Evident LogoOlympus Logo
洞见博客

Управление контролем качества на производстве электроники с помощью программного обеспечения PRECiV™

作者  -
Полупроводниковая пластина, которую держит технический специалист в стерильной спецодежде и перчатках в производственном помещении
  • Производители полупроводников и электронных компонентов используют промышленные микроскопы для контроля качества (КК). Микроскопы позволяют определять дефекты и отклонения от целевых технических характеристик, в частности:

    • некорректное расположение компонентов на печатных платах;
    • электропроводящие загрязнения на полупроводниковых пластинах, которые создают риск короткого замыкания;
    • битые пиксели на сенсорах камеры и экранах.

    Кроме того, они используются для подтверждения соответствия сложных компонентов международным стандартам. Микроскопическое исследование чипа памяти и полупроводниковой технологии в микропроцессоре необходимо для обеспечения строгого и надежного контроля.

    Инспекторы КК на рабочих станциях для микроскопических исследований в лаборатории контроля качества; в центре — полностью автоматизированный цифровой микроскоп, на котором используется программное обеспечение PRECiV

    Процесс КК может быть связан с финансовыми и временными затратами, поэтому производители постоянно ищут новые пути оптимизации используемых ими методов и увеличения эффективности. Выбор правильного программного обеспечения для управления микроскопами может существенно повлиять на результат КК. Важно, чтобы программное обеспечение облегчало эксплуатацию устройства и предоставляло руководство по рабочему процессу, а также обеспечивало надежные результаты и воспроизводимые измерения вне зависимости от опыта оператора.

    Контроль расходов на КК с помощью нашего решения для тестирования полупроводников

    Программное обеспечение PRECiV™ позволяет оптимизировать контроль продукции несколькими пользователями. Оно не только обеспечивает быстрое обнаружение несоответствий, но и способствует стандартизации методов работы с микроскопом и увеличению воспроизводимости результатов. Предлагаем вам ознакомиться с 5 особенностями программного обеспечения PRECiV, которые помогут вам управлять расходами на КК.

    1. Простота в использовании и быстрое обнаружение дефектов

    Простой и понятный интерфейс программного обеспечения облегчает процесс получения изображения с помощью микроскопа и запись данных даже для неопытных пользователей. Посмотрите, как легко делать снимки в высоком разрешении и исследовать их с помощью функций улучшения изображения в реальном времени программного обеспечения PRECiV, в частности настроек расширенного динамического диапазона (HDR) и функции устранения ореола:

    Базовые и продвинутые инструменты 2D-измерения

    Программное обеспечение PRECiV предоставляет инспекторам КК прямой доступ к комплекту различных инструментов измерения и подсчета в режиме 2D. Это базовые инструменты для измерения дефектов, в том числе расстояния, площади, диаметра, угла и определения координат, и продвинутые функции:

    • Режим распознавания границ для быстрого определения начальной и конечной точек измерения (контрастный метод обнаружения).
    • Режим связывания объектов для повторного использования уже имеющихся измерений в несколько кликов.
    • Кнопки экспортирования результатов измерений для прямого экспорта результатов в нужном формате на общий диск.

    Измерительное программное обеспечение для микроскопов для анализа изображений полупроводников и электронных компонентов

    2. Простота комплексного исследования больших полупроводников и электроники

    Программное обеспечение PRECiV предоставляет интегрированные функции управления совместимыми микроскопами, моторизованными револьверными головками и камерами микроскопов, в том числе технологией коротковолнового инфракрасного излучения (SWIR). Функции получения изображения в реальном времени расширяют возможности визуализации и позволяют исследовать большие полупроводниковые пластины и электронные компоненты целиком.

    Автоматически сфокусированные панорамные изображения

    Возможность получать полностью сфокусированные изображения, выходящие за рамки поля зрения ручных микроскопов, — лишь один из примеров, демонстрирующих оптимизацию функций измерения, которую обеспечивает PRECiV. С помощью моторизованных микроскопов пользователь также может использовать режим мгновенной съемки и активировать нажатием кнопки следующие автоматические функции:

    • Функция расширенного фокального изображения (EFI): получение серии изображений в разных фокальных плоскостях и создание единого полностью сфокусированного изображения.
    • Панорама: позволяет перемещать столик с образцом, а затем соединяет полученные снимки в одно большое изображение.
    • Панорама и EFI: панорамное изображение создается автоматически параллельно с перемещением столика. Цветная рамка обозначает качество изображения. Если изображение не в фокусе, пользователь может изменить фокус в любое время.

