概述
Современная упрощенная микроскопияМикроскопы серии BX3M, разработанные с учетом принципа модульности, обеспечивают многофункциональность для целого ряда материаловедческих и промышленных целей. Более плавная интеграция с ПО PRECiV повышает качество цифрового изображения и упрощает рабочий процесс на всех этапах, от наблюдения до создания отчетов. Испытайте BX53M |  |
|---|
 | Выберите наиболее подходящую для вас модельШесть возможных конфигураций микроскопа BX53M позволяют выбрать комплектацию системы, максимально отвечающую всем потребностям пользователей.
Подробнее |
|---|
Удобство и простота использованияМикроскоп BX53M упрощает процесс выполнения сложных задач микроскопии благодаря оптимизированным и удобным элементам управления. Пользователям доступен весь диапазон функциональных возможностей микроскопа, которые не требуют прохождения предварительного углубленного обучения. Простой и удобный рабочий процесс BX3M также повышает воспроизводимость результатов, сводя к минимуму ошибки, вызванные человеческим фактором.
Подробнее |
|---|
 | ФункциональностьМикроскоп BX53M поддерживает стандартные методы контрастирования для традиционной микроскопии — светлое поле, темное поле, поляризованное освещение и дифференциально-интерференционный контраст. Однако по мере изобретения новых материалов становится все сложнее распознавать дефекты на образцах, используя стандартные методы контрастирования. Решить эту проблему помогают современные методики микроскопии, разработанные для проведения более точных исследований и получения достоверных результатов. Новые режимы подсветки и опции получения изображений в программном обеспечении для анализа изображений PRECiV предоставляют пользователям широкий выбор вариантов исследования образцов и формирования отчетности.
Подробнее |
|---|
Передовые оптические технологииОгромный опыт компании Olympus в разработке высокотехнологичных оптических элементов позволил довести до совершенства качество оптики и создать микроскопы, обеспечивающие непревзойденную точность выполняемых измерений.
Подробнее | Контроль аберраций волнового фронта
|
|---|
配置
Высоконадежная модульная конструкция
|
| Стандартное использование | Использование для выполнения специальных задач | |||||||||
Entry (Базовая)Простая настройка с базовыми функциями | Standard (Стандарт.)Простое использование с возможностью | Advanced (Расшир.)Поддержка ряда расширенных функций | Fluorescence (Флуоресценция)Идеально подходит для | Infrared (ИК)Для исследования интегральных схем в инфракрасном свете | Polarization (Поляризация)Для оценки характеристик двойного лучепреломления | |||||
Цветной ЖК-фильтр |
Микроструктура с ферритными |
Катушка медной проволоки |
Резист на структуре ИС |
Структура ИС с кремниевым наслоением |
Асбест | |||||
|
|
|
|
|
| |||||
См. таблицу технических характеристик
| Entry (Базовая) | Standard (Стандарт.) | Advanced (Расшир.) | Fluorescence (Флуоресценция) | Infrared (ИК) | Polarization (Поляризация) | |
| Корпус микроскопа | Отраженный или отраженный/проходящий свет | Отраженный или отраженный/проходящий свет | Отраженный | Проходящий | ||
| Стандарт. | R-BF или T-BF | R-BF или T-BF или DF | R-BF или T-BF или DF или MIX | R-BF или T-BF или DF или FL | R-BF или IR | T-BF или POL |
| Опция | ДИК | ДИК/MIX | ДИК | ДИК/MIX | － | － |
| Простой осветитель | － |  | | － | － | － |
| Обознач. апертуры | － | | | | － | |
| Аппарат. обеспечение | － | | | | － | |
| Деление шкалы фокус. | | | | | | |
| Диспетчер интенсивности освещения | | | | － | － | |
| Ручное переключение |  | | | | － | － |
| Наблюдение MIX | | | | | － | － |
| Объективы | Выбор из 3 объективов | Выбор из 3 объективов | Объективы для ИК | Объективы для ПОЛЯР | ||
| Предметный столик | Выбор одного из 5 предмет. столиков в зависимости от размера образца | Выбор одного из 5 предмет. столиков в зависимости от размера образца | Предметный столик для ПОЛЯР | |||
МЕТОД НАБЛЮДЕНИЯR-BF: светлое поле (отраженный свет) * Режим T-BF может использоваться для наблюдений в отраженном/проходящем свете.
