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洞见博客

Usando software de análise de imagem para a detecção automática de partículas em telureto de cádmio e zinco

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Um processo que melhora a eficiência da inspeção, aumenta o rendimento e aperfeiçoa o controle de processos

O telureto de cádmio e zinco (CdZnTe), ou CZT, é um semicondutor composto de cádmio, zinco e telúrio. Ele é usado em uma variedade de aplicações, incluindo detectores de radiação, substratos para MgCdTe (detectores de infravermelho), grades fotorrefrativas, moduladores eletro-ópticos, células solares e geração e detecção de radiação terahertz. A banda proibida (diferença energética) varia entre aproximadamente 1,4 e 2,2 eV, dependendo da composição.

Depois de cortar em cubos e polir o CZT, os fabricantes desses dispositivos precisam conseguir formar imagens através de amostras usando tecnologia de infravermelho, uma técnica de formação de imagem microscópica que usa comprimentos de onda de luz entre 1.100 e 1.200 nm e sensores de formação de imagem para capturar os comprimentos de onda de luz refletida e criar uma imagem.

Após a aquisição de imagem, uma tarefa comum é determinar a localização com a menor quantidade de fases secundárias, exibidas como partículas, dentro do CZT em toda a área da amostra. A colocação do circuito ou ponto condutivo na localização com a menor quantidade de fases secundárias melhora o desempenho do detector, das células solares ou das grades fotorrefrativas. Quanto menor for a porcentagem de fases secundárias presentes, menos difração de sinal passará pelo CZT. Após a análise de imagem automatizada, o sistema precisa acessar a localização com a menor porcentagem de partículas a fim de colocar uma marcação a laser ao redor da área para corte. Atualmente, a maior parte desse tipo de trabalho é feita manualmente e é demorada por causa da dimensão da área de inspeção. A automação desse tipo de processo de inspeção melhora a eficiência de inspeção do fabricante, aumenta o rendimento e aperfeiçoa o controle de processos, economizando tempo e dinheiro.

Automatizando o processo com software de análise de imagem avançado

O software de análise de imagem avançado, combinado com um microscópio de inspeção de compostos ou wafers e uma câmera digital de alta sensibilidade, consegue realizar automaticamente uma varredura através do CZT e detectar fases secundárias para determinar a localização da área com menor porcentagem dentro de uma faixa predeterminada de tamanhos. Além disso, esse sistema consegue retornar a essa área para realizar uma varredura mais sensível e colocar uma marcação usando um sistema de marcação a laser acoplado.

A configuração do sistema ideal inclui:

  • Software de análise de imagem OLYMPUS Stream®
  • Microscópio composto vertical Olympus BX53/61 ou microscópio de inspeção de wafers Olympus MX51/61, incluindo infravermelho de luz refletida e transmitida
  • Câmara digital Olympus XM10IR de alta sensibilidade para formação de imagem dentro da largura de banda infravermelha
  • Componentes motorizados X, Y e Z diretamente conectados ao computador para controle por software
  • Sistema de marcação a laser acoplado ao iluminador de luz refletida para marcação da superfície da amostra e definição da área de corte

As vantagens mais significativas da configuração são a economia de tempo, a redução dos custos e o aumento da precisão. Isso se deve à automação da varredura, em oposição a uma configuração manual. A automação da varredura é possibilitada pela união automatizada de imagens X, Y e Z , que permite ao usuário ver através de toda a área de superfície usando uma imagem homogeneamente unida, feita a partir de várias varreduras. Isso permite detectar facilmente pontos de imagem que podem indicar defeitos de material. Outras vantagens incluem um rendimento melhorado e a capacidade de identificar áreas para aperfeiçoamento dos processos.

Product Applications Manager, Industrial Microscopes

Rob Bellinger is a product applications manager for industrial microscopes at Evident. He has been part of Evident for more than 15 years. He currently provides application support for our industrial microscope systems in the US, Canada, and Latin America. 

五月 16, 2017
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