.jpg?rev=FFD6)
.jpg?rev=FFD6)
- Главная
- Решения для измерения и контроля 5G-устройств
- Быстрый анализ дефектов
Быстрый анализ дефектов
Анализ полупроводниковых пластин, используемых в высокочастотных устройствахПолупроводниковые соединения способны пропускать сигналы с высокой скоростью и под высоким напряжением, что делает их идеальными для использования в 5G устройствах. Поскольку они являются критически важными компонентами электронных устройств, крайне необходимо выполнять проверку на дефекты.
Сложности измерений полупроводниковых пластинКак правило, контроль полупроводниковых пластин на наличие дефектов выполняется с помощью металлургического микроскопа. Самой распространенной проблемой в данном случае является то, что дефект можно легко упустить из вида при смене объектива на модель с более высоким коэффициентом увеличения. | Адаптивные параметры визуализации для быстрого измерения полупроводниковой пластиныЦифровой микроскоп DSX1000 позволяет переключать режимы наблюдения (например, переключаться на режим дифференциально-интерференционного контраста) нажатием всего одной кнопки. Кроме того, механизм оптического увеличения в микроскопе обеспечивает легкий переход между макро и микро режимами, так что вы не упустите из вида ни один дефект.
Наблюдение полупроводниковой пластины в режиме ДИК:
|
Выявление остатков резиста в полупроводниковых материалахФоторезисты играют важную роль в процессе травления
Проблемы при использовании оптического микроскопаДаже при использовании оптического микроскопа остатки резиста можно не заметить. Для данной задачи важно выбрать микроскоп с правильными характеристиками. | Быстрое обнаружение остатков резистаПрямой металлографический микроскоп BX53M поддерживает наблюдение флуоресценции, представляя простое решение для выявления остатков органических резистов со светоизлучающими свойствами. Вы можете отличить остатки резиста от других загрязнений по эмиссионным характеристикам.
|
Наблюдение за состоянием формования оптических волноводовПроизводители должны подтвердить свойства оптических волноводов — компонентов, используемых в оптических коммуникациях. Поскольку оптический волновод окружен стеклом, наблюдение с помощью эпи-подсветки (отраженного света) микроскопа невозможно. Трансмиссионное освещение имеет важное значение для данного приложения.
Проблемы контроля с использованием цифрового или измерительного микроскопаОптические волноводы можно наблюдать с помощью измерительного микроскопа в режиме проходящего света или традиционного цифрового микроскопа, однако изображение может быть размытым или нечетким. | Четкое наблюдение за состоянием формованияВ комбинации с цифровой камерой микроскопа DP74 оптические характеристики прямого металлографического микроскопа BX53M и функция дифференциально-интерференционного контраста (ДИК) позволяют наблюдать и получать четкие изображения состояния формования оптического волновода. Четкое наблюдение за состоянием формования
|
Нужна помощь? |