|
Примеры конфигурация для материаловедческих задачМодульная конструкция позволяет создавать различные конфигурации в соответствии с задачей контроля |
BX53M: конфигурация с отраженным и отражен./проходящим светомВ серии BX3M представлено два типа корпусов микроскопа: один в конфигурации только для наблюдения в отраженном свете, а второй — для наблюдения в отраженном и проходящем свете. Оба микроскопа можно оснастить ручными, кодированными или моторизованными компонентами. В обоих корпусах предусмотрена защита от ЭСР для обеспечения сохранности электронных образцов. |
Пример конфигурации BX53MRF-S |
Пример конфигурации BX53MTRF-S |
|---|
 | BX53M в комбинации с ИКДля выполнения исследования, измерений и обработки полупроводников можно использовать ИК-объективы, поскольку для рассмотрения контуров на таких образцах требуется прохождение света через кремний. Инфракрасные (ИК) объективы с увеличением от 5X до 100X доступны с функцией коррекции хроматических аберраций от видимого до ближнего инфракрасного диапазона длин волн. При выполнении работ с большим увеличением вращение калибровочного кольца на объективах серии LCPLNIR помогает скорректировать аберрации, возникающие ввиду большой толщины образца. Четкое изображение можно получить, используя всего один объектив. Нажмите здесь для получения более подробной информации об ИК-объективах |
|---|
Комбинированное поляризованное освещение в BX53MОптические элементы, обеспечивающие излучение поляризованного света в микроскопе BX53M, являются идеальными инструментами для геологов для проведения высококонтрастной визуализации в поляризованном свете. Стабильная работа системы и комплекс высокоточных оптических элементов позволяют с уверенностью выполнять задачи по идентификации минералов, исследованию оптических характеристик кристаллов и анализу срезов твердых пород. |
BX53-P в конфигурации для ортоскопического наблюдения |
BX53-P в конфигурации для коноскопического/ортоскопического наблюдения |
|---|
Линза Бертрана для коноскопического и ортоскопического наблюденияС помощью насадки U-CPA для коноскопического наблюдения переключение между ортоскопическим и коноскопическим режимами наблюдения не составляет труда. Насадка имеет возможность фокусировки для получения четкой интерференционной картины задней фокальной плоскости. Диафрагма поля обзора в линзе Бертрана позволяет получить равномерно четкие и резкие коноскопические изображения. |  |
|---|
 | Широкий ассортимент компенсаторов и волновых пластинокДля проведения измерений двойного лучепреломления в тонких срезах твердых пород и минералов доступно шесть типов компенсаторов. Уровень фазового сдвига измерения варьируется от 0 до 20 λ. Для упрощения процесса измерения и повышения контраста изображения можно использовать компенсаторы Берека и Сенармона, которые меняют уровень фазового сдвига во всем поле обзора. |
|---|
Измерительный диапазон компенсаторов
|
*R = уровень фазовой задержки |
Оптика без внутреннего напряженияБлагодаря особой конструкции и передовым технологиям производства объективы серии UPLFLN-P сводят к минимуму внутреннее напряжение линзы. Это означает более высокое значение EF, обеспечивающее непревзойденную контрастность изображения. | Нажмите здесь для получения более подробной информации об объективах UPLFLN-PНажмите здесь для получения более подробной информации об объективах PLN-P/ACHN-P |
 | Система BXFMМикроскоп BXFM может быть адаптирован под особые случаи применения или интегрирован с другими инструментами. Модульная конструкция позволяет индивидуально подбирать конфигурацию под конкретные условия с возможностью выбора из широкого ассортимента специализированных малых осветителей и крепежных кронштейнов. |
|---|
Модульная конструкция — соберите свою персональную систему |
Корпусы микроскопаДоступно два варианта корпусов микроскопа для наблюдения в отраженном свете, один из которых также предоставляет возможность проводить наблюдения в проходящем свете. Также доступен адаптер для поднятия осветителя для исследования образцов с большой высотой.
Удобные принадлежности для микроскопии
|
|
СтойкиДля проведения микроскопических исследований образцов, не помещающихся на предметном столике, осветитель и оптические элементы можно установить на стойке большего размера или закрепить на корпусе другого оборудования. BXFM в конфигурации с осветителем BX53M
BXFM в конфигурации с осветителем U-KMAS
|
|
ТубусыДля проведения микроскопической визуализации с использованием окуляров или для видеонаблюдения подбирайте тубусы в соответствии с методом визуализации и рабочей позой оператора.
