Specyfikacja oprogramowania objętego licencją główną
| ■: Standard □: Opcja | Start | Basic | Essentials | Motion | Desktop | |
| Akwizycja obrazów | Podstawowa akwizycja obrazów, w tym HDR i automatyczna kalibracja powiększenia oraz Live HDR*1, a także nawigacja do pozycji*1 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Programowy autofokus*2 i akwizycja filmów (w formacie avi) | ■ | ■ | ■ | |||
| Film poklatkowy, Instant EFI oraz MIA w trybie Instant/ręcznym*3 | □ | ■ | ■ | |||
| Akwizycja EFI/MIA i zwiększanie głębi ostrości (Z-stack) w mikroskopie zmotoryzowanym | □ | □ | ■ | |||
| Zdalna obserwacja na żywo (NetCam) | □ | □ | □ | |||
| Narzędzia do pracy z obrazami i adaptacji | Okna narzędzi podstawowych (historia obrazu, właściwości, nawigator, widok galerii)*4 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Adnotacje, zarządzanie warstwami, pasek skali, kursor krzyżowy, wyświetlanie stempli informacyjnych i filtry obrazów | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Cyfrowa kratka/siatka, wyświetlanie profilu liniowego, funkcja użytkownika, zarządzanie układem i Macro Manager | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
| Pomiary/analizy obrazów | Podstawowe pomiary interaktywne (odległość, kąty, prostokąty, okręgi, elipsy, wielokąty, odległość okrąg-okrąg, linijka do pomiaru kątów i linijka do pomiaru długości) oraz eksport danych do programu MS Excel | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Analiza faz, „magiczna różdżka”, polilinia dowolna, wielokąt interpolowany, filtr morfologii i operacje arytmetyczne na obrazie | □ | ■ | ■ | ■ | ||
| Pomiary 3D, pomiary profilu 3D i widok powierzchni 3D | □ | □ | ■ | ■ | ||
| Raportowanie*5 | Tworzenie raportów (formaty MS Word i MS Excel) | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Tworzenie prezentacji | □ | □ | □ | □ | ||
| Zarządzanie danymi | Składnica dokumentów Stream*6 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Baza danych grupy roboczej z ustrukturyzowanym formatem danych | □ | □ | □ | □ | ||
| Kompatybilność z urządzeniami | Mikroskopy marki Olympus*7 i kamery marki Olympus*8 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Kamery i konwerter obrazu źródłowego marek innych niż Olympus*9 | ■ | ■ | ■ | |||
| Sterownik stolika marki innej niż Olympus*9 | □ | □ | ■ | |||
| Wymagania dotyczące komputera PC | |
| Procesor (CPU) | Intel® Core i5, Intel® Core i7, Intel® Xeon |
| Pamięć RAM / dysk twardy / napęd DVD | Co najmniej 4 GB (zalecane 8 GB)/co najmniej 2,4 GB wolnego miejsca/zgodność z DVD+R DL |
| System operacyjny*10 | Windows 10 Pro (64-bitowy), Windows 8.1 (64-bitowy) Pro, Windows 7 (64-bitowy) Professional z dodatkiem SP1 |
| .NET Framework | Wersja 4.6.2 lub nowsza |
| Karta graficzna*11 | Monitor o rozdzielczości 1280 × 1024 z 32-bitową kartą wideo |
| Przeglądarka WWW | Windows Internet Explorer 8, 9, 10 lub 11 |
*1 Wymaga kamery DP74, funkcja Live HDR wymaga 64-bitowego systemu operacyjnego.
*2 Wymaga mikroskopu Olympus ze zmotoryzowaną osią Z lub zewnętrznej zmotoryzowanej osi Z i rozwiązania OLYMPUS Stream Motion lub Automation
*3 Funkcja Instant MIA może nie działać prawidłowo z niektórymi kamerami
*4 Zapis i odczyt plików we wszystkich popularnych formatach oraz otwieranie plików w zastrzeżonych formatach firmy Olympus (DSX, LEXT i POIR)
*5 Wymaga pakietu Microsoft Office 2019, 2016, 2013 (SP1) lub 2010 (SP2)
*6 Korzysta z serwera Microsoft SQL Server Express
*7 Obsługuje modele MX61A, MX61, MX61L, MX61A, MX63L, MX63, GX53, BX3M-CB, BX3M-CBFM, BX-UCB, BX-REMCB, IX-UCB, SZX-MDCU, SZX2-MDCU, U-CBS, STM7.
*8 Obsługuje modele DP21, DP22, DP23, DP26, DP27, DP28, DP73, DP74, LC20, LC30, SC30, SC50, SC100, SC180, UC30, UC50, UC90, XC10, XC30, XC50, XM10.
*9 Informacje o obsługiwanych urządzeniach można uzyskać od firmy Olympus
*10 DP74 obsługuje system Windows 10/8.1 (64-bitowy) i Windows 7 (32-bitowy/64-bitowy). Model DP73 obsługuje system Windows 8.1/7 (64-bitowy). Model SC180/UC90 obsługuje system Windows 10/8.1/7 (64-bitowy).
