概述
Microscopia avançada simplificadaDesenvolvida pensando na modularidade, a série BX3M oferece versatilidade para uma ampla variedade de aplicações industriais e na área de ciência dos materiais. Com integração otimizada com o software PRECiV, o BX53M oferece um processo de trabalho ideal para usuários de microscopia padrão ou de formação de imagens digitais, da observação à criação de relatórios. Experiência BX53M |
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Escolha o melhor modeloSeis configurações sugeridas do BX53M oferecem flexibilidade para você escolher os recursos que precisa.
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Confortável e fácil de usarO BX53M simplifica as tarefas de microscopia complexas através dos seus controles bem projetados e fáceis de usar. Os usuários tiram o máximo proveito do microscópio sem a necessidade de uma formação especializada. A operação simples e confortável do BX53M também otimiza a reprodutibilidade ao minimizar a falha humana.
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FuncionalO BX53M mantém os métodos de contraste tradicionais da microscopia convencional, tal como o campo claro, campo escuro, luz polarizada e contraste de interferência diferencial. À medida que surgem novos materiais, muitos dos problemas associados com a detecção de defeitos utilizando métodos de contraste padrão podem ser resolvidos ao utilizar técnicas de microscopia avançadas, a fim de efetuar inspeções mais precisas e confiáveis. Novas técnicas e opções de iluminação direcionadas à aquisição de imagem no software de análise de imagem PRECiV oferecem aos usuários um maior leque de opções sobre como avaliar suas amostras e documentar os resultados.
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Óptica de pontaNossa tradição no desenvolvimento de óptica de alta qualidade culminou em um histórico comprovado de qualidade óptica e de microscópios que oferecem uma excelente precisão na medição.
Veja mais | Controle de aberrações de frente de onda
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配置
Sistema modular altamente confiávelSeis configurações sugeridas do BX53M proporcionam flexibilidade para você escolher os recursos que precisa. |
Uso geral | Uso exclusivo | |||||||||
Entry (Básico)Fácil de configurar com recursos básicos | Standard (Padrão)
Fácil de usar com
| Advanced (Avançado)Compatível com vários recursos avançados | Fluorescence (Fluorescência)
Ideal para a
| Infrared (Infravermelho)Projetado para observação por infravermelho para inspeção de circuitos integrados | Polarization (Polarização)Projetada para observar características de birrefringência | |||||
Filtro de cores LCD | Microestrutura com grãos | Fio de cobre da bobina | Resistência no padrão do CI | Padrão do CI com camadas de silício | Amianto | |||||
Ver quadro de especificações
Entry (Básico) | Standard (Padrão) | Advanced (Avançado) | Fluorescence (Fluorescência) | Infrared (Infravermelho) | Polarization (Polarização) | |
Estativa do microscópio | Refletida ou refletida/transmitida | Refletida ou refletida/transmitida | Refletida | Transmitida | ||
Standard (Padrão) | R-BF ou T-BF | R-BF ou T-BF ou DF | R-BF ou T-BF ou DF ou MIX | R-BF ou T-BF ou DF ou FL | R-BF ou IV | T-BF ou POL |
Opcional | DIC | DIC/MIX | DIC | DIC/MIX | - | - |
Iluminador simples | - | - | - | - | ||
Legenda da abertura | - | - | ||||
Hardware codificado | - | - | ||||
Índice de escala de foco | ||||||
Gerenciador da intensidade de luz | - | - | ||||
Operação com controlador manual | - | - | ||||
Observação MIX | - | - | ||||
Objetivas | Selecione dentre 3 objetivas com base em suas aplicações | Selecione dentre 3 objetivas com base em suas aplicações | Objetivas para IV | Objetivas para POL | ||
Platina | Selecione dentre 5 platinas com base no tamanho das suas amostras | Selecione dentre 5 platinas com base no tamanho das suas amostras | Platina para POL |
MÉTODO DE OBSERVAÇÃO
R-BF: Campo claro (refletido)
*O T-BF pode ser usado ao selecionar a estativa do microscópio Refletida/Transmitida.
39■40: Padrão
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Exemplos de configurações para Ciência dos Materiais
O design modular viabiliza várias configurações para atender aos requisitos do usuário.
