Область применения
Станки, используемые для производства тканей для пошива одежды, оснащены огромным количеством направляющих для наматывания или направления нитей. Качество изготовления этих направляющих крайне важно, поскольку нити напрямую контактируют с ними на большой скорости. Если поверхность направляющей будет слишком грубая, нить может застрять и оборваться, или качество нити может ухудшиться из-за чрезмерного нагревания от трения. Поэтому необходимо выполнять количественный анализ шероховатости поверхности и дефектов (как микроскопических, так и более крупных царапин) на поверхности направляющих.
Направляющие изготавливаются из износостойкой керамики. Керамика имеет мелкие, но жесткие неровности на поверхности, которые сложно измерить с помощью традиционных контактных приборов для измерений шероховатости или 3D микро-измерительных машин, таких как интерферометры белого света. До недавнего времени такие микро-измерительные машины были единственными доступными инструментами для измерения шероховатости поверхности направляющих на станках для производства тканей. При этом не существовало инструментов для измерения шероховатости маленьких областей, в месте контакта с нитями.
Решение Olympus
3D лазерный сканирующий микроскоп Olympus LEXT позволяет выполнять бесконтактные измерения 3D форм с высоким разрешением и высокой точностью. Пользователи могут точно измерять шероховатость поверхности и глубину (или высоту) неровностей на поверхности. Микроскоп LEXT использует те же параметры шероховатости (двухмерной), что и микроскопы контактного типа, предоставляя эквивалентные результаты измерений. Помимо этого в микроскоп LEXT встроены параметры для измерения трехмерной шероховатости, отвечающие стандарту ISO25178, благодаря чему вы можете получать больше информации при анализе поверхности, чем при измерении линейной шероховатости, используя одновременно 3D изображения и числовые данные.
Поверхность направляющего валика
Объектив 10Х, увеличение 1Х |
Объектив 100Х, увеличение 1Х |