*11 Wymagana konfiguracja dla funkcji Live HDR w modelu DP74. Karta graficzna zgodna z architekturą CUDA firmy NVIDIA (wersja Compute Capability 2.1 lub wyższa). Sterownik karty graficznej zgodny z architekturą CUDA w wersji 9.1 lub wyższej.
Specyfikacja rozwiązań specjalnych
| Rozwiązania | Kompatybilność | Funkcje | ||
| Basic/Essentials | Motion | Desktop | Typ pomiaru | |
| 3D | □ | Uwzględniono | Częściowo uwzględniono* | Widok powierzchni 3D, pomiar 3D, pomiar profilu 3D, zwiększanie głębi ostrości (Z-stack)/EFI na instrumentach zmotoryzowanych, Instant EFI z mapą wysokości (wymaga kodowanej lub zmotoryzowanej osi Z). |
| Automation | □ | Uwzględniono | Rozwiązanie Automation (MIA w trybie zmotoryzowanym/ręcznym/Instant, EFI w trybie zmotoryzowanym/Instant bez mapy wysokości (wymaga kodowanej lub zmotoryzowanej osi XYZ), z techniką poklatkową. | |
| Weld Measurement (Pomiar spoin) | □ | □ | □ | Rozwiązanie do pomiaru spoin (pomiar zniekształceń geometrycznych wywołanych ogrzewaniem w trakcie spawania). |
| Count & Measure (Zliczanie i pomiar) | □ | □ | □ |
Dostępnych jest wiele metod wyznaczania progu (automatyczna, ręczna HSV, ręczna i adaptacyjna)
System może automatycznie mierzyć wiele parametrów wszystkich posegmentowanych obiektów (pole powierzchni, stosunek szerokości do wysokości, dwusieczna, prostokąt ograniczający, środek ciężkości, średnica wewnętrzna, środek masy, natężenia, wypukłość, średnice, wydłużenie, średnica Fereta, rozpiętość, odległość od następnego sąsiada, orientacja, obwód, promień, kształt, kulistość itd.) Arkusz kalkulacyjny i wykresy z poszczególnymi pomiarami i rozkładem. |
* Nie można korzystać z funkcji związanych z akwizycją obrazów
Specyfikacja rozwiązań materiałowych
| Rozwiązania | Kompatybilność | Forma wyników | ||||
| Basic | Essentials/Motion | Desktop | Automatyczne tworzenie raportów | Skoroszyt z poszczególnymi pomiarami | Zapisywanie wszystkich wyników we właściwościach obrazów | |
| Grain Intercept (Ziarna metodą siecznych) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Grain Planimetric (Ziarna metodą planimetryczną) | □ | □ | □ | ■ | ■*2 | ■ |
| Non-Metallic Inclusions (Wtrącenia niemetaliczne) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Cast Iron (Żeliwo) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Chart Comparison (Porównanie ze wzorcem) | □ | □ | □ | ■ | ■ | |
| Layer Thickness (Grubość warstwy) | □ | □ | □ | ■ | ■ | |
| Coating Thickness (Grubość powłoki) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Dendrite Arm Spacing (Odstęp między ramionami dendrytów) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Automatic Measurements (Pomiary automatyczne) | □ | □ | ■ | |||
| Throwing Power (Wgłębność) | □ | □ | ■ | ■ | ■ | |
| Porosity (Porowatość) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Particle Distribution (Rozkład cząstek) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Advanced Phase Analysis (Zaawansowana analiza faz) | □ | Uwzględniono | Uwzględniono | ■ | ■ | |
| Rozwiązania | Funkcje | ||
| Typ pomiaru | Uwzględnione normy |
Wiele położeń stolika*1 Wyrównywanie próbki*1 | |
| Grain Intercept (Ziarna metodą siecznych) |
Wybór wzoru (okręgi, krzyże, krzyże i okręgi, linie pionowe, linie poziome, linie poziome i pionowe)
Definiowanie liczby linii testowych używanych do określania wydłużenia ziaren Wyświetla wartość G w oknie narzędzia Material Solution | ASTM E112-13, ISO 643:2012, JIS G 0551:2013, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2002, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015) | ■ |
| Grain Planimetric (Ziarna metodą planimetryczną) |
Automatyczne wyodrębnianie granic ziaren
Interaktywne suwaki w oprogramowaniu Stream ułatwiają korzystanie z rozwiązania Wyświetla histogram wartości G w oknie Material Solution, a także nawigację do pozycji*1, umożliwiając bezpośrednią interakcję | ASTM E112-13, ISO 643:2012, JIS G 0551:2013, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2002, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015) | ■ |
| Non-Metallic Inclusions (Wtrącenia niemetaliczne) |
Automatyczne wykrywanie wtrąceń niemetalicznych na podstawie kolorów, kształtu i rozmiaru