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Combinação de luz refletida e luz refletida/transmitida do BX53MHá dois tipos de estativas do microscópio na série BX3M, uma orientada somente para a luz refletida e outra para a luz refletida e transmitida. Ambas as estativas podem ser configuradas com componentes manuais, codificadas ou motorizadas. As estativas são equipadas com capacidade contra descarga eletrostática (ESD) para a proteção de amostras eletrônicas. | Exemplo de configuração do BX53MRF-S | Exemplo de configuração do BX53MTRF-S |
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Combinação de IV do BX53MAs objetivas IV podem ser usadas em aplicações de inspeção, medição e processamento de semicondutores, em que é necessária a formação de imagens através de silício para visualizar o padrão. Oferecemos objetivas de infravermelho (IV) 5X a 100X com correção de aberração cromática para comprimentos de onda desde luz visível até infravermelho-próximo. Para trabalhos de alta ampliação, a rotação do colar de correção da série de lentes LCPLNIR corrige as aberrações causadas pela espessura da amostra. É obtida uma imagem nítida com uma única objetiva. Clique aqui para obter detalhes sobre lentes objetivas de IV |
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Combinação de luz polarizada do BX53MA óptica de luz polarizada do BX53M oferece aos geólogos as ferramentas certas para a formação de imagens de luz polarizada de alto contraste. Aplicações como identificação mineral, investigação de caraterísticas ópticas de cristais e observação de cortes de rocha sólida se beneficiam da estabilidade do sistema e do alinhamento óptico preciso. | BX53-P com configuração ortoscópica | BX53-P com configuração conoscópica/ortoscópica |
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Lentes Bertrand para observações conoscópicas e ortoscópicasCom um acessório de observação conoscópica U-CPA, a comutação entre a observação ortoscópica e conoscópica é rápida e simples. O equipamento tem ajuste de foco para uma visualização clara dos padrões de interferência do plano focal posterior. O limitador de campo visual Bertrand torna possível a captura consistente de imagens conoscópicas claras e nítidas. |
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Uma grande variedade de compensadores e placas de ondaCinco compensadores diferentes estão disponíveis para medições de birrefringência em cortes finos de rochas e minerais. O nível de retardo de medição varia de 0 a 20 λ. Para medições mais simples e contrastes de imagens mais altos, é possível usar os compensadores Berek e Senarmont, que alteram o nível de retardo em todo o campo de visão. |
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Intervalo de medição dos compensadores
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*R = nível de retardo |
Ópticas livres de tensãoGraças à nossa sofisticada tecnologia de design e fabricação, as objetivas livres de tensão UPLFLN-P reduzem a tensão interna ao mínimo. Isso resulta em um valor de EF mais alto, proporcionando um excelente contraste na imagem. | Clique aqui para obter detalhes sobre as lentes objetivas UPLFLN-PClique aqui para obter detalhes sobre as lentes objetivas PLN-P/ACHN-P |
Sistema BXFMO sistema BXFM pode ser adaptado a aplicações especiais ou integrado a outros instrumentos. A construção modular oferece uma adaptação simples a ambientes e configurações exclusivos com uma variedade de pequenos iluminadores especiais e suportes de fixação. |
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Design modular, construa seu sistema à sua maneira |
Estativas de microscópioExistem duas estativas de microscópio orientadas para a luz refletida, uma delas também apresenta capacidade de luz transmitida. Está disponível um adaptador para elevar o iluminador, a fim de acomodar amostras mais altas.
Acessórios úteis para a utilização em microscopia
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SuportesPara aplicações de microscopia nas quais a amostra não se adapta à platina, o iluminador e as ópticas podem ser montados em um suporte maior ou em outro equipamento. Configuração do iluminador BXFM + BX53M
Configuração do iluminador BXFM + U-KMAS
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TubosPara imagens microscópicas com oculares ou para observação da câmera, selecione os tubos por tipo de imagem e postura do operador durante a observação.
