1. Применение
С уменьшением размеров электронных компонентов, увеличивается плотность элементов межсоединений в полупроводниковых интегральных схемах (ИС). В настоящее время, широко используется пайка дискретных компонентов для соединения элементов микросхемы. Контроль высоты и формы проволочных петель, формируемых в процессе пайки, необходим для того, чтобы убедиться, что кристаллы ИС помещаются в корпусе толщиной всего несколько миллиметров.
2. Решение Olympus
Измерительный микроскоп STM7 Olympus – проверенное решение для измерения шага в ручном режиме. С помощью этого микроскопа можно быстро и точно измерить высоту проволочной петли, чтобы проверить правильность конфигурации устройства для соединения проводов. Лазерный автофокус микроскопа STM7 имеет очень маленький диаметр пятна 1,0 мкм, что позволяет пользователю сфокусироваться на соединительном проводе. Функция автоматической фокусировки и отслеживания позволяет измерить верхнюю точку проволочной петли при точном перемещении столика XY (Рис. 1).
Рис. 1 Микроскоп STM7 позволяет легко измерить верхнюю точку проволочной петли.
