使用双晶探头45MG测厚仪的一个主要应用是测量那些受到了腐蚀或侵蚀的管道、管子、箱体、压力容器、船体外壳及其他结构的剩余厚度。在这些应用中通常使用双晶探头。
B扫描成像(基于时间)45MG测厚仪所提供的B扫描功能,可在屏幕上将实时厚度读数转换为横截面图像。这个标准功能非常有用,因为可观察到材料的厚度值随着探头的移动而发生的变化。探头一接触到材料表面,就会激活B扫描。冻结最小值功能用于显示已扫查区域的最小厚度值。可选45MG数据记录器最多可存储单个B扫描中的10000个厚度读数。
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高温表面45MG测厚仪配上D790系列探头(D790、D790-SM、D790-RL和D790-SL),是测量高温材料(温度高达500 ºC)的理想选择,可获得稳定的厚度读数。45MG的零位补偿功能,通过补偿探头延迟块因热漂移而产生的温度变化,提高了在高温表面上进行测量的准确性。 |
回波到回波 测厚仪通过使用多重底面回波,显示不计涂层厚度的实际金属厚度:
| 穿透涂层技术
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A扫描中显示的自动回波到回波模式 | 显示涂层厚度和钢材厚度的穿透涂层模式(波形选项未被激活) |
可调整第一个回波空白的手动回波到回波模式 | 显示可选波形的穿透涂层模式 |