Evident LogoOlympus Logo
资源库
应用说明
返回到资源库

Выбор наилучшего режима распространения для отражателя с помощью инструмента моделирования AIM в рамках TFM-контроля (метод общей фокусировки)


Метод общей фокусировки (TFM) в неразрушающем контроле (НК)

Метод общей фокусировки (TFM) был встречен с большим энтузиазмом в сфере неразрушающего контроля (НК). Но есть еще некоторые трудности, которые предстоит решить при работе в режиме TFM, например, выбор соответствующего режима распространения (группы волн) в конкретном случае. Пользователи данного метода быстро поняли, что использование неправильного режима может означать полную потерю сигнала дефекта на экране, и соответственно, привести к негативным последствиям.

Трудности при выборе настроек в режиме TFM

При выборе режима распространения (группы волн), контролер должен знать, какие типы дефектов могут возникнуть в данном объекте контроля. Тип дефекта дает некоторую информацию об ориентации отражателя, что очень важно при выполнении ультразвукового контроля (УЗК). Будь то традиционный УЗК, УЗК с применением ФР или TFM-метод, основной принцип остается тем же. Вероятность обнаружения (POD) наиболее высока, когда угол падения проходящего акустического луча равен углу отражения от известного дефекта. Еще один главный фактор – параметры преобразователя. В зависимости от используемого преобразователя, акустические волны могут не достигать целевого дефекта с заметной амплитудой. Даже если зона TFM обозначена в определенном месте, вполне возможно, что физические свойства не позволят данному конкретному ПЭП сфокусироваться глубоко в объекте. Так много факторов, которые нужно учесть! Как же упростить контроль и гарантировать точность результатов?

Режимы распространения волн

Режимы, используемые для получения изображений боковых отверстий (SDH).

Аналогичное расположение ПЭП

Режим TT
ТТ
Режим TTT
TTT
Режим LLL
LLL

Рис. 1: Режимы, используемые для получения изображений боковых отверстий (SDH). В данном случае, образец очень толстый, а самотандемные режимы (TTT и LLL) малоприспособлены.

Решение с использованием карты акустического воздействия

Дефектоскоп OmniScan® X3 на фазированных решетках предоставляет возможность создания плана сканирования. План сканирования включает карту акустического воздействия (AIM), специально разработанную для TFM-контроля. Инструмент AIM позволяет выбрать необходимый режим распространения УЗ, или группу волн, для выполнения контроля.

План сканирования OmniScan X3 в режиме TFM с отображением карты акустического воздействия (AIM)

Рис. 2: План сканирования OmniScan X3 в режиме TFM: карта акустического воздействия, сгенерированная для ПЭП, призмы и эталонного образца, представленного на Рис. 1. Он определяет охват сканирования и показывает значение индекса чувствительности (41.42) для группы волн ТТ. Полученное TFM-изображение также представлено на Рис. 1 (слева). Светло-оранжевый квадрат на тепловой карте выше представляет зону TFM (область интереса, которая определяется пользователем).

Группа волн TTTГруппа волн LLL

Рис. 3: Модели AIM, определяющие охват сканирования и чувствительность для групп волн TTT и LLL в режиме самотандема, с соответствующими значениями индекса чувствительности (13.89 для группы волн TTT и 2.18 для группы волн LLL). Они соответствуют TFM-изображениям, представленным на Рис. 1 (в центре и справа) для групп волн TTT и LLL.

Инструмент моделирования AIM учитывает несколько параметров, – включая преобразователь и призму, скорость звука, толщину, геометрию образца, метод контроля, группы волн и, конечно, параметры, введенные контролером в меню «Зона влияния» – для описания целевого типа дефекта.

Ориентация дефекта является основным фактором, влияющим на эффективность его обнаружения УЗ-лучом. Модель AIM наглядно демонстрирует пользователю зону покрытия под определенным углом для конкретного отражателя.

