Evident LogoOlympus Logo

Микроскопы для применения
в сфере производства полупроводников

Корпусирование

Установка кристаллов ИС с помощью эпоксидной смолы.

Контроль внешнего вида корпуса

Для выявления дефектов эпоксидной смолы и контактных выступов необходимо осуществлять контроль внешнего вида корпуса интегральной схемы. Для этого нужен микроскоп с интуитивно простым управлением.

Наше решение

В нашем стереомикроскопе серии SZ объединены простота эксплуатации и большая глубина резкости, благодаря чему значительно упрощается процесс исследования образцов целиком.

Стереомикроскоп серии SZ

Стереомикроскоп серии SZ

Внешний вид корпуса

Внешний вид корпуса

Указания по применению

Подробнее об областях применения:

Послойный анализ массива шариковых выводов
Послойный анализ массива шариковых выводов (BGA) Поверхностный монтаж полупроводникового корпуса с помощью лазерного конфокального микроскопа Olympus OLS5000 Подробнее
Not available in your country.
Not available in your country.
Sorry, this page is not available in your country