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IluminadoresO iluminador projeta luz para a amostra com base no método de observação selecionado. Interfaces de software com iluminadores codificados para ler a posição dos cubos e reconhecer automaticamente o método de observação. |
Função codificada | Fonte de luz | BF | DF | DIC | POL | IV | FL | MIX | AS/FS | ||
1 | BX3M-RLAS-S | Posição 3 do cubo fixa | LED - integrado | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ |
2 | BX3M-URAS-S | Posição 4 do cubo anexável | LED | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ |
Halogênio | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | |||
Mercúrio/orientação de luz | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | ■ | |||
3 | BX3M-RLA-S | LED | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ | |
Halogênio | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | |||
4 | BX3M-KMA-S | LED - integrado | ■ | - | ■ | ■ | - | - | ■ | - | |
5 | BX3-ARM | Braço mecânico para luz transmitida | |||||||||
6 | U-KMAS | LED | ■ | - | ■ | ■ | - | - | ■ | - | |
Halogênio | ■ | - | ■ | ■ | ■ | - | ■ | - |
Fontes de luzFontes de luz e fontes de alimentação para iluminação de amostras, selecione a fonte de luz apropriada para o método de observação. |
Configuração de recursos de luz LED padrão
Configuração de recursos de luz de fluorescência
| Configuração de recursos de luz de halogênio IV e halogênio
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Porta-objetivasAcessório para objetivas e deslizadores. Selecione pelo número e tipo de objetivas necessárias; também com/sem acessório deslizador. |
Tipo | Orifícios | BF | DF | DIC | MIX | ESD |
Número de
orifícios centrais | ||
1 | U-P4RE | Manual | 4 | ■ | ■ | 4 | |||
2 | U-5RE-2 | Manual | 5 | ■ | |||||
3 | U-5RES-ESD | Codificado | 5 | ■ | ■ | ||||
4 | U-D6RE | Manual | 6 | ■ | ■ | ||||
5 | U-D6RES | Codificado | 6 | ■ | ■ | ||||
6 | U-D5BDREMC | Motorizado | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
7 | U-D6BDRE | Manual | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
8 | U-D5BDRES-ESD | Codificado | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
9 | U-D6BDRES-S | Codificado | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
10 | U-D6REMC | Motorizado | 6 | ■ | ■ | ||||
11 | U-D6BDREMC | Motorizado | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
12 | U-D5BDREMC-VA | Motorizado | 5 | ■ | ■ |
DeslizadoresSelecione o deslizador para complementar a observação de campo luminoso tradicional. O deslizador DIC fornece informações topográficas sobre a amostra com opções para maximizar o contraste ou a resolução. O deslizador MIX fornece flexibilidade de iluminação com uma fonte LED segmentada na trajetória do campo escuro. |
Deslizador DIC
*1 1,25X e 2,5X não são compatíveis com a observação por contraste de interferência diferencial (DIC).
Deslizador MIX
| Cabo
*Apenas MIXR |
Caixa de comando e controladores manuaisCaixas de comando para possibilitar a interface do hardware do microscópio com um PC e controladores manuais para a exibição e controle do hardware. Configuração do BX3M-CB (CBFM)
Cabo
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PlatinasPlatinas e placas de platinas para posicionamento de amostras. Selecione com base na forma e tamanho da amostra. |
Configuração da platina de 150 mm × 100 mm
Configuração da platina de 76 mm × 52 mm
| Configuração da platina de 100 mm × 100 mm
Outros
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Adaptadores de câmeraAdaptador para observação de câmera. Selecionável a partir do campo de visão e ampliação necessários. O alcance de observação real pode ser calculado usando esta fórmula: campo de visão real (diagonal em mm) = campo de visão (número de visão) ÷ aumento da objetiva. |
Aumento | Ajuste central | Área de imagem CCD (número de campo) mm | ||||
2/3 polegadas | 1/1,8 polegadas | 1/2 polegadas | ||||
1 | U-TV1x-2 com U-CMAD3 | 1 | - | 10,7 | 8,8 | 8 |
2 | U-TV1xC | 1 | ø2 mm | 10,7 | 8,8 | 8 |
3 | U-TV0.63xC | 0,63 | - | 17 | 14 | 12,7 |
4 | U-TV0.5xC-3 | 0,5 | - | 21,4 | 17,6 | 16 |
5 | U-TV0.35xC-2 | 0,35 | - | - | - | 22 |
OcularesOcular para visualização direta no microscópio. Selecione com base no campo de visão pretendido.
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Filtros ópticosOs filtros ópticos convertem a luz de exposição da amostra em vários tipos de iluminação. Selecione o filtro apropriado para os requisitos de observação. |
BF, DF, FL
POL, DIC
| IV
Luz transmitida
Outros
*AN e PO não são necessários ao usar o BX3M-RLAS-S e a U-FDICR |
CondensadoresOs condensadores coletam e focam a luz transmitida. Utilize para a observação de luz transmitida.
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Unidades de espelhoUnidade de espelho para o BX3M-URAS-S. Selecione a unidade para a observação necessária.
