Микроскопы для применения
в сфере производства полупроводников
- Главная
- Микроскопы для применения в сфере производства полупроводников
- Присоединение кристаллов
Присоединение кристаллов
Монтаж кристаллов на выводной рамке.
Контроль дефектов, возникших при присоединении кристаллов
Элементы установки для присоединения кристаллов иногда повреждают и царапают поверхность кристаллов ИС. Во избежание этой проблемы необходимо провести тщательный контроль для выявления причины возникновения царапин.
Наше решение
Наши микроскопы серий BX и MX позволяют оценивать дефекты на кристаллах ИС при большом увеличении.
Металлографический микроскоп серии BX | Микроскоп серии MX для анализа полупроводников | Кристалл ИС после присоединения |
Указания по применению
Подробнее об областях применения:
| |||
|
Металлографический микроскоп серии BX Запросить цену | Микроскоп серии MX для анализа полупроводников Запросить цену |
Not available in your country.
Not available in your country.