Оценка шероховатости поверхности карт памяти

Анализ поверхности на микронном уровне с помощью лазерного микроскопа

Карта памяти

(1) Применение

Карты памяти бывают различных форматов и размеров; они используются для хранения информации в современных цифровых камерах, телефонах, записывающих устройствах и т.д. Карты вставляются в слот устройства, и от состояния поверхности карты зависит плавность ее вставления. Шероховатость поверхности карты – это важный критерий оценки качества, влияющий на ее стоимость. Контроль качества с использованием стандартных тестеров шероховатости имеет некоторые ограничения: такие тестеры требуют контакта с поверхностью и обычно измеряют высоту выступов (бугорков) шероховатости только в направлении одной оси.

(2) Решение

Лазерный сканирующий 3D микроскоп Olympus LEXT OLS5000 позволяет выполнять высокоточные измерения 3D-профиля объектов без контакта с поверхностью. Благодаря конфокальной оптической системе, пользователь получает четкие яркие изображения высокого разрешения. Система использует параметры пространственного положения и шероховатости, в соответствии с ISO 25178, обеспечивая бесконтактный метод измерения. Данный метод оценки качества больше подходит для поверхностей с нерегулярным рельефом; он предоставляют больше информации, чем стандартные тестеры, измеряющие высоту шероховатостей только в направлении одной оси. Микроскоп OLS5000 включает стандартную функцию Auto stage, которая упрощает сбор данных в нескольких точках на поверхности путем регистрации координат измерения и сшивки изображений.

Изображения