|  |
ОсветителиОсветитель направляет свет на образец в зависимости от выбранного метода наблюдения. Программные интерфейсы с запрограммированными осветителями для считывания положения фильтровального куба и автоматического распознавания метода наблюдения. |  |
| Кодированная функция | Источник света | BF | DF | ДИК | POL | IR | FL | MIX | AS/FS | ||
| 1 | BX3M-RLAS-S | Фиксированный, 3 положения куба | Встроенный светодиод | ■ | ■ | ■ | ■ | － | － | ■ | ■ |
| 2 | BX3M-URAS-S | Съемный, 4 положения куба | Светодиод | ■ | ■ | ■ | ■ | － | － | ■ | ■ |
| Галоген | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | － | ■ | ■ | |||
| Ртутный/световод | ■ | ■ | ■ | ■ | － | ■ | ■ | ■ | |||
| 3 | BX3M-RLA-S | Светодиод | ■ | ■ | ■ | ■ | － | － | ■ | ■ | |
| Галоген | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | － | ■ | ■ | |||
| 4 | BX3M-KMA-S | Встроенный светодиод | ■ | － | ■ | ■ | － | － | ■ | － | |
| 5 | BX3-ARM | Механический кронштейн для проходящего света | |||||||||
| 6 | U-KMAS | Светодиод | ■ | － | ■ | ■ | － | － | ■ | － | |
| Галоген | ■ | － | ■ | ■ | ■ | － | ■ | － | |||
Источники светаИсточники освещения и источники питания для подсветки образца; следует выбирать соответствующий источник света в зависимости от метода наблюдения. |  |
Стандартная конфигурация со светодиодным источником освещения
Конфигурация с флуоресцентным источником освещения
| Конфигурация с галогенным и галоген-ИК источником освещения
|
Револьверные головкиКрепления для объективов и слайдеров. Выбираются в зависимости от количества и типа используемых объективов; с/без крепления для слайдера. |  |
| Тип | Отверстия | BF | DF | ДИК | MIX | ESD |
Количество
центрирующих отверстий | ||
| 1 | U-P4RE | Ручной | 4 | ■ | ■ | 4 | |||
| 2 | U-5RE-2 | Ручной | 5 | ■ | |||||
| 3 | U-5RES-ESD | Кодир. | 5 | ■ | ■ | ||||
| 4 | U-D6RE | Ручной | 6 | ■ | ■ | ||||
| 5 | U-D6RES | Кодир. | 6 | ■ | ■ | ||||
| 6 | U-D5BDREMC | Моториз. | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
| 7 | U-D6BDRE | Ручной | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
| 8 | U-D5BDRES-ESD | Кодир. | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| 9 | U-D6BDRES-S | Кодир. | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| 10 | U-D6REMC | Моториз. | 6 | ■ | ■ | ||||
| 11 | U-D6BDREMC | Моториз. | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| 12 | U-D5BDREMC-VA | Моториз. | 5 | ■ | ■ |
СлайдерыВыберите слайдер, чтобы улучшить традиционное наблюдение методом светлого поля. Слайдер ДИК предоставляет топографические сведения об образце с возможностью максимального увеличения контрастности или разрешения. Слайдер MIX предусматривает возможность гибкого освещения с помощью сегментированного светодиодного источника в темном поле. |  |
Слайдер ДИК
Слайдер MIX
| Кабель
* Только MIXR |
Блоки управления и ручные переключателиБлоки управления для обеспечения взаимодействия аппаратного обеспечения микроскопа с ПК и ручные переключатели для управления аппаратным обеспечением и вывода данных. Конфигурация BX3M-CB (CBFM)
Кабель
|
|
Предметные столикиПредметные столики и поверхности столиков для размещения образцов. Выбираются в зависимости от формы и размера образца. |  |
Конфигурация с предметным столиком 150 мм × 100 мм
Конфигурация с предметным столиком 76 мм × 52 мм
| Конфигурация с предметным столиком 100 мм × 100 мм
Другие области применения
|
Адаптеры камерыАдаптер для наблюдений посредством камеры. Выбор адаптеров зависит от требуемого поля обзора и коэффициента увеличения. Фактический диапазон наблюдения можно рассчитать по следующей формуле: фактическое поле обзора (диагональ в мм) = просматриваемое поле (номер проекции) ÷ коэффициент увеличения объектива. |  |
| Коэффициент увеличения | Регулировка центрирования | Область ПЭС изображения (номер поля) мм | ||||
| 2/3 дюйма | 1/1,8 дюйма | 1/2 дюйма | ||||
| 1 | U-TV1x-2 с U-CMAD3 | 1 | － | 10,7 | 8,8 | 8 |
| 2 | U-TV1xC | 1 | ø 2 мм | 10,7 | 8,8 | 8 |
| 3 | U-TV0.63xC | 0,63 | － | 17 | 14 | 12,7 |
| 4 | U-TV0.5xC-3 | 0,5 | － | 21,4 | 17,6 | 16 |
| 5 | U-TV0.35xC-2 | 0,35 | － | － | － | 22 |
| 6 | U-TV0.25xC | 0,25 | － | － | － | － |
ОкулярыОкуляр – элемент микроскопа, предназначенный для рассматривания оптического изображения объекта. Выбор окуляров основан на необходимом поле обзора.
|  |
Оптические фильтрыОптические фильтры преобразуют излучение при экспозиции образца в различные виды освещения. Выберите фильтр, соответствующий требованиям наблюдения. |  |
BF, DF, FL
POL, DIC
| ИК
Проходящий свет
Другие области применения
AN и PO необязательны при использовании BX3M-RLAS-S и U-FDICR |
КонденсорыКонденсоры захватывают и фокусируют проходящий свет. Используются для наблюдения в проходящем свете.
|  |
Зеркальные модулиЗеркальный модуль для BX3M-URAS-S. Выберите модуль для проведения необходимого наблюдения.