    Посмотрите, как сделать следующее:

    Использовать одновременно функции EFI и панорамной съемки для получения больших, полностью сфокусированных изображений.

    Различные опции наблюдения для контроля полупроводников по всей высоте

    Благодаря удобному пользовательскому интерфейсу PRECiV, даже инспекторы с минимальной подготовкой могут получать и анализировать изображения с помощью методов светлого поля, темного поля, MIX (направленного темного поля), поляризации и дифференциально-интерференционного контраста (ДИК). С помощью интегрированной функции управления SWIR-камерами сторонних производителей программное обеспечение также позволяет пользователям проверять оптические компоненты с покрытием в пределах диапазона длины волны SWIR.

    3. Оптимизация рабочего процесса измерения материалов

    Для стандартизации и повышения эффективности контроля программное обеспечение PRECiV предоставляет специальный рабочий процесс для материалов. Пользователям, независимо от их опыта, указанные этапы покажутся четкими и простыми:

    • Ручные измерения удобно использовать, и их можно загрузить при измерении серии записанных изображений.
    • Комплексные ручные измерения осуществляются с помощью вспомогательных инструментов и функции автоматического распознавания границ, обеспечивающей достоверное измерение между двумя точками.*
    • Этапы рабочего процесса в специальных дополнительных решениях (например, распределение частиц, фазовый анализ) включают рекомендации, обеспечивающие высокую воспроизводимость измерений.

    2D-измерения полупроводникового чипа с помощью программного обеспечения PRECiV для промышленных микроскопов

    *Доступно в PRECiV Pro и PRECiV Desktop.

    4. Увеличение эффективности за счет широких возможностей подключения

    С помощью рабочих станций PRECiV команда КК может оптимизировать и стандартизировать процедуры путем предоставления доступа к данным и настройкам по сети:

    • Сохраняйте и загружайте условия визуализации вместе с каждым файлом данных изображения (включая информацию о калибровке), которые сохраняются в заголовках файлов изображений (JPEG).
    • Сохраняйте параметры измерения, файлы и другие настройки (обработки, решения для материалов, аннотации и т. д.), чтобы впоследствии воспроизвести их на любой рабочей станции PRECiV.
    • Определяйте права доступа, чтобы только авторизованные пользователи могли изменять параметры системы.

    5. Обеспечение систематического выполнения требований разными пользователями

    Программное обеспечение PRECiV поддерживает многопользовательскую среду, соответствующую требованиям безопасности и Fabs. Оно предоставляет автоматические функции, обеспечивающие соответствие всех калибровок микроскопов и измерений международным регламентам, а также исключение ошибок операторов.

    • Проверка калибровки оптической цепи с помощью калибровки методом автоматического увеличения и откалиброванного микрометра с доступной для отслеживания шкалой.
    • Комплект решений для материалов, содержащий инструкции для каждого этапа процесса — от получения изображения до экспорта отчетов, соответствующих международным стандартам.
    • Возможность экспортировать все результаты анализа измерений в файл Excel (прямое сохранение в файл) или прямо в отчет.

    Программное обеспечение PRECiV — это модульное решение, которое можно расширять в соответствии с будущими потребностями. Посетите сайт www.olympus-ims.com/microscope/preciv/ и ознакомьтесь с разными доступными пакетами программ или обратитесь к вашему местному представителю Olympus для получения дополнительной информации.

    См. также

    Ускорьте анализ изображений в металлургии, используя эту простую настройку

    Видео: Презентация программного обеспечения PRECiV™ для анализа изображений

    Скачайте брошюру: PRECiV™: легкое управление микроскопом


    Обратная связь

Product Manager, Industrial Equipment

Christina Hesseling is experienced in product management of system and software solutions involving applied optics, microscopy, computer science, and robotics. From 2020–2023, Christina was a product manager for materials science and industrial equipment at the EVIDENT Technology Center Europe. She enjoys working with researchers and engineers in academia and industry from around the world.   

四月 14, 2022
Sorry, this page is not available in your country
InSight Blog Sign-up
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country