserwacja
BF (jasne pole)
Standard
OBQ (ukośna)
Standard
DF (ciemne pole)
Standard
Pierścień LED podzielony na cztery segmenty
MIX (jasne i ciemne pole)
Standard
Jednoczesna obserwacja BF + DF
PO (polaryzacja)
Standard
DIC (kontrast różnicowo-interferencyjny)
Niedostępny
Standard
Zwiększenie kontrastu
Standard
Zwiększenie głębi ostrości
Niedostępny
Standard
Światło przechodzące
Standard*3
Regulacja ostrości
Ogniskowanie
Ruch zmotoryzowany
Zakres ruchu
101 mm (ruch zmotoryzowany)
*1 Wymagana jest kalibracja przez serwis firmy Olympus lub dealera. W celu zagwarantowania dokładności XY wymagana jest kalibracja za pomocą DSX-CALS-HR (próbka kalibracyjna). Aby możliwe było wystawianie certyfikatów, konieczne jest wykonanie kalibracji przez technika serwisu firmy Olympus. *2 W przypadku użycia obiektywu 20X lub z wyższym powiększeniem. *3 Wymagany jest opcjonalny element DSX10-ILT.
Obiektyw
DSX10-SXLOB
DSX10-XLOB
UIS2
Soczewka obiektywu
Maksymalna wysokość próbki
50 mm
115 mm
145 mm
Maksymalna wysokość próbki
(do obserwacji pod dowolnym kątem)
50 mm
Odległość parafokalna
140 mm
75 mm
45 mm
Przystawki obiektywu
Zintegrowane z obiektywem
Dostępne
Powiększenie całkowite
20X–1400X
42X–5600X
23X*4–7000X
Rzeczywiste pole obserwacji (μm)
19 200 µm–270 µm
9 100 µm–70 µm
17 100 µm–50 µm
Adapter
Adapter rozproszeniowy (opcja)
Dostępny
Niedostępny
Adapter eliminujący odblaski (opcja)
Dostępny
Niedostępny
Przystawki obiektywu
Liczba obiektywów możliwa do podłączenia
Maks. 1 sztuka
(przystawka jest zintegrowana z soczewką)
Maks. 2 sztuki
Etui na obiektyw
Mieści trzy przystawki obiektywu
*4 Całkowite (maksymalne) powiększenie w przypadku używania MPLFLN1.25X
Stolik
DSX10-RMTS
DSX10-MTS
U-SIC4R2
Stolik XY: zmotoryzowany / ręczny
Ruch zmotoryzowany (z funkcją obrotu)
Ruch zmotoryzowany
Ruch ręczny
Zakresy ruchu XY
W trybie priorytetu dla ruchu liniowego: 100 mm × 100 mm
W trybie priorytetu dla obrotu: 50 mm × 50 mm
100 mm × 100 mm
100 mm × 105 mm
Kąt obrotu
W trybie priorytetu dla ruchu liniowego: ±20°
W trybie priorytetu dla obrotu: ±90°
Niedostępny
Wyświetlanie kąta obrotu
W graficznym interfejsie użytkownika
Niedostępne
Maksymalne obciążenie
5 kg (11 funtów)
1 kg (2,2 funta)
Rama
DSX-UF
DSX-TF
Zakres ruchu w osi Z
50 mm (ruch ręczny)
Obserwacja przy pochyleniu
Niedostępna
±90°
Wyświetlanie kąta pochylenia
Niedostępne
W graficznym interfejsie użytkownika
Metoda zmiany kąta pochylenia
Niedostępna
Ręczna, uchwyt do unieruchamiania i zwalniania
Pomiar
Pomiar płaszczyzny
Pomiar profilu
Pomiar kroku
Pomiar powierzchni/objętości
Analiza chropowatości linii
Analiza chropowatości powierzchni
Pomiar suwmiarką (opcja)
Analiza cząstek (opcja)
Wyświetlacz
23-calowy płaski wyświetlacz panelowy
Rozdzielczość
1920 (pozioma) × 1080 (pionowa)
Razem dla systemu
System z ramą pionową
System z ramą pochylaną
Masa (rama, głowica, stolik zmotoryzowany, wyświetlacz i konsola)
Powierzchnia klocka hamulcowego wpływa na jego cechy użytkowe, w tym siłę hamowania, stabilność termiczną, emisję hałasu i wytwarzanie ciepła. Mikroskopy cyfrowe są używane do sprawdzania, czy związki wykorzystane do produkcji klocka hamulcowego zostały prawidłowo wymieszane.
Mikroskopy cyfrowe są skutecznym narzędziem do analizy wad, takich jak pęknięcie drutu, odchylenia średnicy drutu, złuszczenie spoiny i przemieszczenie drutu, które mogą wystąpić podczas procesu wytwarzania połączeń.