«Информация о технологиях и оборудовании микроскопии есть везде, но нужно время, чтобы найти новую информацию, которая может помочь мне в работе». Это то, что мы часто слышим от многих специалистов по метрологии, как в академических кругах, так и в промышленности, и это является основным препятствием для поиска информации по конкретным задачам.
Компания Olympus имеет долгую историю поставок оборудования для микроскопии и метрологии. Мы знаем, что конкретная настройка для одной области исследований может не подходить для другой. Принцип универсальности применяется редко.
Чтобы позволить специалистам различных областей быстро и легко находить полезный контент для своего приложения, мы объединились с научным издателем Wiley для создания платформы Advanced Optical Metrology — бесплатного ресурсного онлайн-центра с новейшей информацией по метрологии.
Вот четыре способа использования платформы:
1. Доступ к новым электронным книгам по вашему приложению
Мы постоянно добавляем на платформу новые электронные книги: тщательно отобранные сборники статей, написанные экспертами из научных и промышленных кругов. Вот пример доступной на платформе электронной книги, посвященной аддитивному производству. Другие освещаемые темы включают тонкие пленки, датчики и шероховатость поверхности.
2. Обзор различных методов метрологии — Глоссарий
Чтобы получить обзор различных методов метрологии и отраслевых технологий, перейдите в раздел Глоссарий. Здесь вы подробно узнаете о таких методах, как конфокальная лазерная сканирующая микроскопия, стереолитография и электронно-лучевая плавка, а также найдите сопутствующие ресурсы.
3. Участие в исследованиях и сотрудничество с коллегами
Наша платформа предназначена не только для поиска информации. Мы призываем всех, у кого есть интересные данные или методы, делиться своими идеями. Это отличный способ сотрудничества с научно-исследовательским сообществом и возможность внести свой вклад в науку.
Присоединяйтесь к Olympus LINKS, нашей сети академических и промышленных центров, чтобы делиться исследованиями и сотрудничать с коллегами в области метрологии.
4. Советы экспертов по созданию и публикации научного контента
Помимо научного контента, на платформе вы найдете практические советы по созданию и публикации своих работ. Платформа предоставляет полезные ресурсы для создания ценного контента, который найдет отклик у профессионалов в вашей области.
Откройте для себя платформу Advanced Optical Metrology
Готовы самостоятельно изучить платформу? Перейдите на advancedopticalmetrology.com, зарегистрируйтесь бесплатно и загрузите необходимые вам ресурсы.
См. также
Вебинар: 5 вещей, которые необходимо знать о метрологии поверхностей