*Apenas para iluminação episcópica coaxial |
Tubos intermediáriosVários tipos de acessórios para múltiplas finalidades. Para usar entre o tubo e o iluminador.
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Objetivas UIS2As objetivas ampliam a amostra. Selecione a objetiva correspondente à distância de trabalho, poder de resolução e método de observação para a aplicação. Clique aqui para obter detalhes sobre as lentes objetivas UIS2 |
简单易用
Técnicas tradicionais simplificadas:
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Controles intuitivos do microscópio:
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Localize o foco rapidamenteO índice da escala de foco na estrutura auxilia no acesso rápido ao ponto focal. Os operadores podem ajustar o ponto focal sem visualizar a amostra através de uma ocular, poupando um tempo precioso ao inspecionar amostras de diferentes alturas. |
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Operação simples e confortávelO design de um sistema afeta a eficiência de trabalho dos usuários. Tanto usuários de microscópios independentes quanto os que fazem integração com o software de análise de imagem PRECiV tiram proveito de controles práticos que exibem claramente a posição do hardware. Os controles simples permitem que o usuário foque na sua amostra e execute a inspeção necessária. |
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Para iluminação consistente:
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Para restaurar as configurações do microscópio:
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功能
O invisível torna-se visível:
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Crie imagens totalmente em foco: EFIA função EFI (Extended Focus Imaging, imagem focal estendida) no software PRECiV captura imagens de amostras com alturas que ultrapassam a profundidade de foco da objetiva e as empilha para criar uma imagem totalmente em foco. É possível executar a EFI com um eixo Z manual ou motorizado, criando mapas de altura para uma visualização simples de estruturas. Também é possível criar uma imagem EFI no PRECiV Desktop em modo offline. |
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Capture áreas claras e escuras: HDRCom o processamento avançado de imagem, a função HDR (High Dynamic Range, alta variação dinâmica) ajusta as diferenças na claridade de uma imagem para reduzir o reflexo. A HDR aprimora a qualidade visual das imagens digitais, o que ajuda a gerar relatórios com um aspecto profissional. | Partes escuras e claras nitidamente expostas pela alta variação dinâmica (amostra: lâmpada do injetor de combustível) | Melhoria do contraste por HDR
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Imagem de uma moeda com MIA instantâneo | Mova facilmente a platina para panorama: MIA instantâneoAgora é possível unir imagens com facilidade e rapidez, movendo apenas os botões de ajuste XY na platina manual; não é necessária nenhuma platina motorizada. O software PRECiV utiliza recursos de reconhecimento de padrão para gerar uma imagem panorâmica, fornecendo aos usuários um campo de visão mais amplo do que um só quadro. |
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Capacidade versátil de medição |
Funções de medição básicas ou de rotinaO PRECiV disponibiliza várias funções de medição, permitindo que o usuário obtenha facilmente dados úteis com base nas imagens. Muitas vezes, as operações de controle de qualidade e inspeção exigem recursos de medição nas imagens. Todos os níveis de licenças do PRECiV incluem funções interativas de medição, como distâncias, ângulos, retângulos, círculos, elipses e polígonos. Todos os resultados medidos são salvos com os arquivos de imagens para documentação complementar. |
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Contagem e mediçãoA detecção de objetos e a medição de distribuição de tamanho estão entre as aplicações mais importantes na formação de imagens digitais. O PRECiV incorpora um mecanismo de detecção que utiliza métodos de limiar para separar objetos de maneira confiável (por exemplo, partículas, arranhões) do plano de fundo. |
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Soluções para a Ciência dos MateriaisO PRECiV oferece uma interface intuitiva e orientada ao processo de trabalho para a análise de imagens complexas. Com o simples clique de um botão, é possível executar as mais complexas tarefas de análise de imagens com rapidez, precisão e em conformidade com os padrões industriais mais comuns. Com uma redução significativa do tempo de processamento para tarefas repetitivas, os cientistas de materiais podem concentrar-se na análise e investigação. Os suplementos modulares para inclusões e gráficos de intercepção são realizados com facilidade a qualquer momento. |
