Производители полупроводников и электронных компонентов используют промышленные микроскопы для контроля качества (КК). Микроскопы позволяют определять дефекты и отклонения от целевых технических характеристик, в частности:
- некорректное расположение компонентов на печатных платах;
- электропроводящие загрязнения на полупроводниковых пластинах, которые создают риск короткого замыкания;
- битые пиксели на сенсорах камеры и экранах.
Кроме того, они используются для подтверждения соответствия сложных компонентов международным стандартам. Микроскопическое исследование чипа памяти и полупроводниковой технологии в микропроцессоре необходимо для обеспечения строгого и надежного контроля.
Процесс КК может быть связан с финансовыми и временными затратами, поэтому производители постоянно ищут новые пути оптимизации используемых ими методов и увеличения эффективности. Выбор правильного программного обеспечения для управления микроскопами может существенно повлиять на результат КК. Важно, чтобы программное обеспечение облегчало эксплуатацию устройства и предоставляло руководство по рабочему процессу, а также обеспечивало надежные результаты и воспроизводимые измерения вне зависимости от опыта оператора.
Контроль расходов на КК с помощью нашего решения для тестирования полупроводников
Программное обеспечение PRECiV™ позволяет оптимизировать контроль продукции несколькими пользователями. Оно не только обеспечивает быстрое обнаружение несоответствий, но и способствует стандартизации методов работы с микроскопом и увеличению воспроизводимости результатов. Предлагаем вам ознакомиться с 5 особенностями программного обеспечения PRECiV, которые помогут вам управлять расходами на КК.
1. Простота в использовании и быстрое обнаружение дефектов
Простой и понятный интерфейс программного обеспечения облегчает процесс получения изображения с помощью микроскопа и запись данных даже для неопытных пользователей. Посмотрите, как легко делать снимки в высоком разрешении и исследовать их с помощью функций улучшения изображения в реальном времени программного обеспечения PRECiV, в частности настроек расширенного динамического диапазона (HDR) и функции устранения ореола:
Базовые и продвинутые инструменты 2D-измерения
Программное обеспечение PRECiV предоставляет инспекторам КК прямой доступ к комплекту различных инструментов измерения и подсчета в режиме 2D. Это базовые инструменты для измерения дефектов, в том числе расстояния, площади, диаметра, угла и определения координат, и продвинутые функции:
- Режим распознавания границ для быстрого определения начальной и конечной точек измерения (контрастный метод обнаружения).
- Режим связывания объектов для повторного использования уже имеющихся измерений в несколько кликов.
- Кнопки экспортирования результатов измерений для прямого экспорта результатов в нужном формате на общий диск.
2. Простота комплексного исследования больших полупроводников и электроники
Программное обеспечение PRECiV предоставляет интегрированные функции управления совместимыми микроскопами, моторизованными револьверными головками и камерами микроскопов, в том числе технологией коротковолнового инфракрасного излучения (SWIR). Функции получения изображения в реальном времени расширяют возможности визуализации и позволяют исследовать большие полупроводниковые пластины и электронные компоненты целиком.
Автоматически сфокусированные панорамные изображения
Возможность получать полностью сфокусированные изображения, выходящие за рамки поля зрения ручных микроскопов, — лишь один из примеров, демонстрирующих оптимизацию функций измерения, которую обеспечивает PRECiV. С помощью моторизованных микроскопов пользователь также может использовать режим мгновенной съемки и активировать нажатием кнопки следующие автоматические функции:
- Функция расширенного фокального изображения (EFI): получение серии изображений в разных фокальных плоскостях и создание единого полностью сфокусированного изображения.
- Панорама: позволяет перемещать столик с образцом, а затем соединяет полученные снимки в одно большое изображение.
- Панорама и EFI: панорамное изображение создается автоматически параллельно с перемещением столика. Цветная рамка обозначает качество изображения. Если изображение не в фокусе, пользователь может изменить фокус в любое время.
Посмотрите, как сделать следующее:
Использовать одновременно функции EFI и панорамной съемки для получения больших, полностью сфокусированных изображений.
Различные опции наблюдения для контроля полупроводников по всей высоте
Благодаря удобному пользовательскому интерфейсу PRECiV, даже инспекторы с минимальной подготовкой могут получать и анализировать изображения с помощью методов светлого поля, темного поля, MIX (направленного темного поля), поляризации и дифференциально-интерференционного контраста (ДИК). С помощью интегрированной функции управления SWIR-камерами сторонних производителей программное обеспечение также позволяет пользователям проверять оптические компоненты с покрытием в пределах диапазона длины волны SWIR.
3. Оптимизация рабочего процесса измерения материалов
Для стандартизации и повышения эффективности контроля программное обеспечение PRECiV предоставляет специальный рабочий процесс для материалов. Пользователям, независимо от их опыта, указанные этапы покажутся четкими и простыми:
- Ручные измерения удобно использовать, и их можно загрузить при измерении серии записанных изображений.
- Комплексные ручные измерения осуществляются с помощью вспомогательных инструментов и функции автоматического распознавания границ, обеспечивающей достоверное измерение между двумя точками.*
- Этапы рабочего процесса в специальных дополнительных решениях (например, распределение частиц, фазовый анализ) включают рекомендации, обеспечивающие высокую воспроизводимость измерений.
*Доступно в PRECiV Pro и PRECiV Desktop.
4. Увеличение эффективности за счет широких возможностей подключения
С помощью рабочих станций PRECiV команда КК может оптимизировать и стандартизировать процедуры путем предоставления доступа к данным и настройкам по сети:
- Сохраняйте и загружайте условия визуализации вместе с каждым файлом данных изображения (включая информацию о калибровке), которые сохраняются в заголовках файлов изображений (JPEG).
- Сохраняйте параметры измерения, файлы и другие настройки (обработки, решения для материалов, аннотации и т. д.), чтобы впоследствии воспроизвести их на любой рабочей станции PRECiV.
- Определяйте права доступа, чтобы только авторизованные пользователи могли изменять параметры системы.
5. Обеспечение систематического выполнения требований разными пользователями
Программное обеспечение PRECiV поддерживает многопользовательскую среду, соответствующую требованиям безопасности и Fabs. Оно предоставляет автоматические функции, обеспечивающие соответствие всех калибровок микроскопов и измерений международным регламентам, а также исключение ошибок операторов.
- Проверка калибровки оптической цепи с помощью калибровки методом автоматического увеличения и откалиброванного микрометра с доступной для отслеживания шкалой.
- Комплект решений для материалов, содержащий инструкции для каждого этапа процесса — от получения изображения до экспорта отчетов, соответствующих международным стандартам.
- Возможность экспортировать все результаты анализа измерений в файл Excel (прямое сохранение в файл) или прямо в отчет.
Программное обеспечение PRECiV — это модульное решение, которое можно расширять в соответствии с будущими потребностями. Посетите сайт www.olympus-ims.com/microscope/preciv/ и ознакомьтесь с разными доступными пакетами программ или обратитесь к вашему местному представителю Olympus для получения дополнительной информации.
См. также
Ускорьте анализ изображений в металлургии, используя эту простую настройку
Видео: Презентация программного обеспечения PRECiV™ для анализа изображений
Скачайте брошюру: PRECiV™: легкое управление микроскопом
Обратная связь
Управление контролем качества на производстве электроники с помощью программного обеспечения PRECiV™
作者 2022年 4月 14日
-