Evident LogoOlympus Logo

Микроскопы для применения
в сфере производства полупроводников

Проектирование ИС

Компании, занимающиеся проектированием ИС, обязательно выполняют контроль готовых изделий. Кроме того, производители кристаллов ИС проводят анализ кристаллов ИС на этапе опытного производства.
Для этого может использоваться неавтоматизированное оборудование с высокой точностью.

Анализ поверхности кристаллов ИС

Одним из важных этапов при проектировании интегральных схем (ИС) является контроль качества готовых кристаллов ИС. Кроме того, производители кристаллов ИС должны проводить анализ кристаллов ИС на этапе опытного производства. Поскольку количество исследуемых образцов не так велико, производители могут использовать неавтоматизированное оборудование с высокой точностью.

Наше решение

Наши промышленные микроскопы серий BX/MX предоставляют возможность увеличения до 1000Х, благодаря чему вы можете исследовать рельеф ИС в микронном или субмикронном диапазоне. Микроскопы серии DSX обеспечивают увеличение до 7000Х и отличаются простотой эксплуатации.

Микроскоп серии MX для анализа полупроводников

Микроскоп серии MX для анализа полупроводников

Металлографический микроскоп серии BX

Металлографический микроскоп серии BX

Цифровой микроскоп серии DSX

Цифровой микроскоп серии DSX

Указания по применению

Подробнее об областях применения:

Указания по применению — Обнаружение производственных дефектов
Обнаружение производственных дефектов на полупроводниковых пластинах с помощью цифрового микроскопа Подробнее
Измерение толщины пленки фоторезиста
Измерение толщины пленки фоторезиста Подробнее
Контроль проволочных выводов с помощью цифрового микроскопа
Контроль проволочных выводов с помощью цифрового микроскопа Подробнее

Микроскоп серии MX для анализа
полупроводников

Запросить цену

Металлографический микроскоп
серии BX

Запросить цену

Цифровой микроскоп
серии DSX

Запросить цену
Not available in your country.
Not available in your country.
Sorry, this page is not available in your country