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Analisador manual por XRF Vanta com janela de grafeno

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O detector de raios X do analisador possui uma pequena janela que permite que os raios entrem e atinjam o detector. Sem ela, o analisador não funciona. O material com que a janela é feita é importante pois afeta a eficiência do dispositivo. Os raios X de elementos leves (como magnésio, alumínio e silício) são mais fracos, então quanto mais fina e leve é a janela, mais raios X podem passar. Quanto mais raios X passam, maior é a sensibilidade do analisador por XRF.

Durante muito tempo, a janela foi feita com uma película de berílio. O berílio é bastante leve, mas é difícil de fabricar, frágil, quebradiço e tóxico. Mesmo impactos relativamente leves podem danificar a janela, se ela quebrar, precisa ser substituída. A maioria das janelas de berílio possui espessura de 8 mícrons ou mais.

Os Vanta modelos VMR agora vêm equipados com detector com janela de grafeno que possui apenas 0,9 mícrons de espessura, permitindo melhor detecção de elementos leves que a janela de berílio.

Vanta com janela de grafeno

Vantagens do grafeno

O grafeno é feito de carbono e, apesar de ser muito fino, é extremamente resistente. As janelas de grafeno permitem a passagem de maios raios X, aumentando a sensibilidade do analisador para elementos leves importantes, como o magnésio (Mg), alumínio (Al), silício (Si) e até mesmo fósforo (P) e enxofre (S). Além do mais, o grafene não é tóxico, diferente do berílio.

As vantagens exclusivas do grafeno permitem que o analisador manual por XRF Vanta modelo VMR:

  • Detecte rapidamente magnésio (Mg) em ligas de alumínio (0,53% de Mg em 3 segundos no feixe 2)
  • Alcance limites de detecção mais baixos de alumínio (Al) em ligas de níquel
  • Meça silício abaixo de 1.000 ppm em aços de liga leve de forma mais rápida e precisa
  • Meça fósforo (P) e enxofre (S) em aços de liga leve abaixo de 0,035%

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Informações sobre a detecção de elementos leves com o Vanta

Vídeo: Inovações para analisadores Vanta e a janela de grafeno

Como os avanços recentes do XRF portátil impactam os testes de identificação positiva de material de ligas

VANTA para identificação positiva de material

Portable Products Manager, Analytical Instruments

Ted has worked at Olympus for more than 11 years and has overseen the introduction of numerous innovations to the XRF product lines with a focus on bringing laboratory-quality data to the portable market. Ted has a Master's degree in Applied Physics and holds four patents.

四月 3, 2018
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