Микроскопы для применения
в сфере производства полупроводников
Контроль внешнего вида корпуса
Для выявления дефектов эпоксидной смолы и контактных выступов необходимо осуществлять контроль внешнего вида корпуса интегральной схемы. Для этого нужен микроскоп с интуитивно простым управлением.
Наше решение
В нашем стереомикроскопе серии SZ объединены простота эксплуатации и большая глубина резкости, благодаря чему значительно упрощается процесс исследования образцов целиком.
Стереомикроскоп серии SZ | Внешний вид корпуса |
Указания по применению
Подробнее об областях применения:
|
Not available in your country.
Not available in your country.