* Только для коаксиального эпископического освещения |  |
Промежуточные тубусыРазличные типы принадлежностей для разнообразных целей. Для установки между тубусом и осветителем.
|  |
Объективы UIS2Объективы используются для увеличения образца. Выберите объектив, соответствующий фокусному расстоянию, разрешающей способности и методу наблюдения для выполнения конкретной задачи. Нажмите здесь для получения более подробной информации об объективах UIS2 |
简单易用
Традиционные методики наблюдения стали еще доступнее:
|
|---|
 |
Интуитивно понятные элементы управления микроскопом:
|
|---|
Быстрая фокусировкаДеление шкалы фокусировки на корпусе обеспечивает быстрый поиск фокусной точки. Оператор может приблизительно настроить фокусную точку, не глядя на образец через окуляр, что позволяет экономить время при проведении контроля образцов, имеющих перепады высоты. |  |
|---|
 |  | Простота эксплуатации и надежность работыЭргономичная конструкция системы обеспечивает высокую эффективность ее работы. Используете ли вы автономную конфигурацию микроскопа или конфигурацию с интегрированным ПО для анализа изображений PRECiV, вам в любом случае будут доступны удобные элементы ручного управления, которые имеют четкое обозначение местоположения модулей аппаратного обеспечения. Удобно расположенные рукоятки позволяют пользователю всецело сосредоточиться на образце и важном процессе исследования. |
|---|
Обеспечение стабильности подсветки:
|  |
|---|
 |
Для восстановления настроек микроскопа:
|
|---|
功能
Невидимое становится видимым:
|  |
|---|
 | Создание максимально четких изображений: EFIФункция расширенного фокального изображения (EFI) в ПО PRECiV выполняет захват изображений образцов, высота которых выходит за пределы глубины резкости объектива, и соединяет все полученные изображения для формирования одного сверхчеткого изображения. Функция EFI может использоваться как с механическим, так и с моторизованным предметным столиком с возможностью перемещения по оси Z, и формирует карту высот для облегчения визуализации структуры образца. На рабочем столе ПО PRECiV EFI-изображение можно сформировать даже в автономном режиме. |
|---|
Точный захват светлых и темных зон: HDRС помощью усовершенствованной технологии обработки изображений функция расширенного динамического диапазона (HDR) корректирует перепады яркости на изображении для устранения бликов. HDR повышает визуальное качество цифровых изображений, способствуя таким образом созданию более профессиональных отчетов. |  Четкая видимость как темных, так и светлых участков в режиме HDR (образец: головка топливной форсунки) |  Усиление контраста в режиме HDR |
|---|
 Изображение монеты, полученное с помощью функции MIA | Формирование панорамного изображения при перемещении предметного столика: функция мгновенного создания панорамы MIAВы можете быстро и без лишних усилий получить сшитое изображение, двигая механический предметный столик с помощью рычажков перемещения по осям XY; наличие предметного столика с электроприводом больше не обязательно. ПО PRECiV использует технологию распознавания контуров для формирования панорамного изображения, обеспечивая более широкое поле обзора по сравнению с однокадровым режимом. |
|---|
Разнообразие возможностей измерения |
Функции рутинных или базовых измеренийВ PRECiV доступны разнообразные измерительные функции, позволяющие пользователю с легкостью получать необходимые данные по изображениям. Функции выполнения измерений по изображениям зачастую необходимы при проведении контроля качества и итоговой проверки. Лицензии на ПО PRECiV всех уровней включают в себя интерактивные функции измерения такие как расстояние, углы, треугольники, окружности, эллипсы и многоугольники. Все измеренные результаты сохраняются вместе с файлами изображений для последующего внесения в отчет. |  |
|---|
 | Подсчет и измерениеОбнаружение объектов и измерение размерного распределения являются одними из самых важных направлений в цифровой визуализации. ПО PRECiV имеет механизм обнаружения, функционирующий по методу определения границ, для надежной дифференциации объектов (например, частиц, царапин) от фоновой поверхности. |
|---|
Решения для материаловеденияПО PRECiV имеет понятный интерфейс, ориентированный на оптимизацию рабочего процесса для комплексного анализа изображений. Большую часть задач по анализу изображений можно выполнить одним нажатием кнопки. При этом гарантируется их быстрое и точное выполнение в соответствии с наиболее широко применимыми промышленными стандартами. Благодаря значительному уменьшению длительности обработки повторяющихся задач специалисты по материаловедению могут посвятить больше времени аналитической и исследовательской работе. В любое время доступно использование модульных расширений для анализа включений и построения графиков для отсекаемого отрезка. |  |
|---|
 3D-вид поверхности (образец шероховатости поверхности) |  Отдельный вид и измерение 3D профиля | Измерение трехмерных образцовПри использовании внешнего электроприводного механизма следящей фокусировки функция EFI может быстро выполнить захват и отображение трехмерных изображений. Полученные данные о высоте могут использоваться для трехмерных измерений профиля или одноплоскостного изображения. Поддержка запланирована в PRECiV 1.2. |
