对塑料、金属等材料进行厚度测量

使用单晶探头可以准确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我们提供多种频率、直径和连接器样式的单晶探头。如果用户要将45MG仪器与单晶探头配合使用，则必须购买单晶软件或高穿透软件选项。

使用单晶软件选项可以完成分辨率高达0.001毫米的精确厚度测量。可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。可测量以下材料和产品：

用户使用这个选项可在使用低频单晶探头（低到0.5 MHz）的情况下，测量橡胶、玻璃纤维、铸件及复合材料等较厚或声波衰减性较强的材料。这个选项包含单晶选项。

高穿透软件选项可以对很多铸造金属部件及声波衰减性很强的材料进行测量。

应用设置调用功能简化了厚度测量操作。选择了任何一个存储的探头后，45MG测厚仪就会调出与这个探头相关的所有内置参数。

存储的标准设置

45MG仪器带有21个标准单晶探头设置，可完成常见的应用。这些默认探头设置可用于各种各样的厚度测量应用。

存储的自定义设置

45MG还可存储最多35个自定义单晶探头的设置，包括校准信息。您可以连接适当的探头，并调用设置文件，然后仪器便可进行厚度测量，甚至是在非常困难的应用中。

45MG仪器可以测量材料的声速。在材料声速与其他属性密切相关的应用中，这个标准功能非常有用。典型的应用包括监测铸造金属的球化程度，以及监测复合材料/玻璃纤维的密度变化。

缩减率测量

差值模式和缩减率模式是45MG的标准功能。差值模式显示实际厚度与预先设定的厚度值之间的差异。缩减率计算并显示材料厚度变薄以后厚度缩减的百分比。对经过弯曲变形并将制成车身面板的钢板进行的缩减率测量是一个典型的应用。

使用20 MHz延迟块探头测量薄塑料材料。

测量金属板因弯曲变形而变薄的情况。

使用V260-SM Sonopen探头对薄玻璃进行测量。

可测量包括塑料、金属、橡胶、玻璃、陶瓷及复合材料在内的很多材料的厚度。