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TFM e outras grandes vantagens do detector de defeitos OmniScan X3 para inspetores END — análise de um cliente

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Antes do lançamento oficial do detector de defeitos Phased Array OmniScan™ X3, a Olympus emprestou uma unidade ao departamento de IS Expert do Institut de Soudure (um grupo de inspeção de solda com sede na França), para dar aos inspetores a oportunidade de testá-lo. O departamento IS Expert supervisiona o desenvolvimento de métodos novos e inovadores de ensaios não destrutivo (END).

Um especialista em ultrassom testou o OmniScan X3 e o avaliou

Após realizar alguns testes em laboratório com o instrumento OmniScan X3, Manuel Tessier, engenheiro de END e especialista em testes ultrassônicos e tempo de voo de onda difratada (UT/ToFD), compartilhou sua visão sobre os novos recursos com maior potencial para os inspetores. Ele ressaltou as vantagens oferecidas pelos recursos do método de foco total multigrupo (TFM), suporte aprimorado das sondas Dual Linear Array e Dual Matrix Array e da inovadora ferramenta de modelagem Mapa de Influência Acústica (AIM).

A seguir, trecho de um artigo que foi publicado no nº 69 da revista Contrôles Essais Mesures (CEM) (traduzido do francês).

Inspeção com o método de foco total de um tubo com o detector de defeitos OmniScan X3 no laboratório de pesquisa e desenvolvimento de inspeção de solda do Institut de Soudure

Manuel Tessier, especialista END em UT/ToFD no laboratório do Institut de Soudure na França, testando a capacidade de imagem TFM do detector de defeitos OmniScan X3


Manuel Tessier, especialista END em UT/ToFD no Institut de Soudure, França (foto cortesia da revista CEM)

“Conseguimos testar o TFM em diferentes padrões de referência. Os resultados são conclusivos”.

Manuel Tessier, especialista END em UT/ToFD no Institut de Soudure, teve a oportunidade de testar os novos recursos do instrumento OmniScan X3 em um laboratório em pré-lançamento. Segue abaixo parte da entrevista realizada pela revista CEM.

CEM: Seu departamento no Institut de Soudure usa os instrumentos OmniScan diariamente. Para que eles são usados?

M. Tessier: Os instrumentos OmniScan são nossos equipamentos padrão. Gostamos muito do formato compacto, da robustez e da confiabilidade que eles proporcionam em análises realizadas no local. Todo o nosso pessoal é treinado para usar este equipamento e o software complementar. Temos cerca de 20 detectores de defeitos desse tipo aqui no Institut de Soudure. Inspeção de solda, mapeamento e medições de espessura, caracterização de falhas, detecção de vários tipos de danos: o departamento de IS Expert, no qual trabalho, utiliza esses dispositivos todos os dias, seja para técnicas convencionais (com uma sonda) ou dentro de um sistema semiautomático ou automatizado para a inspeção de soldas usando uma combinação de ToFD e Phased Array.

“A unidade OmniScan X3 oferece algumas vantagens interessantes com essas sondas avançadas, pois podem ser usadas para algumas aplicações bastante especializadas”.

CEM: E a utilização de sondas específicas?

M. Tessier : Também usamos este instrumento com sondas Dual Linear Array (DLA) ou Dual Matrix Array (DMA). Uma das vantagens do OmniScan X3 é a facilidade com que podemos programar esses tipos de sensores. Isso era menos prático no OmniScan MX2, apesar de ele ser capaz de conduzir essas sondas, a programação não era simples. A unidade OmniScan X3 oferece algumas vantagens interessantes com essas sondas avançadas, pois podem ser usadas para algumas aplicações bastante especializadas; suas configurações de leis focais têm um impacto significativo. Isso significa que o ajuste das configurações oferece a oportunidade de ajustar a inspeção. A integração desses tipos de sondas na unidade possibilita a configuração dos parâmetros da lei focal diretamente no dispositivo, o que só poderia ser feito no MX2 de maneira muito limitada. Para mim, essa é uma grande vantagem.

CEM: O que você acha do TFM disponível no OmniScan X3?

M. Tessier : O TFM também é um recurso bem-vindo. Até agora, usamos outros dispositivos que possuem esse modo de detecção de defeitos, principalmente para análises mais refinadas, porque a unidade OmniScan MX2 não fornecia os dados necessários. Com a nova unidade OmniScan X3, não precisamos mais de outros detectores de defeitos, principalmente na detecção de danos por HTHA (isso evita a necessidade de utilizar vários dispositivos no local). Fomos capazes de testar o TFM em diferentes padrões de referência. Os resultados foram conclusivos. Estou ansioso para realizar mais testes do TFM multigrupo, que oferece a possibilidade de usar até quatro grupos simultaneamente. O AIM (Mapa de Influência Acústica), que não existe em outros dispositivos, é outra funcionalidade que acho particularmente atraente. Ela oferece a possibilidade de simular o feixe e permite ver a interação potencial em uma zona definida, o que não é apenas útil, mas também uma boa ferramenta de ensino.

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Redatora

Sarah Williams trabalhou por quase uma década como pesquisadora e redatora no setor de mídia televisiva. Agora, Sarah aplica suas habilidades como redatora e editora para produzir materiais interessantes e de alta qualidade sobre tópicos relacionados à grande variedade de soluções de ensaios não destrutivos (END) da Evident. Ela escreve sobre as tecnologias mais recentes de inspeção visual remota, microscópio, ultrassom, correntes parasitas e phased array. Ela também explora suas aplicações e contribuições para melhorar a qualidade e a segurança do mundo ao nosso redor. Sarah trabalha no escritório da Cidade de Quebec, onde mora com seu companheiro, David, e seus três filhos, Sophie, Anouk e Éloi. 

三月 19, 2020
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