Evident LogoOlympus Logo
洞见博客

TFM и другие преимущества дефектоскопа OmniScan X3 для специалистов НК — Отзыв клиента

作者  -

Перед официальным запуском дефектоскопа OmniScan™ X3 компания Olympus передала прибор для испытания в отдел IS Expert Institut de Soudure (группы специалистов НК, базирующейся во Франции). Отдел IS Expert контролирует разработку новых методов и средств неразрушающего контроля (НК).

Эксперт по УЗК протестировал OmniScan X3 и дал свою оценку

После проведения нескольких лабораторных тестов с OmniScan X3, Мануэль Тессье, специалист по неразрушающему контролю (УЗК/TOFD), поделился своим взглядом на новые функции X3 и какие преимущества они дают дефектоскопистам. Он особо выделил такие функции, как: метод общей фокусировки (TFM), улучшенную поддержку преобразователей DLA и DMA, а также инновационный инструмент моделирования AIM (карта акустического воздействия).

Ниже приводится выдержка из статьи, появившейся в журнале Contrôles Essais Mesures (CEM) № 69.

Контроль трубы методом общей фокусировки (TFM) с использованием дефектоскопа OmniScan X3 в научно-исследовательской лаборатории Institut de Soudure

Мануэль Тессье, специалист по НК (УЗК/TOFD), тестирующий возможности визуализации TFM дефектоскопа OmniScan X3 в лаборатории Institut de Soudure (Франция)


Мануэль Тессье, специалист по НК (УЗК/TOFD) в лаборатории Institut de Soudure (Франция) [фото любезно предоставлено журналом CEM]

«Мы смогли протестировать TFM на разных образцах. Результаты убедительны.»

Мануэль Тессье, специалист в области НК (УЗК/TOFD), имел возможность первым протестировать новые функции OmniScan X3 в лаборатории Institut de Soudure. Ответы на вопросы журнала CEM см. ниже:

CEM: В Institut de Soudure вы ежедневно используете приборы OmniScan. Для каких целей?

M. Тессье: Устройства OmniScan являются для нас стандартным оборудованием. Мы ценим их за компактность, высокое качество и надежность. Все наши специалисты прошли обучение по использованию оборудования и прикладного ПО. В Institut de Soudure, мы имеем около 20 дефектоскопов такого типа. Контроль сварных швов, картирование и измерение толщины, оценка параметров дефектов, выявление различных типов повреждений: наш отдел IS Expert ежедневно использует данное оборудование, как для традиционных методов контроля (с одним преобразователем), так и для полуавтоматического и автоматического контроля сварных соединений, комбинируя методики TOFD и ФР.

«OmniScan X3 предлагает интересные возможности, а в комбинации с усовершенствованными преобразователями позволяет решать довольно специфические задачи».

CEM: Как насчет специализированных преобразователей?

M. Тессье: Да, мы также используем данный дефектоскоп с преобразователями DLA (Dual Linear Array) или DMA (Dual Matrix Array). Одним из преимуществ OmniScan X3 является простота программирования датчиков данного типа. Это было менее удобно с OmniScan MX2, который был способен управлять преобразователями, но не облегчал их программирование. OmniScan X3 предлагает интересные возможности, а в комбинации с усовершенствованными преобразователями позволяет решать довольно специфические задачи; настройки фокальных законов здесь имеют существенное значение. Конфигурация параметров позволяет детализировать контроль. Встроенные преобразователи данного типа позволяют задать параметры законов фокусировки непосредственно в дефектоскопе, что было довольно затруднительно с MX2. Для меня это огромный плюс.

CEM: Что вы думаете о методе TFM, теперь доступном в OmniScan X3?

M. Тессье: TFM также приветствуется. До сих пор мы использовали другие устройства с данным режимом обнаружения дефектов, поскольку OmniScan MX2 не мог предоставить необходимые нам данные для более точного анализа. С новым OmniScan X3 больше нет необходимости в других приборах, в частности, для обнаружения HTHA-дефектов (это избавляет от скопления нескольких устройств на рабочем месте). Мы смогли протестировать TFM на разных образцах и получили убедительные результаты. Я бы также хотел протестировать мультигрупповой режим TFM, который предлагает возможность использования до четырех групп одновременно. Функция AIM (карта акустического воздействия), которой нет в других устройствах, — еще одно преимущество нового дефектоскопа. Эта функция дает возможность моделирования луча, позволяя увидеть возможные интерференции в конкретной зоне, — что не только удобно, но и является хорошим инструментом обучения.

См. также

3 способа упростить настройку с помощью инструмента построения схемы сканирования OmniScan X3

Как вы используете наше оборудование? Поделитесь своей историей!

Технический документ: Карта акустического воздействия TFM


Оставайтесь на связи
撰稿人

Sarah Williams曾在广播媒体行业担任过近十年的研究员和文案撰稿人。现在,Sarah运用其写作和编辑技能,就与Evident各种无损检测(NDT)解决方案相关的主题,创作了令人信服的高质量资料。她撰写的文章涉及最新的远程视觉、显微镜、超声波、涡流和相控阵技术。她还探讨了这些技术在改善我们周围世界的质量和安全方面的应用和贡献。Sarah在魁北克市的办公室工作,她与伴侣大卫和三个孩子Sophie、Anouk和Éloi居住在魁北克市。

三月 19, 2020
Sorry, this page is not available in your country
InSight Blog Sign-up
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country