Automatyczna klasyfikacja tlenków, siarczków, krzemianów i glinianów Wyświetlanie na bieżąco wykrytych wtrąceń wraz z ich ocenami | ASTM E45-18 (metoda A), DIN 50602:1985 (metoda M), ISO 4967:2013 (metoda A), GB/T 10561-2005 (metoda A, równoważna z ISO 4967), JIS G 0555:2003 (metoda A, równoważna z ISO 4967), UNI 3244:1980 (metoda M), EN 10247:2017 (metody P i M), SEP 1571:2017 (metody M i K), EN 10247:2007 (metody P i M, możliwe jako alternatywa dla EN10247:2017) | ■ |
| Cast Iron (Żeliwo) |
Na próbkach polerowanych: automatycznie mierzy charakterystykę zawartości grafitu (rozmiar, kształt i rozkład)
Na próbkach wytrawianych: mierzy stosunek ferrytu do perlitu Zintegrowana procedura uwzględniająca status próbki (wytrawiana lub polerowana) | EN ISO 945-1:2018, ASTM A247-17, JIS G 5502:2001, KS D 4302:2006, GB/T 9441-2009, ISO 16112:2017, JIS G 5505:2013, NF A04-197:2017, ASTM E2567-16a (tylko ocena sferoidalności) | |
| Chart Comparison (Porównanie ze wzorcem) |
Wiele form prezentacji, w tym nakładanie na żywo
Interaktywne suwaki w oprogramowaniu Stream ułatwiają korzystanie z rozwiązania Obliczanie parametrów statystycznych na podstawie wybranych wartości | ISO 643: 1983, ISO 643: 2012, ISO 945-1:2008, ASTM E 112: 2010, EN 10247: 2007, DIN 50602: 1985, SEP 1572: 1971, SEP 1520: 1998, ISO 4505:1978 | |
| Layer Thickness (Grubość warstwy) |
Granice warstw mogą być wyznaczane automatycznie, za pomocą „magicznej różdżki” lub w trybie ręcznym (na podstawie 2 lub 3 punktów).
Można później dodawać i usuwać poszczególne pomiary Możliwy jest pomiar warstw dowolnego rodzaju (z gładkimi lub nierównymi krawędziami). Funkcja pomiaru grubości warstw wyznacza wartość średnią, maksymalną i minimalną oraz parametry statystyczne poszczególnych warstw. | ||
| Coating Thickness (Grubość powłoki) |
Nadruki mierzone są w widoku z góry
Obliczanie grubości powłoki według geometrii próbki | EN 1071-2:2002, VDI 3824: 2001, ISO 26423:2016 | |
| Automatic Measurements (Pomiary automatyczne) |
Automatyczny pomiar odległości (punkt-punkt, punkt-linia, okrąg-okrąg, punkt-okrąg, linia-okrąg)
Automatyczny pomiar średnicy okręgu (okrągłość, prostokąt ograniczający) Automatyczny pomiar kątów między dwiema liniami Definiowanie wartości tolerancji na potrzeby pomiarów i weryfikacji wzrokowej Tryb eksperta i zwykłego użytkownika dla zapewnienia większej powtarzalności pomiarów | ■ | |
| Throwing Power (Wgłębność) |
Ręczny pomiar wybranego punktu zainteresowania w próbce
Predefiniowane punkty wybierane przez operatora Wybór typu przelotek i dokumentacja analizy Raportowanie i automatyczne obliczenia na podstawie pomiarów ręcznych | ||
| Porosity (Porowatość) |
Wykrywanie porów w obszarach zainteresowania (trójkąt, koło, prostokąt, wielokąt lub definiowany „magiczną różdżką”) z możliwością nakładania się obszarów
Pomiar gęstości, liczby i pola powierzchni porów Pomiar największego pora Pomiar określonego przedziału rozmiarów | VW 50093/ P6093:2012, | ■ |
| Particle Distribution (Rozkład cząstek) |
Cząstki definiuje się przy użyciu uproszczonych ustawień progu.
Automatyczna klasyfikacja na podstawie wybranego parametru (rozmiaru, koloru lub kształtu) Pomiar obszarów zainteresowania i wielu progów Definicja weryfikacji i kodowania zgodnie ze standardami zdefiniowanymi przez użytkownika | ■ | |
| Advanced Phase Analysis (Zaawansowana analiza faz) |
Ułamki faz w każdym z obszarów zainteresowania (trójkąt, koło, prostokąt lub wielokąt)
Do dyspozycji także: „magiczna różdżka”, polilinia dowolna, wielokąt interpolowany, filtr morfologii i operacje arytmetyczne na obrazie Pomiar całkowitego udziału procentowego faz z podziałem na fazy i obszary zainteresowania Możliwość określenia minimalnego wykrywanego pola powierzchni | ■ | |
*1 Opcja dostępna w pakiecie OLYMPUS Stream Motion i innych pakietach Stream z rozwiązaniem automatyzacyjnym
*2 Możliwe jest wygenerowanie tabeli oprogramowania Stream z rozkładem
Informacje dla klientów używających produktów z serii LEXT i DSX z oprogramowaniem OLYMPUS Stream
W przypadku niektórych kombinacji wersji oprogramowania istnieją pewne ograniczenia. Kliknij tutaj, aby uzyskać więcej informacji na ten temat.
Sorry, this page is not available in your country