Contexto
À medida que os equipamentos eletrônicos ficam menores e mais sofisticados, a demanda por placas de circuito impresso (PCBs) miniaturizadas está aumentando. Uma parte fundamental da fabricação de PCBs é a ligação da folha de cobre a um substrato de resina dielétrico. Para garantir que a folha de cobre adira firmemente, a superfície de resina é tornada áspera para aumentar a área de superfície. Se a superfície for muito áspera, ela criará impedância elétrica que tem um impacto negativo no dispositivo eletrônico. Consequentemente, a rugosidade da superfície deve ser medida para assegurar que está dentro dos limites ideais.
Soluções Olympus
O microscópio de medição a laser 3D LEXT da Olympus é projetado para medir a rugosidade da superfície com uma resolução planar de 0,12 μm e uma resolução irregular de 5 nm, que é ideal para aplicações de rugosidade de PCBs. O microscópio possui alta densidade de píxeis e alta sensibilidade à inclinação, o que permite medir superfícies com irregularidades sutis e ângulos íngremes. O LEXT aplica a tecnologia de medição de rugosidade sem contato, por isso, a superfície de um substrato está protegida de danos.
Características do produto
O LEXT possui imagens de ultra-alta resolução com alta densidade de píxeis para observações 3D exatas. O microscópio é muito sensível à inclinação e mede amostras com ângulos íngremes de forma confiável. As medições de rugosidade da superfície não apresentam contato, por isso, o substrato de resina está protegido. O LEXT suporta requisitos de medição de rugosidade da superfície JIS/ISO.
Imagem
Figura 1: Uma imagem 3D mostrando a medição da rugosidade de um substrato de resina
