Evident LogoOlympus Logo
显微镜解决方案

电子行业解决方案(电子元器件/半导体行业)

Rozwiązania dla przemysłu elektronicznego (branży urządzeń elektronicznych i półprzewodników)

Rozwiązania dla przemysłu elektronicznego (branży urządzeń elektronicznych i półprzewodników)

Więcej informacji można znaleźć na stronach not aplikacyjnych

Postępująca miniaturyzacja urządzeń elektronicznych, takich jak komputery, kamery i smartfony, powoduje, że ich części — na przykład ramki wyprowadzeniowe układów scalonych czy złącza — także stają się coraz mniejsze. Na przykład średni standardowy odstęp między wyprowadzeniami złącza elektrycznego wynosi dziś zaledwie 0,2 mm. Na płytki drukowane nanoszone są bardzo cienkie powłoki. Weryfikacja ich jednorodności ma zasadnicze znaczenie dla zapewnienia jakości produktów.

Pomiar wgłębności

Rozwiązanie do badania wgłębności (przekrój otworu przelotowego w płytce drukowanej)

Rozwiązanie do badania wgłębności (przekrój otworu przelotowego w płytce drukowanej)

To rozwiązanie umożliwia pomiar rozkładu grubości powłoki miedzianej w otworach przelotowych i mikroprzelotkach (microvias), realizując wszystkie etapy tej niezbędnej kontroli płytek drukowanych. Mierzy głębokość wgłębienia, czyli różnicę wysokości między powłoką miedzianą w przelotce a powłoką wokół obwodu przelotki.

Najważniejsze funkcje
  • Ręczny pomiar wybranego punktu na obrazach przekroju próbki pozyskiwanych na żywo
  • Rozbudowana asysta dla użytkownika we wszystkich punktach, z uwzględnieniem geometrii próbki
  • Automatyczne korygowanie wyników w przypadku próbek niecałkowicie przeciętych przez środek otworu
Typowe zastosowania
  • Płytki drukowane HDI
Powiązane funkcje
  • Narzędzia ułatwiające regulację ostrości i akwizycję

Automatyczny pomiar newralgicznych wymiarów

Rozwiązanie do pomiarów automatycznych (struktura wafla)

Rozwiązanie do pomiarów automatycznych (struktura wafla)

To rozwiązanie realizuje pomiary na podstawie krawędzi wykrytych na obrazie pozyskiwanym na żywo przy użyciu technik rozpoznawania wzorców. Użytkownik może za pomocą oprogramowania tworzyć „skanery” do pomiaru odległości (punkt-punkt, okrąg-okrąg), średnicy okręgu, okrągłości okręgu i ramki ograniczającej (szerokość, długość, pole powierzchni). Zintegrowane narzędzie do weryfikacji oznacza każdy pomiar jako poprawny albo niepoprawny.

Najważniejsze funkcje
  • Zaawansowani użytkownicy mogą definiować program pomiaru
  • Program pomiaru może być realizowany przy użyciu sterownika bez ryzyka zmiany parametrów pomiaru lub tolerancji
  • Natychmiastowa sygnalizacja powodzenia lub niepowodzenia
Typowe zastosowania
  • Produkty półprzewodnikowe
Powiązane funkcje
  • Narzędzia ułatwiające regulację ostrości

Inne rekomendowane rozwiązania

  • 3D
  • Count and Measure (Zliczanie i pomiar)
  • Particle Distribution (Rozkład cząstek)
  • Porosity (Porowatość)
  • Extended Phase Analysis (Rozszerzona analiza faz)
     

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country