Использование карты акустического воздействия (AIM) для определения наилучшего режима распространения

Пользователь настраивает зону интереса, а затем вводит предполагаемую ориентацию дефекта (в градусах) или выбирает «всенаправ.» для дефектов, размеры которых меньше длины ультразвуковой волны (таких как, пористость или другие небольшие объемные дефекты).

Цветовая палитра четко определяет показатели чувствительности для каждого участка зоны влияния. Каждый цвет охватывает диапазон в три децибела, указывая на ультразвуковой эхо-сигнал относительно максимальной амплитуды:

Цветовая палитра определяет показатели чувствительности для каждого участка зоны влияния.

 

flaw adjusted −5 degrees

flaw adjusted −15 degrees

flaw adjusted −25 degrees

Рис. 4: Три снимка плана сканирования, отображающие изменения в AIM, по мере регулирования ориентации дефекта в пределах –5, –15 и –25 градусов.

Значение индекса чувствительности

Важно отметить, что действительное значение каждого цвета варьируется от одной карты к другой. Это связано с тем, что диапазон децибел цветов в каждом моделировании AIM измеряется в обратном направлении от прогнозируемой максимальной амплитуды после нормализации.

Для сравнения AIM-карт друг с другим, используется индекс чувствительности (SI). Значение SI выражается в произвольных единицах и представляет собой максимальную чувствительность, прогнозируемую для всей карты данной группы волн до нормализации.

Как вы можете видеть на картах (Рис. 2 и 3), значения индекса чувствительности следующие:

  • 41,42 для группы волн TT
  • 13,89 для группы волн TTT
  • 2,18 для группы волн LLL

Если посмотреть на тепловые карты на Рис. 2 и 3, четко видно, что прогнозируемый охват сканирования для группы волн TTT недостаточен в зоне TFM (оранж. прямоугольник), тогда как группы волн LLL и TT кажутся одинаково хорошими вариантами. На обеих картах, красные и оранжевые области обеспечивают достаточный охват зоны TFM.

Однако, при сравнении показаний индекса чувствительности карт TT и LLL (41,42 vs 2,18 соответственно), мы видим, что чувствительность красных и оранжевых зон на карте волн TT в 19 раз выше, чем на карте волн LLL.

Чем выше прогнозируемая чувствительность, тем лучше ожидаемое отношение сигнал-шум (JCI) для данных зон при контроле TFM.

Преимущества карты акустического воздействия (AIM) для TFM

В представленном здесь примере, сравнив AIM-карты трех групп волн (TT, LLL и TTT), мы можем предсказать, что группа волн TT обеспечит наилучшее покрытие зоны TFM с самой высокой чувствительностью. Изображения TFM (Рис. 1), полученные с помощью соответствующих групп волн, показывают, что карта AIM позволила правильно смоделировать возможности визуализации для выявления дефектов в образце. Инструмент моделирования AIM устраняет все сомнения относительно выбора режима распространения TFM.

TFM открывает новые многообещающие возможности в области производственного контроля, но без надлежащего инструмента моделирования сложно предсказать акустический охват и уровень чувствительности. Возможность создания плана сканирования в дефектоскопе OmniScan X3, а также карта акустического воздействия AIM позволяют контролеру с уверенностью выбрать нужный режим TFM.

Подробнее о преимуществах TFM для УЗК ФР см. в примечании по применению «Использование метода общей фокусировки (TFM) для лучшей визуализации дефектов при ФР-контроле

Инструмент моделирования AIM — при настройке значения угла отражателя модель AIM меняется соответственно
Olympus IMS

应用所使用的产品
Дефектоскоп серии OmniScan™ X3 представляют собой полностью укомплектованное решение УЗК ФР. Инновационный TFM и расширенные возможности фазированной решетки позволяют с уверенностью выявлять любые дефекты, тогда как мощные программные средства и простые рабочие процессы улучшают производительность.
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country