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Perfil de ranhura a laser em pastilhas de semicondutores usando o microscópio confocal a laser OLS5000


Introdução

No processo de fabricação de circuito integrado de semicondutores, uma pastilha de silício é cortada em cubos para separá-la em matrizes individuais que são montadas em estruturas de chumbo e encapsuladas em chips eletrônicos.

O processo de corte convencional usa uma lâmina muito afiada para cortar a pastilha de silício para separar as matrizes. No entanto, o corte em cubos da lâmina é problemático. Em particular, a lâmina pode tensionar as matrizes e a pastilha como um todo, não importa quão afiada seja. A necessidade de atingir matrizes cada vez menores e mais finas e a migração para materiais dielétricos e de cobre de baixo k exigiram a adição de ranhura da superfície do laser antes do processo de corte da lâmina para superar a delaminação do lado superior e rachaduras da subsuperfície do material dielétrico.

A ranhura a laser é um processo de duas etapas. Primeiro, um laser é usado para isolar a borda da matriz criando ranhuras de ‘trilho de trem’ através das camadas de superfície da pastilha e apenas na camada de silício. Em seguida, as passagens de laser subsequentes removem o material na ‘área’ entre os trilhos do trem. Uma vez que as áreas foram limpas, a pastilha é cortada em cubos com uma lâmina. Graças a esse processo de ranhura a laser, a lâmina só precisa cortar o silicone e nenhum outro material da superfície.

processo de ranhura a laser

Medição do perfil de ranhuras de laser usando um microscópio confocal a laser

Olympus OLS5000

As vantagens da ranhura a laser tornaram-na o processo de fabricação de semicondutores preferido para o corte de pastilha. No entanto, a ranhura a laser também tem seus próprios desafios. O sistema de laser é complexo e precisa ser posicionado com precisão sobre a pastilha para garantir que ele crie ranhuras ao longo do perfil correto nas áreas mortas das matrizes. A própria ranhura deve ser extremamente precisa e estar em conformidade com o perfil e a tolerância definidos pelo fabricante. Para ajudar a garantir que seu sistema de laser seja configurado corretamente, os fabricantes precisam de uma ferramenta que lhes permita medir o perfil das ranhuras do laser para verificar se atendem à tolerância especificada.

O microscópio confocal de varredura a laser OLS5000 da Olympus é adequado para fornecer medições precisas de perfis de ranhuras de laser. Ele pode fornecer os dados quantitativos necessários para verificar se as ranhuras atendem aos padrões de tolerância do fabricante. O microscópio oferece imagens rápidas e precisas de 300 mm × 300 mm (cerca de 12 pol. × 12 pol.) da platina motorizada que acomoda prontamente pastilhas de 12 polegadas. As funções de aquisição e análise do software do microscópio tornam simples para os operadores medir a profundidade e a largura dos perfis de ranhura do laser.

Estágios diferentes

Vantagens de usar o microscópio OLS5000 para garantia de qualidade de ranhura a laser

  1. O microscópio oferece imagens rápidas e precisas e um grande movimento de platina motorizada de 300 mm × 300 mm (cerca de 12 pol. × 12 pol.) que acomoda prontamente platinas de 12 polegadas.
  2. O recurso de aquisição multiárea programável permite a aquisição multiponto automática de ranhuras a laser em uma pastilha.
  3. A combinação da fonte de laser de 405 nm do microscópio, escala óptica z de 0,8 nm, tecnologia de varredura 4K e lentes objetivas LEXT™ dedicadas fornecem perfil 3D preciso de ranhuras de laser durante o processo de aquisição.
  4. Os usuários podem criar um modelo de análise para medição automática da largura e profundidade dos perfis 3D de ranhuras a laser.
  5. Todos os dados de medição podem ser facilmente compilados em um único relatório de qualidade abrangente.
Figura 4Figura 5
Medições de perfil de sulco de laser
Olympus IMS

应用所使用的产品

具有出色精度和光学性能的LEXT™OLS5100激光扫描显微镜配备了让系统更加易于使用的智能工具。其能够快速高效完成亚微米级形貌和表面粗糙度的精确测量任务,既简化了工作流程又能让您获得可信赖的高质量数据。

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