|---|
Подробнее о PRECiV |
Возможность исследования большего разнообразия типов и размеров образцовНовый предметный столик 150 х 100 мм имеет больший диапазон перемещения по оси Х в сравнении с предыдущими моделями. Эта особенность вкупе с плоской поверхностью позволяют размещать на столике более крупные образцы или несколько образцов одновременно. На плоскости предметного столика имеются резьбовые отверстия для закрепления держателя образца. Увеличенная площадь предметного столика обеспечивает возможность исследовать большее количество разных типов образцов, позволяя сэкономить свободное пространство в лаборатории. Возможность настройки значения крутящего момента предметного столика способствует более точному позиционированию при большом увеличении в узком поле обзора. |
Адаптивность под образцы различной высоты и массыС помощью дополнительного модульного блока на предметном столике можно разместить образец высотой до 105 мм. А благодаря усовершенствованному механизму фокусировки микроскоп способен выдержать общий вес до 6 кг (вес образца + вес предметного столика). Один микроскоп BX53M позволяет исследовать более крупные и тяжелые образцы, что устраняет необходимость установки в лаборатории большого количества оборудования. Разместив поворотный держатель для 6-дюймовых полупроводниковых пластин со смещением от центра, пользователь может наблюдать всю поверхность пластины, всего лишь вращая держатель при перемещении предметного столика в диапазоне 100 мм. Настройка крутящего момента предметного столика оптимизирована для максимальной простоты использования, а эргономичная рукоятка упрощает процесс поиска области интереса на образце. |  BX53MRF-S |
|---|
 BXFM | Адаптивность под размер образцаДля случаев, когда необходимо исследовать образец, слишком крупный для стандартного предметного столика микроскопа, доступна модульная конфигурация основных оптических компонентов, используемых для отражательной микроскопии. Модульная конструкция микроскопа BXFM позволяет установить его на подставке большего размера с помощью специальной стойки или закрепить на другом инструменте с помощью крепежного кронштейна. Таким образом, пользователи могут получить все преимущества зарекомендовавших себя оптических технологий Evident для исследования даже уникальных по размеру или форме образцов. |
|---|
Защита электронных компонентов от электростатического разряда: устойчивость к ЭСРМикроскоп BX53M оснащен средствами гашения ЭСР, что помогает защитить электронные компоненты от статического электричества, исходящего от человека или окружающей среды. |
图像清晰
Богатый опыт создания передовых оптических технологий |
Сочетание высокой числовой апертуры и большого рабочего расстоянияОбъективы имеют решающее значение для работы микроскопа. |
|
|
Подробнее об объективах MXPLFLN |
Превосходные оптические характеристики:
|  Искаженный волновой фронт |  Правильный волновой фронт (объектив UIS2) |
|---|
 Галогенное освещение: цвет изменяется в зависимости от световой интенсивности. |  Светодиодное освещение: цвет остается неизменным при изменении световой интенсивности, изображение более четкое, чем при галогенном освещении. |
Постоянная цветовая температура:
|
|---|
Превосходное качество для максимальной эффективности |
Поддержка функций точных измерений:
|  |
|---|
 Полупроводниковая пластина (бинаризованное изображение): |
Бесшовное совмещение:
|
|---|
Подробнее о PRECiV |
应用
Структура ИС на полупроводниковой пластинеРежим темного поля используется для выявления мельчайших царапин или дефектов на образце или для исследования образцов, имеющих зеркальные поверхности, например, полупроводниковых пластин. В режиме смешанного освещения (MIX) пользователь может исследовать фактуры и цвета образцов. |
MIX (светлое поле + темное поле) |
Темное поле |
|---|
Флуоресценция |
MIX (флуоресценция + темное поле) | Остаточный фоторезист на полупроводниковой пластинеРежим флуоресценции используется для образцов, которые излучают свет при их освещении с помощью специализированного фильтровального куба. Используется для обнаружения загрязнений и остаточного фоторезиста. Смешанный режим позволяет проводить исследование остаточного фоторезиста и структуры ИС. |
|---|
Цветной светодиодный фильтрТакой метод наблюдения подходит для прозрачных образцов, таких как светодиоды, пластиковые и стеклянные материалы. Смешанный режим позволяет проводить исследование цвета фильтра и рельефа съем. |
Проходящий свет |
MIX (проходящий свет + светлое поле) |
|---|
Светлое поле |
Дифференциально-интерференционный контраст (ДИК) | Чугун с шаровидным графитомДИК — это метод наблюдения, при котором возвышенности на образце отображаются в виде рельефа, аналогично 3D-изображению с улучшенным контрастом; этот метод идеально подходит для исследования образцов, имеющих минимальные перепады высот, в том числе микроструктур и минералов. |
|---|
