当前存在的设备类型

相控阵超声检测是一种无损检测形式，其特点是多晶探头能够以不同的间隔和多个方向同时触发。

相控阵设备

与其他类型的超声测试设备一样，相控阵系统有多种型号，其复杂性和性能不断改进。相控阵仪器的基本型号使用16晶片的探头可以进行简单的扇形和线性扫查；而高级相控阵系统具有多通道性能，带有高级解读软件，并可以使用多达256个晶片的探头进行检测。请单击此处，了解我们的相控阵设备系列的更多信息。

什么是相控阵探头？

阵列探头是一种在单个外壳中包含多个晶片的探头，而相控是指这些晶片如何按顺序触发。一般来说，一个相控阵系统基于一个专用的超声探头，这个探头包含很多单个晶片（一般从16个到256个不等），这些晶片可根据编排的序列被分别触发。这些探头可用于各种类型的楔块、接触模式或水浸测试。它们的形状可以是正方形、矩形或圆形，测试频率通常在1–10 MHz的范围内。本教程的以下部分提供了有关相控阵探头的更多信息。

相控阵可以完成哪些操作？

相控阵系统会触发，并从阵列的多个晶片接收。这些晶片会被触发，以使多个光束分量彼此结合，并形成沿所需方向行进的单个波前。同理，接收器的功能是将来自多个晶片的输入汇集成一个单个的表现形式。相控技术允许电子束成形和偏转，因此可以从单个探头组件生成大量不同的超声束轮廓，并且可以对这种波束偏转进行动态编程，以创建电子扫描。

这可以实现以下功能：

• 光束角度、焦距和光束光斑大小的软件控制。这些参数可在每个检测点进行动态扫查，为每种工件几何形状优化入射角和信噪比。
• 多角度检测可以使用单个、小型、多晶片探头和楔块进行，提供单个固定角度或系列角度的扫描。
• 这些功能为复杂几何形状的检查和工件几何形状限制进行的测试提供了更大的灵活性。
• 许多晶片的多重作用可实现从单个探头位置进行静止的高速扫描。可以使用不同的检测角度从单个位置执行多次扫描。