Evident LogoOlympus Logo

Микроскопы для применения
в сфере производства полупроводников

Электроиспытание

Проверка надлежащей работы полупроводниковой пластины с помощью электронного тестера, который называется зондовой измерительной установкой.

Измерение размеров отметок, оставляемых на поверхности образца измерительным зондом

В процессе электрических испытаний кристаллов ИС зонд измерительной установки царапает алюминиевую подложку кристаллов. Слишком большие царапины нарушают электропроводящие свойства алюминиевой подложки и отрицательно сказываются на качестве монтажа проволочных межсоединений. Поэтому очень важно измерять размеры этих царапин.

Наше решение

Наш цифровой микроскоп DSX1000 позволяет захватывать 3D изображения и выполнять 3D измерения, благодаря чему вы получаете точные данные о глубине и ширине царапин.

Цифровой микроскоп серии DSX

Цифровой микроскоп серии DSX

Зондовые измерительные установки

Зондовые измерительные установки

Отметка, оставляемая измерительным зондом на алюминиевой подложке

Отметка, оставляемая измерительным зондом на алюминиевой подложке

Указания по применению

Подробнее об областях применения:

Анализ рельефа схемы на образцах полупроводниковых пластин
Анализ рельефа схемы на образцах полупроводниковых пластин Подробнее
Относительная площадь области золота на спаянных поверхностях после обрыва контактной площадки
Относительная площадь области золота на спаянных поверхностях после обрыва контактной площадки Подробнее
Измерение сколов на кристаллах интегральной схемы после процесса разделения с помощью микроскопа
Измерение сколов на кристаллах интегральной схемы после процесса разделения с помощью микроскопа Подробнее
Not available in your country.
Not available in your country.
Sorry, this page is not available in your country