СерицитДифференциально-интерференционный контраст (ДИК) — метод наблюдения, при котором высота образца, обычно не определяемая в светлом поле, отображается в виде рельефа, аналогично 3D-изображению с улучшенным контрастом. Идеально подходит для исследования образцов, имеющих минимальные перепады высот, в том числе микроструктур и минералов. |
Светлое поле |
Поляризованный свет |
|---|
Инфракрасный свет (ИК) | Контактные площадки на структуре ИСРежим ИК используется для выявления дефектов внутри кристаллов ИС и других устройств, выполненных из кремния, нанесенного на стекло. |
|---|
规格
ХАРАКТЕРИСТИКИ BX53M — РЕКОМЕНДУЕМАЯ КОНФИГУРАЦИЯ ДЛЯ ОБЩЕГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ |
| Entry (Базовая) | Standard (Стандарт.) | Advanced (Расшир.) | |||||||
| Оптическая система | Оптическая система UIS2 (скорректированная на бесконечность) | ||||||||
| Основной модуль | Корпус микроскопа | BX53MRF-S (Отражен.) | BX53MTRF-S (Отражен./проходящ.) | BX53MRF-S (Отражен.) | BX53MTRF-S (Отражен./проходящ.) | BX53MRF-S (Отражен.) | BX53MTRF-S (Отражен./проходящ.) | ||
| Фокус |
Ход: 25 мм
Точность хода на оборот: 100 мкм Минимальная градуировка: 1 мкм Верхний стопор, регулировка крутящего момента для рукоятки грубой настройки | ||||||||
| Макс. высота образца |
В конфигурации отраженного света: 65 мм (без разделителя) 105 мм (с BX3M-ARMAD)
В конфигурации отраженного/проходящего света: 35 мм (без разделителя) 75 мм (с BX3M-ARMAD) | ||||||||
| Тубус для микроскопии | Широкое поле обзора (FN22) | U-TR30-2-2 Инвертированный: тринокулярный | |||||||
| Метод освещения |
Отраженный свет
Проходящий свет | BX3M-KMA-S Белый светодиод, BF/DIC/POL/MIX FS, AS (с центрирующим механизмом), блокировка BF/DF | BX3M-RLAS-S Кодированный, белый светодиод, BF/DF/DIC/POL/MIX FS, AS (с центрирующим механизмом), блокировка BF/DF/DIC/POL/MIX FS, AS | ||||||
| － | BX3M-LEDT Белый светодиод Конденсоры Аббе/с длинным рабочим расстоянием | － | BX3M-LEDT Белый светодиод Конденсоры Аббе/с длинным рабочим расстоянием | － | BX3M-LEDT Белый светодиод Конденсоры Аббе/с длинным рабочим расстоянием | ||||
| Револьверная головка | U-5RE-2 Для BF: пятипозиционная | U-D6BDRE Для BF/DF: шестипозиционная | U-D6BDRES-S Для BF/DF: шестипозиционная, кодированная | ||||||
| Окуляр (FN22) | WHN10
WHN10X-H | ||||||||
| Наблюдение MIX | － | BX3M-CB Блок управления BX3M-HS Ручной переключатель U-MIXR-2 Слайдер MIX для наблюдения в отраженном свете U-MIXRCBL Кабель для MIXR | |||||||
| Конденсор (с длинным фокусным расстоянием) | － | U-LWCD | － | U-LWCD | － | U-LWCD | |||
| Кабель питания | UYCP (x1) | UYCP (x2) | |||||||
| Вес |
В конфигурации отраженного света: прибл. 15,8 кг (корпус микроскопа 7,4 кг)
В конфигурации отраженного/проходящего света: прибл. 18,3 кг (корпус микроскопа 7,6 кг) | ||||||||
| Объективы | Комплект MPLFLN | MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Наблюдение BF/POL/FL | － | ||||||
| Комплект MPLFLN BD | － | MPLFLN5XBD, 10XBD, BD, 50XBD, 100XBD Наблюдение BF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
| Комплект MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | － | MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Наблюдение BF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
| MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | － | MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Наблюдение BF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
| Предметный столик (X x Y) | 76 х 52 мм | U-SVRM, U-MSSP Коаксиальный предметный столик, рукоятка справа/76 (X) × 52 (Y) мм, возможность регулировки крутящего момента | |||||||
| 100 х 10 мм | U-SIC4R2, U-MSSP4 Большой коаксиальный предметный столик, рукоятка справа/100 (X) × 100 (Y) мм, с механизмом блокировки по оси Y | ||||||||
| 100 х 100 (G) мм | U-SIC4R2, U-MSSPG Большой коаксиальный предметный столик, рукоятка справа/100 (X) × 100 (Y) мм, с механизмом блокировки по оси Y (стеклянная пластина) | ||||||||
| 150 х 100 мм | U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Большой коаксиальный предметный столик, рукоятка справа/150 (X) × 100 (Y) мм, возможность регулировки крутящего момента, с механизмом блокировки по оси Y | ||||||||
| 150 х 100 (G) мм | U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Большой коаксиальный предметный столик, рукоятка справа/150 (X) × 100 (Y) мм, возможность регулировки крутящего момента, с механизмом блокировки по оси Y (стеклянная пластина) | ||||||||
| Опция | Комплект для наблюдения в смешанном режиме (MIX)* | BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL | － | ||||||
| ДИК* | U-DICR | ||||||||
| Промежуточные тубусы | U-CA, U-EPA2, U-TRU | ||||||||
| Фильтры | U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-POTP3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR | ||||||||
| Фильтр конденсора | 43IF550-W45, U-POT | ||||||||
| Пластина предметного столика | U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR54, BH2-WHR65, U-WHP2 | ||||||||
| Держатель образца | U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4 | ||||||||
| Каучуковая рукоятка | U-SHG, U-SHGT | ||||||||
* Не может использоваться с U-5RE-2.