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Visualização de superfície 3D (amostra de teste de rugosidade) | Visualização única e medição de perfil 3D | Medição de amostra 3DAo utilizar uma unidade externa de foco motorizado, uma imagem focal EFI pode ser rapidamente capturada e exibida em 3D. Os dados de altura obtidos podem ser usados para medições 3D no perfil ou a partir da imagem de visualização única. |
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Saiba mais sobre o PRECiV |
Veja mais tipos e tamanhos de amostraA nova platina de 150 mm × 100 mm oferece um alcance mais longo na direção X do que os modelos anteriores. Esta nova platina, em conjunto com o design de superfície superior plana, permite a fácil colocação de amostras de grandes dimensões ou de múltiplas amostras na platina. A placa de platina tem orifícios roscados para anexar suportes de amostra. A platina de maiores dimensões oferece flexibilidade aos usuários ao permitir a inspeção de um maior número de amostras através de um único microscópio, poupando espaço valioso no laboratório. O torque ajustável da platina facilita o posicionamento preciso sob alta ampliação com um campo de visão estreito. |
Flexibilidade para a altura e o peso de amostrasAs amostras de até 105 mm podem ser montadas na platina utilizando a unidade modular opcional. Graças ao mecanismo de focalização otimizado, o microscópio é capaz de acomodar um peso total (amostra + platina) de até 6 kg. Isso significa que amostras de maiores dimensões e mais pesadas podem ser inspecionadas no BX53M, tornando o número de microscópios necessários no laboratório significativamente inferior. Ao posicionar, de forma descentrada e estratégica, um suporte rotativo para bolachas de 6 polegadas, os usuários são capazes de observar toda a superfície da bolacha rodando apenas o suporte, ao passarem pela faixa de alcance de 100 mm. O ajuste de torque da platina é otimizado para facilitar o seu uso e a haste confortável permite encontrar mais facilmente o ponto de interesse da amostra. | BX53MRF-S |
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BXFM | Flexibilidade para o tamanho da amostraQuando as amostras são muito grandes para seu posicionamento em uma platina tradicional de microscópio, os componentes ópticos principais para microscopia de luz refletida podem ser configurados em uma configuração modular. Este sistema modular, o BXFM, pode ser montado em um suporte maior através de um pilar ou em outro instrumento à escolha do usuário utilizando um suporte de montagem. Isso permite aos usuários se beneficiar da nossa célebre óptica, mesmo quando as suas amostras apresentam tamanhos ou formas exclusivas. |
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Proteja dispositivos eletrônicos contra descargas eletrostáticas: compatível com ESDO BX53M possui uma capacidade de dissipação de descarga eletrostática (ESD) que protege os dispositivos eletrônicos da eletricidade estática causada por fatores humanos ou ambientais. |
图像清晰
Tradição em óptica de última geração |
Alta abertura numérica e longa distância de trabalho integradas
As lentes objetivas são essenciais para o desempenho de um microscópio.
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Saiba mais sobre as objetivas MXPLFLN |
Desempenho óptico superior:
| Frente de onda de má qualidade | Frente de onda de boa qualidade (objetiva UIS2) |
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Lâmpada de halogênio: a cor varia com a intensidade de luz. | LED: a cor é consistente com a intensidade de luz e mais clara do que a lâmpada de halogênio. |
Temperatura de cor consistente:
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Qualidade superior para um desempenho avançado |
Suporta a medição precisa:
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Wafer semicondutor (imagem binarizada): |
União de imagens perfeita:
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Saiba mais sobre o PRECiV |
应用
Padrão do circuito integrado em um wafer semicondutorO campo escuro é usado para detectar arranhões ou defeitos ínfimos em uma amostra ou inspecionar amostras com superfícies espelhadas, tal como wafers. A iluminação MIX permite ao usuário visualizar padrões e cores. | MIX (Campo claro + Campo escuro) | Campo escuro |
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Fluorescência | MIX (Fluorescência + Campo escuro) | Resíduo fotorresistente em um wafer semicondutorA fluorescência é usada para amostras que emitem luz quando iluminadas por um cubo de filtro especialmente projetado. Ela é usada para detectar contaminação e resíduos fotorresistentes. A iluminação MIX permite a observação dos resíduos fotorresistentes e do padrão do CI. |
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Filtro de cores LCDEsta técnica de observação é adequada para amostras transparentes, tal como LCD, plásticos e materiais de vidro. A iluminação MIX permite a observação do filtro de cor e do padrão do circuito. | Luz transmitida | MIX (Luz transmitida + Campo claro) |
