Evident LogoOlympus Logo
资源库
应用说明
返回到资源库

Измерение шероховатости поверхности шариковых подшипников с помощью лазерного конфокального микроскопа Olympus OLS5000


Предпосылка

Шариковые подшипники используются в широком спектре оборудования, где необходимо минимизировать трение во вращающихся деталях (автомобили, велосипеды, электроприборы, промышленное оборудование). Для уменьшения сопротивления, шарикоподшипники шлифуются так, чтобы их сферичность была как можно ближе к реальной сфере, а поверхности были гладкими. Шариковые подшипники обычно изготавливаются из хрома или нержавеющей стали, также они могут быть изготовлены из керамики или латуни. Для обеспечения плавной и эффективной работы, шероховатость поверхности шарикоподшипников должна быть точно измерена в процессе производства, особенно после шлифования. Неспособность обеспечить сферичность и гладкость поверхности шарикового подшипника может привести к ухудшению его характеристик.

Решения Olympus

Лазерный измерительный (3D) микроскоп LEXT Olympus позволяет проводить бесконтактные измерения шероховатости поверхности сферических объектов, обеспечивая высокую точность результатов. В отличие от обычных измерительных приборов контактного типа, LEXT позволяет легко устанавливать место замера даже на крошечном шарике. Кроме того, LEXT фиксирует измерения шероховатости шарика в виде планарного изображения и отображает данные в 3D, предоставляя полную информацию о шероховатости подшипника. Микроскоп обеспечивает отслеживаемость измеренных значений, поэтому вы можете быть уверены в точности измерений. Высокая чувствительность к углам наклона выступов означает, что даже незначительная неровность поверхности будет точно зафиксирована.

Характеристики продукта

Микроскоп LEXT Olympus использует для исследования поверхности лазерный луч. Мощное программное обеспечение создает и записывает 3D-измерения шероховатости поверхности со сверхвысоким разрешением и исключительной точностью. Микроскоп LEXT отличается высокой чувствительностью к углам наклона профиля, обеспечивая точность измерения объектов со сложным рельефом поверхности.

Изображение

3D-измерения поверхности шарикового подшипника до 01 3D-измерения поверхности шарикового подшипника до 02

3D-измерения поверхности шарикового подшипника до 03

До шлифования

3D-измерения поверхности шарикового подшипника после 01 3D-измерения поверхности шарикового подшипника после 02

3D-измерения поверхности шарикового подшипника после 03

После шлифования

Рис. 1: 3D-измерения поверхности шарикового подшипника: До (слева) и После (справа) шлифования с использованием LEXT

Olympus IMS

应用所使用的产品

具有出色精度和光学性能的LEXT™OLS5100激光扫描显微镜配备了让系统更加易于使用的智能工具。其能够快速高效完成亚微米级形貌和表面粗糙度的精确测量任务,既简化了工作流程又能让您获得可信赖的高质量数据。

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country