БЛОКИ BX53M / BXFM ESD
| Компоненты | Корпус микроскопа | BX53MRF-S, BX53MTRF-S |
| Осветитель | BX3M-KMA-S, BX3M-RLA-S, BX3M-URAS-S, BX3M-RLAS-S | |
| Револьверная головка | U-D6BDREMC, U-D6BDRES-S, U-D6RE-ESD, U-D5BDREMC-ESD, U-5RES-ESD | |
| Предметный столик | U-SIC4R2, U-MSSP4 |
ХАРАКТЕРИСТИКИ BX53M — КОНФИГУРАЦИЯ ДЛЯ СПЕЦИАЛЬНОГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ |
| Fluorescence (Флуоресценция) | Infrared (ИК) | Polarized (Поляриз.) | |||||
| Оптическая система | Оптическая система UIS2 (скорректированная на бесконечность) | ||||||
| Основной модуль | Корпус микроскопа | BX53MRF-S (Отраженный) | BX53MTRF-S (Отраженный/проходящий) | BX53MRF-S (Отраженный) | BX53MTRF-S (Отраженный/проходящий) | ||
| Фокус |
Ход: 25 мм
Точность хода на оборот: 100 мкм Минимальная градуировка: 1 мкм Верхний стопор, регулировка крутящего момента для рукоятки грубой настройки | ||||||
| Макс. высота образца |
В конфигурации отраженного света: 65 мм (без разделителя) 105 мм (с BX3M-ARMAD)
В конфигурации отраженного/проходящего света: 35 мм (без разделителя) 75 мм (с BX3M-ARMAD) | ||||||
| Тубус для микроскопии | Широкое поле обзора (FN22) | U-TR30-2 Инвертированный: тринокулярный | U-TR30IR Инвертированный: тринокулярный для ИК-режима | U-TR30-2 Инвертированный: тринокулярный | |||
| Промежуточное крепление для поляризованного освещения (U-CPA) | Линза Бертрана | － | － | Фокусир. | |||
| Диафрагма поля обзора линзы Бертрана | － | － | ø3,4 мм (фиксир.) | ||||
| Включить или отключить переключение линзы Бертрана между ортоскопическим и коноскопическим наблюдением | － | － |
Положение слайдера ● актив.
Положение слайдера ○ деактив. | ||||
| Слот анализатора | － | － | Поворотный анализатор со слотом (U-AN360P-2) | ||||
| Освещение | Отраженный свет | ФЛ-наблюдение | BX3M-URAS-S Универсальный осветитель отраженного света, 4-х позиционная турель (стандарт: U-FWUS, U-FWBS, U-FWGS, U-FBF и т.д.) с FS, AS (с центрирующим механизмом) и затворным механизмом | － | － | ||
| ИК-наблюдение | － | BX3M-RLA-S Галогенная лампа 100 Вт для IR, BF/IR, AS (с центрирующим механизмом) U-LH100IR (включая HAL-L 12 В, 10 Вт) Галогенный источник света 100 Вт для ИК TH4-100 Источник питания 100 Вт TH4-HS Ручной переключатель U-RMT Удлинительный шнур | － | ||||
| Проходящий свет | ПОЛЯР-наблюдение | － | － | BX3M-LEDT Белый светодиод Конденсоры Аббе/с длинным рабочим расстоянием | |||
| Револьверная головка | U-D6BDRES-S Для BF/DF: шестипозиционная, запрограммированная | U-5RE-2 Для BF: пятипозиционная | U-P4RE Четырехпозиционная, с центрируемыми съемными компонентами Адаптер для пластин (U-TAD) позволяет установить четвертьволновую замедляющую фазовую пластину (U-TAD), тонирующую пластину (U-TP530) и различные компенсаторы | ||||
| Окуляр (FN22) | WHN10X | ||||||
| WHN10X-H | CROSS-WHN10X | ||||||
| Зеркальные модули | U-FDF Для DF U-FBFL Для BF, встроенный нейтральный фильтр U-FBF Для BF, съемный нейтральный фильтр U-FWUS Для УФ-FL U-FWBS Для синего-FL U-FWGS Для зеленого-FL | － | |||||
| Фильтр/Поляризатор/Анализатор | U-25FR Матовый фильтр | U-BP1100IR/U-BP1200IR Полосовые фильтры для ИК | 43IF550-W45 Зеленый фильтр | ||||
| U-POIR Слайдер поляризатора отраженного света для ИК | U-AN360IR Слайдер поворотного анализатора для ИК | U-AN360P-2 Вращение на 360° с помощью поворотного регулятора Минимальный угол вращения: 0,1° | |||||
