Evident LogoOlympus Logo
显微镜解决方案

表面涂层和薄膜沉积物解决方案(覆膜行业)

Rozwiązania do kontroli powłok powierzchniowych i osadów cienkowarstwowych (branża lakiernicza i pokrewne)

Rozwiązania do kontroli powłok powierzchniowych i osadów cienkowarstwowych (branża lakiernicza i pokrewne)

Więcej informacji można znaleźć na stronach not aplikacyjnych

Powłoki powierzchniowe są mieszaninami substancji tworzących cienkie warstwy, zawierającymi pigmenty, rozpuszczalniki i inne dodatki, które po nałożeniu na powierzchnię i utwardzeniu lub wysuszeniu tworzą funkcjonalne, a często także ozdobne pokrycie. Do powłok powierzchniowych należą farby, oleje schnące i pokosty, syntetyczne lakiery bezbarwne oraz inne wyroby, których głównym zadaniem jest ochrona powierzchni przedmiotu przed czynnikami środowiskowymi. Wyroby te mogą także poprawiać estetykę przedmiotu, uwypuklając kształt powierzchni lub ukrywając niedoskonałości.


Ocena grubości cienkich powłok (metoda Calotest)

Rozwiązanie do pomiaru grubości powłok (cienka powłoka na podłożu metalowym zmierzona metodą Calotest)

Rozwiązanie do pomiaru grubości powłok (cienka powłoka na podłożu metalowym zmierzona metodą Calotest)

To rozwiązanie umożliwia pomiar grubości powłoki na podstawie obrazów widoku z góry przy użyciu metody Calotest. Metoda ta polega na wytworzeniu niewielkiego krateru w powłoce za pomocą frezu kulistego. Na podstawie informacji o kuli i geometrii próbki oprogramowanie oblicza grubość powłoki.

Najważniejsze funkcje
  • Użytkownik jest prowadzony przez proces wyboru kształtów i morfologii druku
  • Pomiary są łatwe do wykonania
  • Spełnia wymagania norm międzynarodowych
Typowe zastosowania
  • Powłoki CVD, PVD, powłoki natryskiwane plazmowo
  • Warstwy anodyzowane
  • Powierzchnie poddawane rozpylaniu jonowemu lub bombardowaniu jonami
  • Osady chemiczne i galwaniczne
  • Polimery, farby i lakiery
Powiązane funkcje
  • Różne filtry obrazów

Pomiary grubości warstw

Rozwiązanie do pomiaru grubości warstw (przekrój przez warstwę farby i podkładu na części stalowej)

Rozwiązanie do pomiaru grubości warstw (przekrój przez warstwę farby i podkładu na części stalowej)

Rozwiązanie to mierzy grubości warstw w kierunku prostopadłym do włókien neutralnych, z uwzględnieniem najkrótszej odległości, lub za pomocą nowej metody równoległej. Użytkownicy mogą teraz mierzyć warstwy o gładkich lub nierównych granicach. Najważniejsze funkcje Oprogramowanie do pomiaru grubości warstw wyznacza wartość średnią, maksymalną i minimalną oraz parametry statystyczne poszczególnych warstw. Granice warstw mogą być wyznaczane automatycznie, za pomocą „magicznej różdżki” lub w trybie ręcznym. Można później dodawać i usuwać poszczególne pomiary.
Najważniejsze funkcje
  • Możliwość wyboru różnych faz w automatycznym lub ręcznym trybie pomiaru lub trybie „magicznej różdżki”.
  • Automatyczny pomiar warstw wykonywany jest względem warstwy włókien neutralnych traktowanej jako warstwa odniesienia
  • Elastyczny wybór wielu punktów lub odległości pośrednich
Typowe zastosowania
  • Powłoki CVD, PVD, powłoki natryskiwane plazmowo
  • Warstwy anodyzowane
  • Osady chemiczne i galwaniczne
  • Polimery, farby i lakiery
Powiązane funkcje
  • EFI i MIA

Pomiary ułamka pola powierzchni porów i gęstości

Rozwiązanie do badania porowatości (przekrój powłoki z węglików w procesie naparowywania termicznego)

Rozwiązanie do badania porowatości (przekrój powłoki z węglików w procesie naparowywania termicznego)

Rozwiązanie do badania porowatości w oprogramowaniu OLYMPUS Stream obejmuje narzędzie do pomiaru ułamka pola powierzchni i liczby porów na przekrojach i powłokach. Oprogramowanie stosuje metodę progową do odróżniania porów od podłoża na obrazach kolorowych i w skali szarości. Gęstość porów i rozmiar największego poru są obliczane dla każdego wybranego obszaru zainteresowania i dla całego obrazu.

Najważniejsze funkcje
  • Kilka dostępnych technik wyznaczania progu
  • Możliwość ustalenia limitu rozmiaru poru
  • Możliwy jest pomiar w każdym obszarze zainteresowania osobno

Typowe zastosowania

  • Puste przestrzenie w materiałach chemicznych
  • Porowatość w piankach
Powiązane funkcje
  • MIA i EFI

Inne rekomendowane rozwiązania

  • Count and Measure (Zliczanie i pomiar)
  • Particle Distribution (Rozkład cząstek)
  • Extended Phase Analysis (Rozszerzona analiza faz)

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country