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Campo claro | Contraste de interferência diferencial (DIC) | Ferro fundido de grafite esferoidalO DIC é uma técnica de observação na qual a altura de uma amostra é visualizada como um relevo, semelhante a uma imagem 3D com contraste melhorado; é ideal para inspecionar amostras que possuam diferenças muito pequenas de altura, incluindo estruturas metalúrgicas e minerais. |
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SericitaO contraste de interferência diferencial (DIC) é uma técnica de observação na qual a altura de uma amostra, geralmente não detectável no campo claro, é visualizada como um relevo, semelhante a uma imagem 3D com contraste melhorado. Essa técnica é ideal para inspecionar amostras que possuam diferenças muito pequenas de altura, incluindo estruturas metalúrgicas e minerais. | Campo claro | Luz polarizada |
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Infravermelho (IV) | Bases de ligação em um padrão do CIO IR é usado para procurar defeitos no interior de circuitos integrados e de outros dispositivos fabricados com silício sobre vidro. |
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规格
ESPECIFICAÇÕES DA CONFIGURAÇÃO SUGERIDA DO BX53M PARA UTILIZAÇÃO GERAL |
Entry (Básico) | Standard (Padrão) | Advanced (Avançado) | |||||||
Sistema óptico | Sistema óptico UIS2 (corrigido ao infinito) | ||||||||
Unidade principal | Estativa do microscópio | BX53MRF-S (Refletida) | BX53MTRF-S (Refletida/Transmitida) | BX53MRF-S (Refletida) | BX53MTRF-S (Refletida/Transmitida) | BX53MRF-S (Refletida) | BX53MTRF-S (Refletida/Transmitida) | ||
Foco |
Percurso: 25 mm
Traço fino por rotação: 100 μm Regulação mínima: 1 μm Com limite macrométrico superior, ajuste de torque para botão macro | ||||||||
Altura máx. do espécime |
Refletida: 65 mm (sem espaçador), 105 mm (com o BX3M-ARMAD)
Refletida/Transmitida: 35 mm (sem espaçador), 75 mm (com o BX3M-ARMAD) | ||||||||
Tubo de observação | Campo amplo (F.N.22) | U-TR30-2-2 Invertido: trinocular | |||||||
Iluminação |
Luz refletida
Luz transmitida | BX3M-KMA-S LED branco, BF/DIC/POL/MIX FS, AS (com mecanismo de centralização), interbloqueio BF/DF | BX3M-RLAS-S Codificado, LED branco, BF/DIC/POL/MIX FS, AS (com mecanismo de centralização), interbloqueio BF/DF | ||||||
- | BX3M-LEDT LED branco Condensadores Abbe/de longa distância de trabalho | - | BX3M-LEDT LED branco Condensadores Abbe/de longa distância de trabalho | - | BX3M-LEDT LED branco Condensadores Abbe/de longa distância de trabalho | ||||
Revólver porta-objetivas giratório | U-5RE-2 Para BF: quíntuplo | U-D6BDRE Para BF/DF: sêxtuplo | U-D6BDRES-S Para BF/DF: sêxtuplo, codificado | ||||||
Ocular (F.N.22) | WHN10
WHN10X-H | ||||||||
Observação MIX | - | BX3M-CB Caixa de comando BX3M-HS Controlador manual U-MIXR-2 Deslizador MIX para observação de luz refletida U-MIXRCBL Cabo para MIXR | |||||||
Condensador (longa distância de trabalho) | - | U-LWCD | - | U-LWCD | - | U-LWCD | |||
Cabo de alimentação | UYCP (x1) | UYCP (x2) | |||||||
Peso |
Refletida: aprox. 15,8 kg (estativa do microscópio 7,4 kg)
Refletida/transmitida: aprox. 18,3 kg (estativa do microscópio 7,6 kg) | ||||||||
Objetivas | Conjunto MPLFLN | MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observação de BF/POL/FL | - | ||||||
Conjunto MPLFLN BD | - | MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
Conjunto MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | - | MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
Conjunto MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | - | MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
Platina (X x Y) | Conjunto de 76 mm x 52 mm | U-SVRM, U-MSSP Platina com haste direita coaxial/76 mm (X) × 52 mm (Y), com ajuste de torque | |||||||
Conjunto de 100 mm x 100 mm | U-SIC4R2, U-MSSP4 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/100 mm (X) x 100 mm (Y), com mecanismo de bloqueio no eixo Y | ||||||||
Conjunto de 100 mm x 100 mm (G) | U-SIC4R2, U-MSSPG Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/100 mm (X) × 100 mm (Y), com mecanismo de bloqueio no eixo Y (placa de vidro) | ||||||||
Conjunto de 150 mm x 100 mm | U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/150 mm (X) × 100 mm (Y), com ajuste de torque e mecanismo de bloqueio no eixo Y | ||||||||
Conjunto de 150 mm x 100 mm (G) | U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/150 mm (X) x 100 mm (Y), com ajuste de torque e mecanismo de bloqueio no eixo Y (placa de vidro) | ||||||||
Opcional | Conjunto de observação MIX* | BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL | - | ||||||
DIC* | U-DICR | ||||||||
Tubos intermediários | U-CA, U-EPA2, U-TRU | ||||||||
Filtros | U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR | ||||||||
Filtro para condensador | 43IF550-W45, U-POT | ||||||||
Prato de platina | U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65, U-WHP2 | ||||||||
Suporte de espécime | U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4 | ||||||||
Pega de borracha | U-SHG, U-SHGT |
*Não pode ser usado com o U-5RE-2.