| Конденсор | U-LWCD С длинным рабочим расстоянием | － | U-POC-2 Ахроматический конденсор без внутреннего напряжения Поворотный (360°) поляризатор с верхней ахроматической линзой открытого типа Настраиваемая фиксация в положении 0°. ЧА 0,9 (верхняя линза внутри)/ЧА 0,18 (верхняя линза снаружи) Апертурная ирисовая диафрагма: диаметр регулируется от 2 мм до 21 мм | ||||
| Слайдер/Компенсаторы | － | U-TAD Слайдер (адаптер для пластин) | |||||
| U-TP530 Окрашенная пластина U-TP137 Замедляющая пластина на 1/4 длины волны | |||||||
| Кабель питания | UYCP (x1) | UYCP (x2) | UYCP (x1) | ||||
| Вес | В конфигурации отраженного света: прибл. 15,8 кг (корпус микроскопа 7,4 кг) | В конфигурации отраженного/проходящего света: прибл. 18,3 кг (корпус микроскопа 7,6 кг) | Прибл. 18,9 кг (корпус микроскопа 7,4 кг) | Прибл. 16,2 кг (корпус микроскопа 7,6 кг) | |||
| Источник отраженного ФЛ света | Световод | Комплект световода U-LGPS, U-LLGAD, U-LLG150, | － | － | |||
| Ртутная лампа | Комплект ртутной лампыU-LH100HGAPO1-7, USH-103OL (x2), U-RFL-T, U-RCV | － | － | ||||
| Объективы | Комплект MPLFLN | MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Наблюдение BF/DIC/POL/FL | － | － | |||
| Комплект MPLFLN BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, BD, 50XBD, 100XBD Наблюдение BF/DF/DIC/POL/FL | － | － | ||||
| Комплект MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Наблюдение BF/DF/DIC/POL/FL | － | － | ||||
| MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Наблюдение BF/DF/DIC/POL/FL | － | － | ||||
| Комплект для ИК | － | LMPLN5XIR, 10XIR, LCPLN20XIR, 50XIR, 100XIR ИК-наблюдение | － | ||||
| Комплект для ПОЛЯР | － | － | UPLFLN4XP, 10XP, 20XP, 40XP ПОЛЯР-наблюдение | ||||
| Предметный столик (X x Y) | 76 х 52 мм | U-SVRM, U-MSSP Коаксиальный предметный столик, рукоятка слева/76 (X) × 52 (Y) мм, возможность регулировки крутящего момента | |||||
| 100 х 10 мм | U-SIC4R2, U-MSSP4 Большой коаксиальный предметный столик, рукоятка слева/100 (X) × 100 (Y) мм, с механизмом блокировки по оси Y | ||||||
| 100 х 100 (G) мм | U-SIC4R2, U-MSSPG Большой коаксиальный предметный столик, рукоятка справа/150 (X) × 100 (Y) мм, с механизмом блокировки по оси Y (стеклянная пластина) | ||||||
| 150 х 100 мм | U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Большой коаксиальный предметный столик, рукоятка справа/150 (X) × 100 (Y) мм, возможность регулировки крутящего момента, с механизмом блокировки по оси Y | ||||||
| 150 х 100 (G) мм | U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Большой коаксиальный предметный столик, рукоятка справа/150 (X) × 100 (Y) мм, возможность регулировки крутящего момента, с механизмом блокировки по оси Y (стеклянная пластина) | ||||||
| Комплект для ПОЛЯР | － | U-SRP+U-FMP Вращающийся предметный столик для поляризованного света + механизированный столик | |||||
| Опция | Комплект для наблюдения в смешанном режиме (MIX)* | BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL | |||||
| ДИК* | U-DICR | ||||||
| Промежуточные тубусы | U-CA, U-EPA2, U-TRU | ||||||
| Фильтры | U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-POTP3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR | ||||||
| Фильтр конденсора | 43IF550-W45, U-POT | ||||||
| Пластина предметного столика | U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR54, BH2-WHR65, U-WHP2 | ||||||
| Держатель образца | U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4 | ||||||
| Каучуковая рукоятка | U-SHG, U-SHGT | ||||||
* Не может использоваться с U-5RE-2
资源
Инструкция по применениюВидеоРуководства |