UNIDADES BX53M/BXFM ESD
Itens | Estativa do microscópio | BX53MRF-S, BX53MTRF-S |
Iluminador | BX3M-KMA-S, BX3M-RLA-S, BX3M-URAS-S, BX3M-RLAS-S | |
Porta-objetiva | U-D6BDREMC, U-D6BDRES-S, U-D5BDREMC-ESD, U-5RES-ESD | |
Platina | U-SIC4R2, U-MSSP4 |
ESPECIFICAÇÕES DA CONFIGURAÇÃO SUGERIDA DO BX53M PARA UTILIZAÇÃO EXCLUSIVA |
Fluorescence (Fluorescência) | Infrared (Infravermelho) | Polarized (Polarizada) | |||||
Sistema óptico | Sistema óptico UIS2 (corrigido ao infinito) | ||||||
Unidade principal | Estativa do microscópio | BX53MRF-S (Refletida) | BX53MTRF-S (Refletida/Transmitida) | BX53MRF-S (Refletida) | BX53MTRF-S (Refletida/Transmitida) | ||
Foco |
Percurso: 25 mm
Traço fino por rotação: 100 μm Regulação mínima: 1 μm Com limite macrométrico superior, ajuste de torque para botão macro | ||||||
Altura máx. do espécime |
Refletida: 65 mm (sem espaçador), 105 mm (com o BX3M-ARMAD)
Refletida/Transmitida: 35 mm (sem espaçador), 75 mm (com o BX3M-ARMAD) | ||||||
Tubo de observação | Campo amplo (F.N.22) | U-TR30-2 Invertido: trinocular | U-TR30IR Invertido: trinocular para IV | U-TR30-2 Invertido: trinocular | |||
Acessório intermediário de luz polarizada (U-CPA) | Lentes Bertrand | - | - | Focalização | |||
Limitador de campo Bertrand | - | - | ø3,4 mm de diâmetro (fixo) | ||||
Ativar ou desativar a troca de lentes Bertrand entre observação ortoscópica e conoscópica | - | - |
Posição do deslizador ● dentro
Posição do deslizador ○ fora | ||||
Suporte do analisador | - | - | Analisador rotativo com slot (U-AN360P-2) | ||||
Iluminação | Luz refletida | Observação de FL | BX3M-URAS-S Luz refletida universal codificada, torre da unidade de espelho de 4 posições, (padrão: U-FWUS, U-FWBS, U-FWGS, U-FBF etc.) com FS, AS (com mecanismo de centralização), com mecanismo de obturador | - | - | ||
Observação de IV | - | BX3M-RLA-S Lâmpada de halogênio de 100 W para IV, BF/IV, AS (com mecanismo de centralização) U-LH100IR (incluindo 12 V 10 W HAL-L) Fonte de luz de halogênio de 100 W para IV TH4-100 Fonte de alimentação de 100 W TH4-HS Controlador manual U-RMT Cabo de extensão | - | ||||
Luz transmitida | Observação de POL | - | - | BX3M-LEDT LED branco Condensadores Abbe/de longa distância de trabalho | |||
Revólver porta-objetivas giratório | U-D6BDRES-S Para BF/DF: sêxtuplo, codificado | U-5RE-2 Para BF: quíntuplo | U-P4RE Quádruplo, componentes de fixação centralizáveis A lâmina de retardo de comprimento de onda de 1/4 (U-TAD), a placa de cor (U-TP530) e vários compensadores podem ser fixados utilizando o adaptador de placa (U-TAD) | ||||
Ocular (F.N.22) | WHN10X | ||||||
WHN10X-H | CROSS-WHN10X | ||||||
Unidades de espelho | U-FDF Para DF U-FBFL Para BF, filtro ND integrado U-FBF Para BF, filtro ND removível U-FWUS Para FL ultravioleta U-FWBS Para FL azul U-FWGS Para FL verde | - | |||||
Filtro/Polarizador/Analisador | U-25FR Filtro azul | U-BP1100IR/U-BP1200IR Filtros de trajetória de banda para IV | 43IF550-W45 Filtro verde | ||||
U-POIR Deslizador polarizador refletido para IV | U-AN360IR Deslizador analisador rotativo para IV | U-AN360P-2 Indicador com rotação de 360° Ângulo mínimo de rotação 0,1° | |||||
Condensador | U-LWCD Distância de trabalho longa | - | U-POC-2 Condensador acromático livre de tensão. Polarizador rotativo de 360° com lentes superiores acromáticas swing-out. O botão de parada na posição “0°” é ajustável. AN 0,9 (lente superior dentro)/AN 0,18 (lente superior fora) Diafragma da íris de abertura: ajustável dos diâmetros de 2 mm a 21 mm | ||||
Deslizador/Compensadores | - | U-TAD Deslizador (adaptador de placa) | |||||
U-TP530 Cor de placa U-TP137 Lâmina de retardo de comprimento de onda de 1/4 | |||||||
Cabo de alimentação | UYCP (x1) | UYCP (x2) | UYCP (x1) | ||||
Peso | Refletida: aprox. 15,8 kg (estativa do microscópio 7,4 kg) | Refletida/transmitida: aprox. 18,3 kg (estativa do microscópio 7,6 kg) | Aprox. 18,9 kg (estativa do microscópio 7,4 kg) | Aprox. 16,2 kg (estativa do microscópio 7,6 kg) | |||
Fonte de luz de FL refletida | Orientação de luz | Conjunto de luz guia U-LGPS, U-LLGAD, U-LLG150, | - | - | |||
Lâmpada de mercúrio | U-LH100HGAPO1-7, USH-103OL (x2), U-RFL-T, U-RCV Conjunto de lâmpadas de mercúrio | - | - | ||||
Objetivas | Conjunto MPLFLN | MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observação BF/DIC/POL/FL | - | - | |||
Conjunto MPLFLN BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL | - | - | ||||
Conjunto MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL | - | - | ||||
Conjunto MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL | - | - | ||||
Conjunto de IV | - | LMPLN5XIR,10XIR,LCPLN20XIR,50XIR,100XIR Observação de IV | - | ||||
Conjunto de POL | - | - | UPLFLN4XP, 10XP, 20XP, 40XP Observação de POL | ||||
Platina (X x Y) | Conjunto de 76 mm x 52 mm | U-SVRM, U-MSSP Platina com haste direita coaxial/76 mm (X) × 52 mm (Y), com ajuste de torque | |||||
Conjunto de 100 mm x 100 mm | U-SIC4R2, U-MSSP4 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/100 mm (X) x 100 mm (Y), com mecanismo de bloqueio no eixo Y | ||||||
Conjunto de 100 mm x 100 mm (G) | U-SIC4R2, U-MSSPG Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/150 mm (X) × 100 mm (Y), com mecanismo de bloqueio no eixo Y (placa de vidro) | ||||||
Conjunto de 150 mm x 100 mm | U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/150 mm (X) × 100 mm (Y), com ajuste de torque e mecanismo de bloqueio no eixo Y | ||||||
Conjunto de 150 mm x 100 mm (G) | U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/150 mm (X) x 100 mm (Y), com ajuste de torque e mecanismo de bloqueio no eixo Y (placa de vidro) | ||||||
Conjunto de POL | - | U-SRP+U-FMP Platina de polarização rotativa + platina mecânica | |||||
Opcional | Conjunto de observação MIX* | BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL | |||||
DIC* | U-DICR | ||||||
Tubos intermediários | U-CA, U-EPA2, U-TRU | ||||||
Filtros | U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR | ||||||
Filtro para condensador | 43IF550-W45, U-POT | ||||||
Prato de platina | U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65, U-WHP2 | ||||||
Suporte de espécime | U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4 | ||||||
Pega de borracha | U-SHG, U-SHGT |
*Não pode ser usado com o U-5RE-2
资源
Nota de aplicaçãoVídeoSeminário via WebManuais |